Brevet FR2517429A1 — publié le 19830603

La présente invention concerne un appareil accessoire pour l'exécution de mesures par réflexion à l'aide d'un spectromètre IR 9 réalisé pour des mesures par transmission et comportant des moyens optique pour la production d'un pinceau qui est focalisé dans un plan transversal, situé sur un tronçon linéaire et recevant l'échantillon à étudier en transmission, ledit appareil accessoire comprenant deux miroirs de déviation insérables de part et d'autre du plan transversal, sur le tronçon linéaire du pinceau, et deux dispositifs réflecteurs focalisateurs, dont le premier forme à l'emplacement de l'échantillon à étudier l'image réduite de la tache focale qui se trouve dans le pinceau dévié par le premier miroir de déviation, tandis que le second dispositif réflecteur focalisateur forme l'image de nouveau agrandie de la tache focale réduite à distance du second miroir de déviation, de façon que le pinceau émergeant de ce dernier se trouve dans le pro- longement du pinceau incident sur le premier miroir de déviation, coixme en l'absence de l'appareil accessoire. Les spectromètres IR sont généralement connus et comportent une source de rayonnement IR et un monochromateur ou un interféromètre bifaisceau pour produire le signal de mesure-, ainsi que des moyens optiques focalisant ce rayonnement dans un plan o un échantillon à étudier en transmission peut être disposé à l'aide d'un porte-échantil- lon Le tronçon linéaire du pinceau, qui traverse l'échantillon et diverge de nouveau derrière la tache focale, est transmis par d'autres moyens optiques à un dispositif détecteur. De nombreuses substances, devant être étudiées par spectroscopie IR, sont toutefois opaques au rayonnement IR Il est néanmoins possible d'utiliser pour de telles substances le rayonnement IR subissant une réflexion spéculaire et/ou diffuse sur leur surface La spectrométrie IR utilisant le rayonnement à réflexion diffuse est traitée dans "Analytical Chemistry", tombe 50 ( 1978), pages 1906 à 1910 Le spec- tromètre IR décrit dans cet article est réalisé spécialement pour des mesures par réflexion. Il existe toutefois un besoin d'appareils accessoires utilisables dans un spectromètre IR normal, réalisé pour l'exécution de mesures par transmission, sans modifications de ce spectromètre IR Cela sup- pose que le pinceau convergent, normalement dirigé sur l'échantillon à étudier en transmission, puisse pénétrer dans un tel appareil - accessoire et que le rayonnement IR sorte de ce dernier, après réflexion sur l'échantillon, sous forme d'un pinceau divergent qui apparaît exactement à l'emplacement du pinceau émergeant normalement de l'échantillon traversé La Société Harrick Scientific Corporation d'Ossining, N Y, Etats-Unis, commercialise un tel appareil accessoire. Les dispositifs optiques sont symétriques par rapport à un plan qui, lors de l'utilisation de l'appareil accessoire dans le spectromètre IR est amené en recouvrement avec le plan transversal dans lequel le pinceau présente une tache focale et l'échantillon à étudier en transmission est normalement disposé Un premier miroir de déviation dirige le pinceau incident sur un miroir de renvoi, disposé latéra- lement par rapport au tronçon normalement linéaire du pinceau et dirigeant ce dernier sur un miroir elliptique qui, pour réduire les dimensions de l'appareil accessoire, est disposé du c 6 té du tronçon linéaire du pinceau normalement continu, opposé au miroir de renvoi. Le miroir elliptique est constitué par un secteur d'ellipsoide tel que la tache focale du pinceau initial, qui se trouve derrière le premier miroir de déviation, donne une image réduite dans un plan perpendiculaire au plan transversal dans lequel l'échantillon à étu- dier en transmission se trouve normalement Un second miroir elliptique reçoit la lumière réfléchie par l'échantillon et la dirige par un second miroir de renvoi sur un second miroir de déviation, qui ramène le rayonnement IR sur le trajet du pinceau initial La tache focale sur la surface de l'échantillon est projetée avec agrandissement en un point situé devant le second miroir de déviation, de façon que le pinceau émergeant de l'appareil additionnel semble présenter une tache focale dans le plan transversal précité pour l'échantillon à étudier en transmission. Cet appareil accessoire connu est très coûteux, car il utilise des réflecteurs elliptiques dont la production exige un travail extrê- mement soigné, car il s'agit de tous tronçons d'un ellipsoïde qui ne sont pas centrés par rapport aux axes de l'ellipse Les deux réflecteurs elliptiques, ainsi que les miroirs de déviation et de renvoi doivent 17429 3. en outre être alignés très soigneusement, de façon que l'image sou- haitée de chaque plan focal sur l'autre soit obtenue et que le pinceau émergeant de l'appareil accessoire soit effectivement un prolongement du pinceau incident La symétrie du montage fait en outre que la réflexion spéculaire est pour l'essentiel normalement décelée quand l'échantillon présente une surface spéculaire Une éli- mination de la réflexion spéculaire n'est possible dans certaines limites que par rotation de l'échantillon, mais un pivotement de l'échantillon entraîne aussi un aplatissement de la marche-des rayons par rapport à la surface de l'échantillon, ce qui réduit le rendement lumineux. La Société analect instruments d'Irvine, Californie, Etats-Unis, offre également un tel appareil accessoire avec un dispositif réflec- teur constitué par deux secteurs de paraboloide, dont les ouvertures sont dirigées en sens opposé et disposées de façon à présenter un foyer commun Un de ces miroirs paraboliques réfléchit dans le plan focal un faisceau parallèle au plan contenant le foyer, tandis que le second miroir parabolique transmet la lumière réfléchie par l'échantillon, sous forme d'un faisceau parallèle, dans la direction d'incidence du faisceau parallèle sur le premier réflecteur Ce mon- tage connu présente également l'inconvénient d'exiger l'alignement de deux réflecteurs focalisareurs, de façon qu'ils présentent un foyer commun et que la lumière réfléchie prolonge en outre la lumière inci- dente Il est ainsi nécessaire de fabriquer des réflecteurs coincidant avec une précision élevée, puis de les aligner avec une grande préci- sion Cet appareil accessoire exige en outre un faisceau parallèle, qui n'existe pas dans les spectromètres IR classiques, dans la zone o l'échantillon à étudier en transmission est normalement disposé et permettant le montage de l'appareil accessoire L'utilisation de cet appareil connu impose donc des modifications de tels spectromètres, telles que le démontage de réflecteurs focalisateurs et le remplacement par des miroirs de renvoi De telles opérations ne peuvent pas être effectuées par l'utilisateur normal de ces spectromètres. L'invention vise par contre à réaliser un appareil accessoire du type précédemment décrit, de façon qu'il présente une constitution plus simple, tant pour la production des éléments que pour leur réglage, et qu'il offre en outre de meilleures possibilités pour l'exécution d'études différentes. Selon une caractéristique essentielle de l'invention, chaque dispositif réflecteur comprend un miroir collimateur, qui rend parallèle le pinceau divergent provenant du miroir de déviation cor- respondant, et un secteur d'un miroir parabolique commun, à l'axe duquel les pinceaux émergeant des miroirs collimateurs sont parallèles et au foyer duquel l'échantillon est disposé. L'appareil accessoire selon l'invention n'utilise donc pas deux réflecteurs focalisateurs séparés, mais un seul miroir parabolique à symétrie de rotation, dont le foyer est déjà géométriquement fixé, de sorte qu'il est inutile d'aligner deux réflecteurs sur un foyer commun Il est en outre possible de disposer l'échantillon au foyer de la parabole avec une grande précision L'alignement des miroirs collimateurs est également très simple, car il suffit de veiller à ce que le faisceau de rayons parallèles soit parallèle à l'axe de la parabole Ces miroirs collimateurs peuvent remplacer les miroirs de renvoi de l'appareil accessoir connu, précédemment décrit, permettant ainsi d'obtenir aussi une constitution très compacte Le système réflecteur de l'appareil accessoire selon l'invention offre par ail- leurs beaucoup plus de libertés pour la déviation du faisceau, car il s'agit pour l'essentiel de produire deux faisceaux parallèles, tombant sur le miroir parabolique parallèlement à son axe Il existe. d'innombrables possibilités pour satisfaire à cette condition Une adaptation optimale de la constitution de l'appareil-accessoire selon l'invention à tout spectromètre IR existant est ainsi possible Les positions des pinceaux focalisés sur l'échantillon, par rapport à la surface de ce dernier, diffèrent selon les lieux d'incidence des faisceaux parallèles sur la surface du miroir parabolique Une modi- fication de ces points d'incidence permet ainsi de faire varier l'angle d'incidence du rayonnement sur l'échantillon d'une part, et d'émergence sur l'échantillon du faisceau transmis au détecteur de mesure d'autre part De telles modifications permettent ainsi de régler des transi- tions quelconques entre la réflexion spéculaire et la réflexion diffuse. Il est même possible que le rayonnement passant par le foyer forme un pinceau linéaire, de sorte que l'éclairage d'un échantillon par transmission est de nouveau possible et que l'accessoire selon l'invention est également utilisable pour des mesures par micro- transmission Cette possibilité est intéressante pour l'étude de très petits échantillons, pour laquelle le pinceau n'est pas suf- fisamment focalisé dans le spectromètre IR. Afin de permettre le déplacement précité des points d'incidence des faisceaux parallèles sur le miroir parabolique, ce dernier est selon une autre caractéristique de l'invention mobile perpendiculai- rement à un plan contenant son axe et les axes des faisceaux parallèles Il est ainsi possible de déplacer par exemple les faisceaux parallèles du plan diamétral correspondant du miroir parabolique dans un plan parallèle au précédent Les angles d'incidence sur un échan- tillon spéculaire peuvent ainsi être modifiés de façon notable Pour des mesures par transmission, il est en outre nécessaire que les faisceaux parallèles se situent dans le plan diamétral du miroir parabolique. Le miroir parabolique peut par ailleurs Etre mobile suivant une direction perpendiculaire à son axe et parallèle au plan contenant les axes des faisceaux parallèles Il est ainsi possible de régler des angles d'incidence et d'émergence différents, ce qui permet une tran- sition de la réflexion spéculaire à la réflexion diffuse et inverse- ment. Une autre possibilité de déplacement du faisceau parallèle par rapport au miroir parabolique consiste à monter un des miroirs de déviation au moins en pivotement autour d'un axe perpendiculaire à l'axe du pinceau incident et au plan contenant les axes des faisceaux parallèles Les miroirs de déviation étant très proches des plans focaux des pinceaux, un tel pivotement ne perturbe pas de façon sen- sible la transformation parallèle du pinceau dirigé sur le miroir parabolique. Comme précédemment indiqué, une forme de réalisation particulière de l'invention, qui est obtenue par un réglage approprié des divers éléments ou fournie sous forme d'un appareil accessoiredistinct, -permet une mesure par microtransmission Dans cette forme de réali- sation de l'invention, l'axe du miroir parabolique est situé dans le même plan que les axes des faisceaux parallèles, qui présentent un écartement tel que leur incidence sur le miroir parabolique se fait dans le plan perpendiculaire à l'axe du miroir et contenant le foyer, et un échantillon à étudier en transmission est disposé au foyer Les miroirs collimateurs devraient en toute rigueur être aussi des miroirs paraboliques, car ils doivent rendre parallèle la lumière provenant d'une tache focale Les pinceaux dirigés sur ces miroires collimateurs n'ayant toutefois qu'un faible angle d'ouver- ture, l'emploi de miroirs sphériques comme miroirs collimateurs suf- fit en général. Afin d'éviter que la lumière directe, provenant du pinceau incident et passant devant les miroirs de déviation, ne rejoignent le pinceau émergent, et selon une autre caractéristique préférentielle de l'invention, un écran sensiblement perpendiculaire au tronçon linéaire du pinceau est disposé entre les miroirs de déviation Un avantage de l'appareil accessoire selon l'invention réside dans le fait que la marche des rayons permet le montage d'un tel écran, sans perturber la marche des rayons à l'intérieur de l'appareil accessoire. Le miroir parabolique peut présenter une ouverture au sommet et un porteéchantillon peut être introduit dans cette ouverture Il est ainsi facile de prévoir sur le miroir parabolique ou sur un support de ce dernier des butées pour le porte-échantillon, garantissant que la partie de ce dernier portant l'échantillon se situe exactement au foyer du miroir parabolique Diverses formes de réalisation du porte- échantillon sont concevables, selon que la réflexion doit se produire sur une face frontale perpendiculaire à l'axe du miroir ou sur une face située suivant l'axe du miroir Des porte-échantillon sont en outre concevables, qui permettent l'introduction d'un échantillon transparent qui, au foyer, est perpendiculaire au plan diamétral du miroir parabolique contenant le foyer Le porte-échantillon peut par ailleurs pivoter autour de l'axe du miroir parabolique, afin de faire varier les angles entre la surface de l'échantillon et les pinceaux incident et réfléchi. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention seront mieux compris à l'aide de la description détaillée ci-dessous d'un exemple de réalisation et des dessins annexés sur lesquels: la figure 1 est le plan avec coupe partielle d'un appareil acces- soire selon l'invention; la figure 2 est une élévation de l'appareil accessoire selon figure 1, suivant la direction de la flèche I; la figure 3 est une coupe à échelle réduite de l'appareil accessoire selon figure 1, suivant l'axe III-III; la figure 4 est une coupe semblable à la figure 3, mais avec le miroir parabolique déplacé; la figure 5 représente schématiquement la marche du faisceau sur le miroir parabolique du montage selon figure 4, pour une observation dans le sens de la flèche V; et la figure 6 est une représentation schématique, semblable à la figure 4, mais avec des faisceaux parallèles, symétriques par rapport à un plan diamétral du miroir parabolique, et un échantillon pivoté par rapport à ce plan. L'appareil accessoire pour un spectromètre IR, représenté aux figures 1 à 3, comporte une plaque de base 1 portant tous les moyens optiques et permettant l'insertion de l'appareil accessoire formant une unité compacte dans un spe*ctromètre IR Les moyens optiques com- prennent un miroir parabolique 2 à symétrie de rotation, fixé sur la face antérieure d'un bloc de montage 3 Le miroir 2 peut être cons- titué le cas échéant par la face antérieure du bloc de montage 3, ayant subi un polissage spéculaire et munie le cas échéant d'un revêtement Le bloc de montage 3 est par ailleurs monté en translation verticale dans un cadre 4 Pour ce faire, les branches verticales du cadre présentent des nervures 5, qui s'engagent dans des encoches 6 correspondantes sur les faces latérales du bloc de montage 3 Le cadre 4 est monté en translation horizontale dans un bâti 7 Ce der- nier est fixé sur la plaque de base 1 et comporte sur ses branches horizontales des nervures 8, qui s'engagent dans des encoches cor- respondantes, non représentées, sur les faces extérieures des branches horizontales du cadre 4 Le miroir parabolique 2 peut par suite cou- lisser perpendiculairement et parallèlement à la Plaque de base 1, dans un plan perpendiculaire à son axe 9 La description ci-après suppose que l'appareil accessoire doit être monté dans un spectro- mètre IR avec la plaque de base horizontale, de sorte qu'il est possible d'appeler horizontaux les plans et directions parallèles à la plaque de base et verticaux les directions perpendiculaires à ladite plaque. Le bloc 3 comporte un alésage 11, coaxial à l'axe 9 du miroir parabolique 2 et dans lequel un porte-échantillon 12 est logé Le porte-échantillon 12 comporte une partie centrale cylindrique, qui s'ajuste exactement dans l'alésage 11, et dont l'extrémité extérieure est munie d'une partie 13 en forme de bouton de diamètre supérieur, qui permet de bien saisir le porteéchantillon 12 et dont la face frontale s'applique sur la face arrière du bloc de montage 3 L'ex- trémité du porte-échantillon 12 pénétrant à l'intérieur du miroir parabolique 2 est ainsi positionnée avec précision par rapport au foyer 14 du miroir parabolique 2 Dans l'exemple de réalisation selon figures 1 à 3, l'extrémité intérieure du porte-échantillon 12 porte un cadre 15 dans lequel est disposé un échantillon 16 transparent au rayonnement-et maintenu au foyer 14, dans le plan diamétral verti- cal du miroir parabolique 2. Un socle 21, monté sur la plaque de base 1, porte deux miroirs de déviation 22, 23 à une certaine distance devant le miroir parabo- lique 2 et deux colonnes 24, 25 portent deux miroirs collimateurs 26, 27, à distance des précédents Les miroirs de déviation et les miroirs collimateurs sont disposés symétriquement par rapport à un plan verti- cal qui, dans le montage selon figure 1, contient l'axe 9 du miroir parabolique 2, de façon qu'un pinceau 28 convergent, qui tombe sur le premier miroir de déviation 22, et perpendiculaire au plan vertical précité et qui, en l'absence du miroir 22, aurait une tache focale dans le plan vertical précité, est dirigé sur le premier miroir colli- mateur 26, qui dirige à son tour un faisceau parallèle 29 sur le miroir parabolique 2 Le miroir collimateur 26 est un miroir sphéri- que, dirigé de façon que son foyer co 5 ncide avec la tache focale 30 du pinceau convergent 28 qui, par suite de l'insertion du miroir de déviation 22, ne se trouve pas dans le plan de symétrie du montage, mais immédiatement derrière le miroir de déviation 22, comme le montre la figure 1. Par suite du montage symétrique, le second miroir collimateur 27 focalise un faisceau 31 provenant de la surface du miroir paraboli- que 2, et parallèle à son axe 9, en un point situé juste devant le second miroir de déviation 23, de sorte que le pinceau 33 divergent, provenant du second miroir de déviation 23, présente la même forme et la même divergence que si le pinceau 28 incident avait pu se pro- longer linéairement sans entrave, en l'absence de l'appareil acces- soire Ce dernier peut par suite être introduit dans un spectromètre IR existant, sans modification des sources et détecteurs de ce dernier, Afin d'éviter des perturbations par un passage direct du rayonnement du pinceau incident 28 au pinceau émergent 33, en ces d'utilisation de l'appareil accessoires, un écran 34 est disposé entre les miroirs de déviation 22, 23, dans le plan de symétrie vertical des dispositifs optiques décrits. Par suite des propriétés des miroirs paraboliques, des faisceaux à incidence parallèle sont focalisés à leur foyer et le rayonnement provenant de leur foyer est réfléchi par la surface du miroir sous forme d'un faisceau parallèle Les rayons de courbure différents et les distances différentes des plans focaux aux surfaces des miroirs réduisent notablement la tache focale au foyer 14, par rapport à la tache focale 30 du pinceau incident 28, de sorte que l'appareil acces- soire se prête à l'étude de très petits échantillons C'est pourquoi l'appareil accessoire selon l'invention peut aussi être appelé "unité de microfocalisation" Une mesure en transmission est aussi bien pos- sible qu'avec le spectromètre IR sans un tel appareil accessoire, Pour la mesure en transmission, il est nécessaire que les faisceaux parallèles 29 et 31 tombant sur le miroir parabolique 2 se situe dans un plan diamétral commun, comme le montrent les figures 1 à 3, afin que le rayonnement traversant l'échantillon 16 soit dirigé aussi tota- lement que possible par le miroir parabolique 2 sur le miroir colli- mateur 27 de sortie Il est particulièrement utile que les axes 35 et 36 des faisceaux parallèles 29 ou 31 se coupent sur le miroir parabolique 2, en un point o le plan transversal du miroir parabo- lique 2 passant par le foyer coupe la surface de ce miroir, car les axes 37, 38 des pinceaux 39 ou 40 dirigé vers le foyer ou en provenant traversent alors perpendiculairement le plan diamétral contenant l'é- chantillon 16 et par suite l'échantillon lui-même. Comme précédemment indiqué, l'appareil accessoire selon l'inven- tion n'est pas destiné en pramier lieu à des mesures par microtrans- mission, mais à des mesures par réflexion Une simple translation du miroir parabolique dans un plan perpendiculaire à son axe permet le passage de la mesure par transmission selon figure 3 à la mesure par réflexion Comme le montre la figure 3, lors de la mesure par micro- transmission, le cadre 4 se trouve en position gauche dans le bâti 7 et le bloc de montage 3 portant le miroir parabolique se trouve en position supérieure dans le cadre 4 Une translation vers le -bas du bloc de montage 3 dans le cadre 4 et de ce dernier vers la droite dans le bâti 7 aboutit à la position représentée sur la figure 4 et dans laquelle les faisceaux parallèles 29, 31 demeurent certes parallèles à l'axe du miroir parabolique 2, mais se trouvent dans un plan hori- zontal 51, situé au-dessus de l'axe 9 dudit miroir L'axe 9 du miroir parabolique 2 est en outre décalé latéralement par rapport au plan vertical de symétrie 51 des deux faisceaux 29,_ 31 Il en résulte que les pinceaux 53, 54 sont inclinés vers le haut entre le foyer et les faisceaux parallèles 29, 30, à partir de l'axe 9 du miroir, et forment des angles différents avec la verticale Lorsqu'un échantillon est amené au foyer du miroir parabolique 2 à l'aide d'un porte- échantillon 55, qui comporte un épaulement 56 permettant de disposer un échantillon de façon qu'il présente une surface horizontale dans la région du foyer, le rayonnement incident tombe obliquement sur cette surface, qui le réfléchit obliquement aussi Par suite des angles différents avec la verticale, le rayonnement qui subit une réflexion spéculaire sous l'angle d'incidence n'atteint pas la zone du pinceau 54 donnant naissance au pinceau 31 incident sur le miroir de renvoi 27 Seul le rayonnement ayant subi une réflexion diffuse sur l'échantillon atteint la zone du pinceau 54 Par suite des dis- tances différentes des pinceaux 29 et 31 au plan diamétral vertical du miroir parabolique 2, les axes 57 et 58 des pinceaux 53 ou 54 ne sont plus alignés dans la projection sur le plan horizontal selon figure 5, de sorte que le rayonnement après réflexion spéculaire n'est plus décelé. On voit qu'une translation du miroir parabolique 2 vers le bas uniquement, à partir de la position représentée à la figure 3, conduit à une position symétrique des pinceaux 29 et 31 par rapport au plan vertical 52 passant par l'axe 9 du miroir et dans laquelle le pinceau émergent 54 serait essentiellement constitué par le rayonnement ayant subi une réflexion spéculaire sur l'échantillon si le porte-échantil- Ion était disposé de façon que l'épaulement 56 soit orienté comme l'indique la figure 4 Il est toutefois possible d'éviter une réflexion spéculaire dans ce cas en faisant tourner le porte-échantillon 55 autour de son axe coïncidant avec l'axe 9 du miroir, afin que la sur- face de l'échantillon disposé sur l'épaulement 56 forme un angle avec le plan horizontal et par-suite que les axes 57 et 58 forment à nouveau des angles différents avec la surface de l'échantillon Une rotation de l'échantillon autour de l'axe du miroir permet ainsi d'ajuster un rapport quelconque entre la réflexion spéculaire et la réflexion diffuse, et ce depuis une réflexion spéculaire pure jusqu'à la réflexion diffuse pure. Il convient encore de préciser que la rotation des miroirs de déviation 22 et 23 autour d'un axe vertical permet de faire varier la position des faisceaux parallèles 29 ou 31 par rapport au miroir para- bolique 2 Afin de permettre une telle rotation, les miroirs de déviation 22, 23 sont fix 3 S dans le socle 21 par des barres 59, 60 montées en rotation dans le socle 21 Des boutons 61 et 62 disposés sur le bord supérieur des miroirs 22, 23 facilitent le pivotement de ces derniers Les colonnes 24, 25 sur lesquelles sont fixés les miroirs collimateurs 26, 27 permettent également un pivotement de ces miroirs pour l'ajustement. Il va de soi que l'invention ne se limite pas à l'exemple de réalisation décrit, mais permet des modifications sans sortir du cadre de l'invention Il en est notamment ainsi de la constitution mécanique de l'appareil, qui est réalisable d'une façon quelconque Les possi- bilités de réglage décrites peuvent n'être prévues que partielle- ment, à l'exception des moyens nécesaires pour l'ajustement des divers éléments Lorsque des possibilités de réglage existent, elles peuvent être prévues entre deux ou plusieurs positions prédéterminées, avec encliquetage par exemple, ou continûment L'image de la tache focale étant formée dans l'appareil accessoire selon l'invention avec insertion d'un faisceau parallèle, dont la longueur n'est absolument pas critique, la constitution d'ensemble du système optique ne dbit pas être symétrique, car des faisceaux parallèles de longueur diffé- rente n'exercent aucune influence et permettent une constitution de l'appareil avec des longueurs différentes des trajets optiques du rayonnement tombant sur l'échantillon et du rayonnement provenant de ce dernier C'est ainsi que des miroirs de renvoi par exemple permet- traient de réaliser un montage dans lequel l'axe du miroir parabolique est parallèle à la-direction du pinceau dans le spectromètre IR Il en résulte de nombreuses variantes possibles, ce qui constitue un avantage particulier de l'appareil accessoire selon l'invention. Revendications 1 Appareil accessoire pour l'exécution de mesures par réflexion à l'aide d'un spectromètre IR, réalisé pour des mesures par trans- mission et comportant des moyens optiques pour la production d'un pinceau qui est focalisé dans un plan transversal, situé sur un tronçon linéaire et recevant l'échantillon à étudier en transmission, ledit appareil accessoire comprenant deux miroirs de déviation insé- rables de part et d'autre du plan transversal, sur le tronçon linéaire du pinceau-, et deux dispositifs réflecteurs focalisateurs, dont le premier forme à l'emplacement de l'échantillon à étudier l'image réduite de la tache focale qui se trouve dans le pinceau dévié par le premier miroir de déviation, tandis que le second dispositif réflecteur focalisateur forme l'image de nouveau agrandie de la tache focale réduite à distance du second miroir de déviation, de façon que le pinceau émergeant de ce dernier se trouve dans le prolongement du pinceau incident sur le premier miroir de déviation, comme en l'absence de l'appareil accessoire, ce dernier étant caractérisé en ce que chaque dispositif réflecteur comprend un miroir collimateur ( 26, 27), qui rend parallèle le pinceau divergent provenant du miroir de déviation correspondant ( 22, 23), et un secteur d'un miroir parabo- lique commun ( 2), à l'axe ( 9) duquel les pinceaux ( 29, 31) émergeant des miroirs collimateurs ( 26, 27) sont parallèles et au foyer ( 14) duquel l'échantillon ( 16) est disposé. 2 Appareil accessoire selon révendication 1, caractérisé en ce que le miroir parabolique ( 2) est monté en translation suivant une direc- tion perpendiculaire à son axe ( 9) et au plan contenant les axes ( 35, 36) des faisceaux parallèles. 3 Appareil accessoire selon une des revendications 1 ou 2, carac- térisé en ce que le miroir parabolique ( 2) est monté en translation suivant une direction perpendiculaire à son axe ( 9) et parallèle au plan contenant les axes ( 35, 36) des faisceaux parallèles. 4 Appareil accessoire selon une quelconque des revendications 1 a 3, caractérisé en ce qu'un-au moins des miroirs de déviation ( 22, 23) est monté en pivotement par rapport à un axe perpendiculaire à l'axe du pinceau incident ( 28, 33) et au plan contenant les axes ( 35, 36) des faisceaux parallèles. Appareil accessoire selon une quelconque des-revendications 1 à 4, caractérisé en ce que l'axe ( 9) du miroir parabolique ( 2) se situe dans le même plan que les axes ( 35, 36) des faisceaux parallèles; l'écartement desdits axes est tel qu'ils atteignent le miroir parabolique ( 2) dans un plan contenant le foyer ( 14) et perpendiculaire à l'axe ( 9) du miroir; et un échantillon ( 16) à étudier en transmission est disposé au foyer ( 14). 6 Appareil accessoire selon une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que les miroirs collimateurs ( 26, 27) et le miroire parabolique ( 2) sont disposés de part et d'autre du tronçon linéaire du pinceau ( 28, 33). 7 Appareil accessoire selon une quelconque des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que les miroirs collimateurs ( 26, 27) sont des miroirs sphériques. 8 Appareil accessoire selon une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu'un écran ( 34), sensiblement perpendiculaire au tronçon linéaire du pinceau ( 28, 33), est disposé entre les miroirs de déviation ( 22, 23). 9 Appareil accessoire selon une quelconque des revendications 1 à 8, caractérisé en ce que le miroir parabolique ( 2) présente une ouverture ( 11) à son sommet et un porte-échantillon ( 12) est introduit dans cette ouverture. Appareil accessoire selon revendication 9, caractérisé en ce que le porteéchantillon ( 12) pivote autour de l'axe du miroir parabolique ( 2).