Brevet FR2533794A1 — publié le 19840330

La présente invention concerne un dispositif de correction automatique pour rayons X, et en particulier un dispositif de correction destiné à corriger une irré- gularité de la valeur d'intensité et d'amplitude de rayons X pendant qu'un obturateur qui commande l'irradiation d'un échantillon par des rayons X est fermé L'invention concer- ne en outre un nouveau dispositif permettant de réaliser une correction effective et précise. On effectue généralement une correction de rayons X en mesurant des rayons X de fluorescence émis par un échantillon après avoir irradié par des rayons X un échan- tillon de correction Pour corriger un dispositif de façon exacte, il est nécessaire de mesurer les rayons X de fluo- rescence pendant un certain temps. Ainsi, dans un dispositif à rayons X dans lequel on effectue une correction de rayons X pendant qu'on n'ef- fectue pas de mesure sur un échantillon, c'est-à-dire pen dant qu'un obturateur est maintenu fermé, on n'effectue pas de mesure d'un échantillon tant qu'une mesure de rayons X de fluorescence dans un but de correction n'est pas terminée. L'invention vise à supprimer la difficulté et le défaut précités et, plus particulièrement, dans un cas o une mesure sur un échantillon a été commencée avant qu'une mesure de rayons X de fluorescence sur un échantillon de correction soit terminée, on mémorise des données de mesure antérieures paur l'échantillon de correction, grâce à quoi la correction d'un dispositif à rayons X est effectuée lorsqu'une durée totale de la durée de mesure de l'échantillon de correction suivant et la durée de mesure de ladite donnée de mesure dans l'échantillon de correction est nÉmnrisée En effet, selon la présente invention, l'absernce d'une durée de mesure pour un échantillon de correction est corrigée lorsque la me- sure d'un échantillon, pendant la mesure d 'un rayon X fluorescent à pr- tir d'un échantillon de correction, n'est pas effectuée. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la descrip- tion qui va suivre d'un mode de réalisation et en se référant aux dessins annexés sur lesquels La figure 1 montre la structure d'ensemble du dispositif de correction automatique de rayons X de l'in- vention, La figure 2 montre le dispositif de correction automatique de rayons X vu à partir d'une direction tour- née de 900 par rapport à celle de la figure 1, La figure 3 montre un schéma synoptique du dis- positif de correction automatique de rayons X. Sur 2 es figures, la référence 1 désigne un tube à rayons X, la référence 2 désigne une plaque de correc- tion standard, la référence 4 désigne un détecteur de rayons I, la référence 3 désigne un second passage de gui- dage destiné à guider des rayons X de fluorescence d'une plaque de correction standard vers un détecteur de rayons X, la référence 5 désigne une partie ouverte du détecteur de rayons X, la référence 6 désigne un premier passage de guidage destiné à guider des rayons X du tube à rayons X vers la plaque de correction standard, la référence 7 dé- signe un troisième passage de guidage destiné à guider des rayons X du tube à rayons X vers un échantillon de mesure, la référence 8 désigne un échantillon de mesure, la réfé- rence 9 désigne un obturateur, la référence 10 désigne un capteur de position pour l'obturateur, la référence Il désigne un analyseur d'amplitude, la référence 12 désigne un temporisateur de réglage d'échelle, la référence 13 désigne des moyens de correction automatique de rayons X et la référence 14 désigne une mémoire Le capteur de po- sition 10 de l'obturateur 9 détecte la position de l'ob- turateur et on peut placer le dispositif de correction automatique de rayons X dans un mode de correction dans lequel l'obturateur 9 arrgte l'irradiation de l'échantil- lon de mesure 8 par des rayons X Ensuite, on arrête le mode de correction par l'ouverture de l'obturateur 9 et par l'action du capteur de position 10, et on enregistre dans une mémoire une information d'intensité et d'ampli- tude des rayons X de fluorescence pendant le mode de correction Une correction réelle est exécutée lorsqueune mesure sur un échantillon est terminée et que l'obturateur est fermé et placé en mode de correction, et que la durée totale correspondant au mode de correction est devenue égale à la durée de mesure nécessaire pour une correction. En ce qui concerne l'utilisation de la mémoire, si la durée de mesure nécessaire pour une correction est de T secondes, on enregistre indépendamment dans la mémoi- re l'intensité des rayons X à chaque seconde. Il est possible d'utiliser la mémoire de la fa- çon suivante: Si la durée de mesure nécessaire pour une cor- rection est de l secondes, on enregistre indépendamment dans la mémoire l'intensité des rayons X pour une correc- tion, à chaque seconde Ainsi, on corrige le dispositif en mesurant une valeur moyenne en lf fois Il est en outre possible de corriger le dispositif en déterminant-une va- leur moyenne mobile et en effaçant uniquement les premiè- res données mesurées sans effacer toute la mémoire après la correction. Conformément à l'invention, des données de cor- rection antérieures sont mémorisées par une mémoire, ce qui permet de corriger de façQn effective un dispositif à rayons X. Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent 4 tre apportées au dispositif décrit et représenté, sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATION Dispositif de correction automatique de rayons X comprenant, en combinaison: un tube à rayons x; un collimateur destiné à collimater un faisceau de rayons X rayonné par ce tube à rayons X; un obturateur destiné à commander l'irradiation d'un échantillon par les rayons X; un détecteur de rayons X constitué par un compteur propor- tionnel ou d'autres dispositifs de détection; un analy- seur d'amplitude; un temporisateur de réglage d'échel- le; un dispositif de correction pour corriger une irrégu- larité de la valeur d'intensité et d'amplitude des rayons X; une plaque de correction standard positionnée dans l'obturateur et contre le tube à rayons X, pour corriger automatiquement une irrégularité de la valeur d'intensité et d'amplitude des rayons X pendant que l'obturateur est fermé; un premier passage de guidage ayant une forme qui correspond à celle de l'obturateur, de façon à diriger des rayons X sur la plaque de correction standard; et un second passage de guidage qui se trouve au niveau de l'ob- turateur et qui est relié au premier passage de guidage de façon à diriger vers le détecteur de rayons x des rayons X de fluorescence provenant de la plaque de correction stan- dard; caractérisé en ce qu'on mémorise dans une mémoire des données mesurées pendant la correction, et on utilise ces données en tant que données de correction secondaires lorsqu'une durée de mesure suffisante pour une correction s'est écoulée.