Brevet FR2522824A1 — publié le 19830909

1. La présente invention concerne un disposi- tif pour appliquer des signaux logiques de test à deux états, sur une entrée d'un circuit logique Cette in- vention s'applique plus particulièrement au test d'un circuit logique dont une sortie fournit des signaux dont les états logiques dépendent des états logiques des signaux de commande appliqués sur l'une de leurs entrées par un moyen de commande Elle permet, sans avoir à déconnecter le moyen de commande d'avec le circuit logique auquel il est relié, d'imposer des signaux de test à l'entrée de ce circuit logique, de manière à vérifier les signaux résultants en sortie, quel que soit l'état logique des signaux fournis si- multanément par le moyen de commande Ce dispositif is s'applique notamment aux tests de circuits logiques qui permettent de déclencher des actions urgentes dans des réacteurs nucléaires, à partir de signaux logiques fournis par des moyens de commande constitués par des capteurs dont les sorties fournissent des signaux de commande de type *tout ou rien'; ces signaux de com- mande présentent en fait des états logiques 1 ou 0. L'invention s'applique aussi aux tests au- tomatiques d'une pluralité de circuits logiques, par des signaux de test à deux états logiques, appliqués aux entrées de ces circuits, sans qu'il soit nécessai- re de déconnecter ces circuits d'avec les moyens de commande qui appliquent des signaux logiques sur leurs entrées. On ne connaît pas actuellement de dispositif de test qui permet d'appliquer des signaux logiques de test aux entrées d'un circuit logique commandé par un moyen de commande, sans déconnecter ce moyen d'avec le circuit logique Généralement, lorsqu'il est nécessai- re de tester un circuit logique en appliquant sur une entrée de ce circuit des signaux de test pour observer en sortie les signaux résultants correspondants, on déconnecte le moyen de commande de ce circuit logique, de façon à ce que les signaux de commande ne viennent pas perturber les signaux de test et qu'inversement, les signaux de test ne viennent pas perturber le fonc- tionnement du moyen de commande Le fait de déconnec- ter, le moyen de commande d'avec le circuit logique a pour principal inconvénient de laisser un doute sur la transmission des signaux de commande au circuit logi- que, lorsque le test étant terminé, le moyen de com- mande est à nouveau connecté au circuit logique En effet, il se peut qu'au cours de cette connexion après un test, des faux contacts apparaissent dans la con- nexion de la sortie du moyen de commande avec l'entrée du circuit logique. L'invention a pour but de remédier à ces in- convénients et notamment de réaliser un dispositif permettant d'appliquer des signaux logiques de test à deux états, sur une entrée d'un circuit logique, sans qu'il soit nécessaire, pour effectuer ce test, de dé- connecter les moyens de commande de ce circuit logique et sans que les signaux de test ne viennent perturber le moyen de commande ou que les signaux de commande viennent perturber les signaux de test t les signaux de test sont en fait, grâce au dispositif de l'inven- tion, forcés à l'entrée de commande du circuit logi- que Le dispositif permet aussi d'effectuer automati- quement des tests d'une pluralité de circuits logi- ques, sans déconnecter ces circuits d'avec leurs moyens de commande. L'invention a pour objet un dispositif pour appliquer des signaux logiques de test à deux états, sur une entrée d'un circuit logique, ce circuit logi- que fournissant sur une sortie, des signaux présentant deux états logiques dépendant respectivement de deux états logiques de signaux de commande appliqués sur son entrée par une sortie d'un moyen de commande, ca- ractérisé en ce qu'il est constitué par des moyens pour imposer chaque état logique des signaux de test à l'entrée du circuit logique, quel que soit l'état lo- gique des signaux de commande. Selon une autre caractéristique de l'inven- tion, les moyens pour forcer chaque état logique ( O ou 1) des signaux de test à l'entrée du circuit logique, comprennent une source électrique de tension présen- tant une borne positive et une borne négative, la bor- ne négative étant reliée à une masse de référence, les potentiels des bornes positive et négative de la sour- ce représentant respectivement les états logiques 1 et 0, et des moyens pour relier l'entrée du circuit logi- que à la borne positive de la source, à chaque fois qu'un signal de test présentant l'état logique 1, doit être appliqué à cette entrée, pour relier l'entrée du circuit logique à la masse de référence et pour inter- dire l'application du potentiel de la borne positive de la source à l'entrée du circuit, à chaque fois qu'un signal de test présentant l'état logique O doit être appliqué à l'entrée du circuit logique. Selon un premier mode de réalisation de l'invention, les moyens pour relier l'entrée du cir- cuit à la borne positive de la source comprennent une résistance connectée entre l'entrée du circuit logique et la borne positive de la source électrique, les moyens pour relier l'entrée du circuit à la masse de référence et pour interdire l'application du potentiel de la borne positive comprennent un interrupteur con- necté entre l'entrée du circuit et la masse de réfé- rence, l'ouverture ou la fermeture de cet interrupteur (IT) correspondant respectivement aux états logiques 1 ou O des signaux de test, et une autre résistance con- nectée en série entre l'entrée du circuit logique et la sortile du moyen de commande. Selon une autre caractéristique, pour ce deuxième mode de réalisation, le dispositif comporte en outre au moins une diode connectée en série avec l'une des deux résistances. Selon une autre caractéristique, pour ce premier mode de réalisation, les résistances et les diodes sont connectées à demeure à l'entrée du circuit logique, la source électrique de courant ainsi que l'interrupteur étant amovibles et n'étant respective- ment connectés avec la résistance et avec l'entrée du circuit, qu'au moment d'un test. Selon un deuxième mode de réalisation de l'invention, les moyens pour relier l'entrée du cir- cuit avec la borne positive de la source et pour la relier à la masse de référence et interdire le débit de la source, comprennent une résistance reliée à la borne positive de la source et à une première borne d'un interrupteur à deux positions, cette première borne correspondant à la première position, cet inter- rupteur présentant une deuxième borne correspondant à la deuxième position et qui est reliée à la masse de référence, et une borne commune aux deux positions, reliée à l'entrée du circuit, la première position correspondant à l'application d'un signal de test pré- sentant l'état logique 1 et la deuxième position cor- respondant à l'application d'un signal de test présen- tant l'état logique 0, et une autre résistance connec- tée entre l'entrée du circuit logique et la sortie du moyen de commande. Selon une autre caractéristique, pour ce deuxième mode de réalisation, le dispositif comporte en outre une diode connectée entre l'entrée du cir- cuit logique et la sortie du moyen de commande. Selon une autre caractéristique, pour ce deuxième mode de réalisation, la résistance, l'inter- rupteur et la source électrique sont amovibles, la diode et l'autre résistance étant reliées à demeure à l'entrée du circuit logique. Selon une autre caractéristique, le moyen de commande est un capteur dont la sortie fournit des signaux de type tout ou rien (états logiques 1 ou 0). Enfin, le dispositif de l'invention s'ap- plique aux tests automatiques d'une pluralité de cir- cuits logiques, par des signaux de tests à deux états logiques, appliqués aux entrées de ces circuits. L'invention sera mieux comprise à l'aide de la description qui va suivre, donnée en référence aux figures schématiques annexées dans lesquelles: la figure 1 représente schématiquement un premier mode de réalisation d'un dispositif conforme à l'invention, la figure 2 représente schématiquement un deuxième mode de réalisation d'un dispositif conforme à l'invention. la figure 3 est un schéma qui montre l'ap- plication du premier mode de réalisation du dispositif aux tests automatiques d'une pluralité de circuits lo- giques. la figure 4 est un schéma qui montre l'ap- plication du deuxième mode de réalisation du disposi- tif aux tests automatiques d'une pluralité de circuits logiques. On a représenté schématiquement sur la figu- re 1, un premier mode de réalisation d'un dispositif 1 de test, conforme à l'invention; ce dispositif permet d'appliquer des signaux logiques de test à deux états O ou 1, sur une entrée 2 d'un circuit logique 3 Ce circuit logique fournit, sur une sortie 4, des signaux présentant deux états logiques qui dépendent respecti- vement des deux états logiques de signaux de commande appliqués sur son entrée 2 Ces signaux de commande sont des signaux dont les états logiques sont 1 ou O; ils sont fournis par la sortie d'un moyen de commande qui peut être par exemple un capteur à seuil repré- senté schématiquement sur la figure par un inter- rupteur commandable 7 recevant des signaux de commande d'un détecteur de seuil 8, lui-même relié à un capteur 9 sensible aux variations d'un phénomène physique Dès qu'un seuil de tension est dépassé en sortie du cap- teur 9, le détecteur de seuil 8 peut par exemple com- mander la fermeture de l'interrupteur 7, de manière que la sortie 6 du moyen de commande présente une ten- sion égale à la tension +VS de sortie d'une source électrique de tension 10 Cette tension +VS peut être considérée comme représentative d'un état logique 1 sur la sortie 6 du moyen de commande 5 Lorsque l'in- terrupteur 7 est ouvert, la sortie 6 du moyen 5, est au potentiel de la masse de référence Mg qui peut être considéré comme représentatif de l'état logique 0 Il est bien évident que le moyen de commande 5 qui est considéré, dans cet exemple de réalisation, comme un capteur à seuil associé à un interrupteur commandable 7, pourrait être constitué par tout autre circuit dont la sortie fournit des signaux de commande 'tout ou rien", c'est-à-dire des signaux d'états logiques O ou -1 Le dispositif de test 1 de l'invention est consti- tué par des moyens qui permettent de forcer chaque état logique des signaux de test (état logique O ou état logique 1) à l'entrée 2 du circuit logique 3, quel que soit l'état logique des signaux de commande à la sortie 6 du moyen de commande 5 Les moyens 1 qui permettent d'imposer des signaux de test, d'états lo- giques 1 ou 0, à l'entrée 2 du circuit logique 3, comprennent en fait, dans ce premier mode de réalisa- tion de l'invention ainsi que dans un deuxième mode de réalisation qui sera décrit plus loin en détail, une source électrique E de tension sensiblement égale à la tension +VS, qui présente une borne positive et une borne négative La borne négative est reliée à une masse de référence M et les potentiels des bornes po- sitive et négative de la source E, représentent res- pectivement les états logiques 1 et 0 Les moyens qui permettent d'imposer chaque état logique à l'entrée du circuit logique 3 comprennent aussi des moyens qui se- ront décrits plus loin en détail, qui permettent de relier l'entrée 2 du circuit logique 3 à la borne po- sitive de la source E, à chaque fois qu'un signal de test présentant l'état logique 1, doit être appliqué à l'entrée de ce circuit logique Ces moyens permettent également de relier l'entrée du circuit logique à la masse de référence pour interdire l'application du po- tentiel de la borne positive de la source vers l'en- trée du circuit à chaque fois qu'un signal de test présentant l'état logique 0, doit être appliqué à l'entrée de ce circuit. Dans ce premier mode de réalisation du dis- positif de l'invention, les moyens qui permettent de relier l'entrée 2 du circuit à la borne positive de la source E comprennent une résistance R 2 dont une pre- mière borne est reliée à l'anode d'une diode Dz, la cathode de cette diode étant reliée à l'entrée 2 du circuit logique 3; une deuxième borne A de la résis- tance R 2 est reliée à la borne positive de la source électrique E; les moyens qui permettent de relier l'entrée du circuit logique 3 à la masse de référence M et qui permettent d'interdire l'application du po- tentiel de la borne positive de la source E vers l'en- trée de ce circuit comprennent un interrupteur IT con- necté entre l'entrée 2 du circuit 3 et la masse de référence M Comme on le verra plus loin en détail, l'ouverture ou la fermeture de l'interrupteur 1 T cor- respond respectivement aux états logiques 1 ou O des signaux de test à appliquer à l'entrée 2 du circuit 3. Dans ce mode de réalisation, le dispositif de l'invention comprend en outre une autre résistance R 1 connectée en série-avec une autre diode D 1, entre l'entrée 2 du circuit logique 3 et la sortie 6 des moyens de commande 5, la cathode de la diode D 1 étant reliée à l'entrée 2 du circuit logique. On a également représenté sur cette figure, une diode de Zener Z reliée entre le point commun 11 des cathodes des diodes D 1 et D 2 et la masse de réfé- rence M Cette diode de Zener qui n'est pas indispen- sable, permet en fait, dans certaines applications particulières, de fournir au circuit logique 3 une tension de niveau constant. Le fonctionnement du dispositif sera mieux - compris à l'aide du tableau suivant qui représente la position ouverte ou fermée de l'interrupteur 7, l'état logique des signaux à la sortie 6 du moyen de commande ainsi qu'à l'entrée 2 du circuit logique 3 puis, au cours du test, la position ouverte ou fermée de l'in- terrupteur IT, ainsi que les états logiques correspon- dants des signaux de test, à l'entrée 2 du circuit logique 3. Positions de Etats logiques Positions de Etats logiques l'.1 nterrup des signaux de l'interrup des signaux. teur 7 commande (sor teur de test à l'entrée 2 tie 6 et entrée 2) I _ __ - _ ouverte 1 ouverte O fermée O ouverte 1 fermée 1 fermée O Lorsque l'interrupteur 7 du moyen de comman- de 5 est en position ouverte, la sortie 6 est à l'état logique O; cet état logique se retrouve à l'entrée 2 du circuit logique 3 Mais si l'interrupteur de test 1 T est ouvert, la tension de la borne positive de la source E se retrouve au point commun 11 aux cathodes des diodes D 1 et D 2 Cette tension positive correspond à l'état logique 1 à l'entrée 2 du circuit logique 3. On voit donc que dans ce cas, bien que l'état logique des signaux à la sortie 6 du moyen de commande 5 est 0, le dispositif de test impose à l'entrée 2 du circuit logique 3, l'état logique 1. Si l'interrupteur IT est maintenant dans la position fermée, alors que l'interrupteur 7 du moyen de commande 5 est toujours dans la position ouverte, le courant fourni par la source E circule dans la ré- sistance R 2, vers la masse M La cathode de la diode D 2 est donc au potentiel de cette masse et il en ré- sulte que la tension au point commun 11 des cathodes des diodes D 1 et D 2 est égale au potentiel de la masse M Dans ce cas, l'état logique du signal appliqué 2 à l'entrée du circuit logique 3, est l'état logique 0. Si maintenant, l'interrupteur 7 du moyen de commande 5 est en position fermée, le potentiel + Vs de la source 10 se trouve à la sortie 6 du moyen de com- mande 5, et cette sortie se trouve donc dans l'état logique 1 Cet état logique, en l'absence de test, se retrouve normalement à l'entrée 2 du circuit logique 3. Si l'interrupteur 'T est en position ouver- te, le potentiel de la borne positive de la source E se retrouve sur l'anode de la diode D 1 Le point 11 est donc à un potentiel égal à la plus grande des valeurs des potentiels de la source E et de la source + VS* Ce potentiel correspond à l'état logique 1 et correspond donc à l'état logique du signal de commande fourni sur la sortie 6 du moyen de commande 5 Au contraire, si l'interrupteur de test 'T est en posi- tion fermée, le courant fourni par la source E circule dans la résistance R en direction de la masse M, et un courant circule également dans la résistance R 1 qui absorbe la différence de potentiel entre les points 6 et 11 Le point commun 11 des cathodes des diodes D et D 2 se trouve au potentiel de la masse M, correspon- dant à l'état logique 0 Dans ce cas, alors que le signal de commande fourni par la sortie 6 du moyen de commande 5, est dans l'état logique 1, le signal à l'entrée 2 du circuit logique 3 est à l'état logique O; cet état logique est imposé par le dispositif de test. Il résulte de ces observations que le dispo- sitif de test permet d'imposer les états logiques des signaux de test à l'entrée du circuit logique 3, quel que soit l'état logique du signal fourni sur la sortie 6 du moyen de commande 5. Pour faciliter le test et notamment dans le cas o une pluralité de circuits logiques tels que le circuit 3 sont reliés respectivement à la sortie de moyens de commande tels que le moyen de commande 5, les résistances R 1, R 2 et les diodes D 1, D 2 sont con- nectées à demeure à la sortie du moyen de commande 5, les signaux de commande du circuit logique 3 étant disponibles au point commun 11 des cathodes des diodes D 1 et D 2 La source électrique de courant E ainsi que l'interrupteur IT, sont amovibles (tel que représenté par le rectangle 12) et ne sont connectés aux points A et B, qu'au moment o un test d'un circuit logique est à effectuer Le rectangle 12 peut être un bottier ren- fermant les composants indiqués, relié à la masse M. Les diodes D 1 et D 2 permettent d'éviter le passage de courants, notamment lors d'un test, soit en direction de la source E à partir de la source 10, soit en direction de la source 10 à partir de la sour- ce B. Le dispositif qui vient d'être décrit permet d'atteindre les buts mentionnés plus haut t il permet de tester un circuit logique par des signaux de test appliqués sur son entrée, sans avoir à déconnecter ce circuit logique du moyen de commande qui applique des signaux de commande sur cette entrée Il permet aussi d'imposer l'état logique des signaux de test quel que soit l'état logique des signaux de commande Ce dispo- sitif est particulièrement destiné aux tests de cir- cuits logiques qui permettent d'actionner des organes de sûreté dans des centrales nucléaires En effet, il est indispensable que ces circuits logiques puissent être testés rapidement, sans avoir à les déconnecter de leurs moyens de commande, puisque toute déconnexion à des fins de test, suivie d'une connexion après test, peut entraîner des faux contacts préjudiciables à la sécurité de la centrale nucléaire. Dans l'actionnement d'organes de sûreté dans des centrales nucléaires, le dispositif décrit va bien dans le sens de là sûreté En effet, le déclenchement d'une action grâce au circuit logique 3 se fait par l'application d'un signal d'état logique 1, à l'entrée 2 du circuit 3 Lorsque les éléments amovi- bles 12 du dispositif sont connectés en A et B, *un signal d'état logique 1 est obligatoirement appliqué à l'entrée 2 du circuit 3, quelle que soit la position ouverte ou fermée de l'interrupteur 7 L'interrupteur IT est un interrupteur dont la position normale est ouverte, en l'absence de commande de fermeture. La figure 2 représente schématiquement un autre mode de réalisation du dispositif de l'inven- tion Les mêmes éléments portent les mêmes références sur cette figure et sur la figure 1. Dans ce mode de réalisation, les moyens pour relier l'entrée 2 du circuit 3 avec la borne positive de la source E, pour relier cette entrée avec la masse de référence et pour interdire l'application du poten- tiel de la borne positive de la source E, comprennent une résistance R'2 reliée à la borne positive de la source E et à une première borne 13 d'un interrupteur i' à deux -positions La résistance R'2 peut être remplacée par une diode Cette première borne corres- pond à une première position de cet interrupteur qui comprend en outre une deuxième borne 14, correspondant à une deuxième position, cette deuxième borne est re- liée à une masse de référence M Une borne 15 de cet interrupteur est commune aux deux positions de celui- ci et elle est reliée à l'entrée 2 du circuit 3 La première position de l'interrupteur correspond à l'ap- plication d'un signal de test présentant l'état logi- que 1 sur l'entrée 2 du circuit, tandis que la deuxiè- me position de l'interrupteur correspond à l'applica- tion d'un signal de test présentant l'état logique O sur cette entrée. Dans ce mode de réalisation, le dispositif comprend aussi une résistance R 1 connectée en série avec une diode D 1, entre l'entrée du circuit logique 3 et la sortie 6 du moyen de commande 5, la cathode de la diode D 1 étant reliée à l'entrée de ce circuit logi- que Le moyen de commande 5 n'est pas ici décrit en détail, puisqu'il est constitué de la même façon que celui qui a été décrit à la figure 1 Comme dans le mode de réalisation précédent, une diode Zener Z relie l'entr 4 e 2 du circuit 3 avec la masse M. 1 S Le fonctionnement du dispositif sera mieux compris à l'aide du tableau suivant qui représente la position ouverte ou fermée de l'interrupteur 7, l'état logique des signaux à la sortie 6 du moyen de commande , ainsi qu'à l'entrée 2 du circuit logique 3, puis, au cours des tests, les deux positions de l'interrup- teur I'T, ainsique les états logiques correspondants des signaux de test à l'entrée du circuit logique 3. Les deux positions de l'interrupteur l' sont dési- T gnées respectivement par les référehces T 1 et T 2. TABLEAU Positions de Etats logiques Positions de Etats logiques l'interrup des signaux de l'interrup des signaux à teur 7 commande (sor teur de test l'entrée 2 tie 6 et entrée l T I 2 > _ _ _ _ _ _ _ _ Ti 1 T 2 O T 1 1 T 2 O % ' Lorsque l'interrupteur 7 du moyen de comman- de 5 est en position ouverte, -la sortie 6 est à l'état logique O; cet état logique se retrouve à l'entrée 2 du circuit logique 3, si l'interrupteur Il T est dans la position T 2 En effèt, dans ce cas, la source E n'est pas reliée à l'entrée 2 du circuit 3 Au con- traire, si l'interrupteur I'T est dans la position Tl, la source E se trouve en liaison avec l'entrée 2, par l'intermédiaire de la résistance R'2 et un signal de test d'état logique 1 est appliqué sur l'entrée du circuit 3, même'si le signal du moyen de commande 5 est à l'état logique 0. Si l'interrupteur 7 du moyen de commande 5 est fermé, que l'interrupteur I'T est dans la position T 1, le moyen de commande 5 applique à l'entrée 2 du circuit 3 un signal de commande dont l'état logique * est 1, tandis que l'interrupteur I'l applique lui aus- si sur cette entrée du circuit logique 3, un signal de test d'état logique 1 Au contraire, si le signal de commande appliqué sur l'entrée 2 du circuit 3 est un signal d'état logique 1 circuit de commande 5 est relié à la masse de référen- ce M, à travers la résistance R 1 et la diode D 1 Il en résulte dans ce cas, que le signal appliqué à l'entrée 2 du circuit logique 3 est un signal d'état logique 0, bien que le signal de commande soit à l'état logique 1. La résistance R' est nécessaire pour éviter que E ne débite dans 10, ou au moins limiter le débit. Elle est également nécessaire du fait de la diode Ze- ner Z. Il résulte de ces observations que le dispo- sitif de test permet d'imposer les états logiques des signaux de test à l'entrée du circuit logique 3, quel que soit l'état logique du signal fourni sur la sortie 6 du moyen de commande 5 Comme dans le mode de réali- sation précédent, notamment dans le cas o une plura- lité de circuits logiques tels que le circuit 3 sont reliés respectivement à la sortie de moyens de comman- de tels que le moyen 5, la résistance R', l'interrup- teur I'T et la source électrique E sont amovibles, contenus dans un même boîtier 16 par exemple, qui est lui-même relié à la masse M La résistance R 1 ainsi que la diode D 1 sont connectées à demeure à l'entrée 2 du circuit 3 Le boitier amovible 16 n'est connecté au point B' qu'au-moment o un test d'un circuit logique doit être effectué Comme dans le mode de réalisation précédent, une diode Zener Z relie l'entrée 2 du cir- cuit 3 avec la masse de référence afin que le niveau de tension (pour l'état logique 1) appliqué à ce cir- cuit logique, pour le commander ou au moment d'un test, soit constant. La figure 3 représente schématiquement l'application du premier mode de réalisation du dispo- sitif de l'invention, à des tests automatiques, d'une pluralité de circuits logiques tels que le circuit 3, dont la sortie 4 fournit des signaux présentant deux états logiques dépendant respectivement des deux états logiques de signaux de commande appliqués sur son en- trée 2 Les mêmes éléments portent les mêmes référen- ces sur cette figure et sur la figure 1 Les moyens de commande 5 n'ont pas été représentés ici en détail. Dans cette application du dispositif, aux tests automatiques de circuits logiques tels que le circuit 3, un interrupteur I Tl est nécessaire pour mettre en relation chaque circuit logique 3 avec la masse M Les interrupteurs ITî sont commandés par un séquenceur 17 qui n'est pas représenté ici en détail. Ce séquenceur permet de commander la fermeture des in- terrupteurs I Tl en fonction des états logiques des si- gnaux de test appliqués sur l'entrée du circuit que l'on désire tester Les interrupteurs 1 Tl sont bien -entendu-supposés être des interrupteurs commandables électriquement Une seule connexion avec la source E, est nécess aire et suffisante pour tester l'ensemble des circuits, selon des configurations quelconques. Seuls les interrupteurs I Tl sont nécessaires. La figure 4 représente schématiquement une application du deuxième mode de réalisation du dispo- sitif à des tests automatiques d'une pluralité de cir- cuits logiques Les mêmes éléments portent les mêmes références sur cettefigure et sur la figure 2 Comme dans le cas précédent, on voit sur cette figure que le dispositif conforme au deuxième mode de réalisation de l'invention, peut être appliqué aux tests de circuits logiques tels que le circuit 2 Les moyens de commande 5 de chacun de ces circuits logiques n'ont pas été représentés en détail sur cette figure Les interrup- teurs I' sont reliés d'une part à la source électri- T que E par l'intermédiaire de résistances R'2 et d'au- tre part, à la masse de référencé M Un séquenceur 18 peut permettre ici de commander automatiquement les tests de chacun des circuits Il est supposé dans ce cas que les interrupteurs I' T à deux positions sont des interrupteurs à commande électrique; cette com- mande n'a pas été représentée ici en détail. Il est bien évident que dans le dispositif conforme à l'invention, les moyens utilisés auraient pu être remplacés par des moyens équivalents, sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1 Dispositif pour appliquer des signaux lo- giques de test à deux états ( O ou 1), sur une entrée ( 2) d'un circuit logique ( 3), ce circuit logique four- nissant sur une sortie ( 4), des signaux présentant deux états logiques dépendant respectivement de deux états logiques ( O ou 1) de signaux de commande appli- qués sur son entrée ( 2) par une sortie ( 6) d'un moyen de commande ( 5), caractérisé en ce qu'il est constitué par des moyens ( 1) pour imposer chaque état logique des signaux de test à l'entrée ( 2) du circuit logique, quel que soit l'état logique des signaux de commande. 2 Dispositif selon la revendication 1, ca- ractérisé en ce que les moyens ( 2) du circuit logique ( 3), comprennent une source é- lectrique (E) de tension présentant une borne positive et une borne négative, la borne négative étant reliée à une masse de référence (M), les potentiels des bor- nes positive et négative de la source représentant respectivement les états logiques 1 et 0, et des moyens pour relier l'entrée du circuit logique à la borne positive de la source, à chaque fois qu'un si- gnal de test présentant l'état logique 1, doit être appliqué à cette entrée, pour relier l'entrée du-cir- cuit logique à la masse de référence et pour interdire l'application du potentiel de la borne positive de la source à l'entrée du circuit, à chaque fois qu'un si- gnal de test présentant l'état logique O doit être appliqué à l'entrée du circuit logique. 3 Dispositif selon la revendication 2, ca- ractérisé en ce que lesdits moyens pour relier l'en- trée du circuit à la borne positive de la source com- prennent une résistance (R 2) connectée entre l'entrée du circuit logique et la borne positive de la source électrique (E), les moyens pour relier l'entrée du circuit à la masse de référence et pour interdire l'application du potentiel de la borne positive de la source comprennent un interrupteur (IT) connecté entre l'entrée du circuit et la masse de référence, l'ouver- ture ou la fermeture de cet interrupteur (IT) corres- pondant respectivement aux états logiques 1 ou O des signaux de test, et une autre résistance (R 1) connec- tée entre l'entrée du circuit logique et la sortie ( 6) du moyen de commande ( 5). 4 Dispositif selon la revendication 3, ca- ractérisé en ce qu'il comporte au moins une diode (R 1) (R 2). Dispositif selon l'une au moins des re- vendications 3 et 4, caractérisé en ce que les diodes éventuelles (D 2, D 1) et les résistances (R 2, R 1) sont connectées à demeure à l'entrée du circuit logique, la source électrique (E) de courant ainsi que l'interrup- teur (IT) étant amovibles et n'étant respectivement connectés avec la résistance (R 2) et avec l'entrée du circuit qu'au moment d'un test - 6 Dispositif selon la revendication 2, ca- ractérisé en ce que les moyens pour relier l'entrée ( 2) du circuit ( 3) avec la borne positive de la source (E) et pour relier cette entrée à la masse de référen- ce et interdire l'application du potentiel de la borne positive de la source, comprennent une résistance (R'2) reliée à la borne positive de la source (E) et à une première borne d'un interrupteur (I sitions, cette première borne ( 13) correspondant à la première position, cet interrupteur présentant une deuxième borne ( 14) correspondant à la deuxième posi- tion et qui est reliée à la masse de référence, et une borne commune aux deux positions, reliée à l'entrée du circuit, la première position correspondant à l'appli- cation sur l'entrée ( 2) du circuit d'un signal de test présentant l'état logique 1 et la deuxième position correspondant à l'application d'un signal de test pré- sentant l'état logique 0, et une autre résistance (R 1) connectée en série entre l'entrée du circuit logique et la sortie ( 6) du moyen-de commande ( 5). 7 Dispositif selon la revendication 6, ca- ractérisé en ce qu'il comporte en outre une diode (DL) connectée en série avec l'autre résistance (R 1) la ca- thode de cette diode étant reliée à l'entrée du cir- cuit logique. 8 Dispositif selon l'une au moins des re- vendications 6 et 7, caractérisé en ce que la résis- tance (R'2), l'interrupteur (I'T) et la source (E) sont amovibles, la diode (D 1) et l'autre résistance étant reliées à demeure à l'entrée du circuit logique. 9 Dispositif selon l'une quelconque des re- vendications 1 à 8, caractérisé en ce que le moyen de commande est un capteur dont la sortie fournit des signaux de type "tout ou rien" (états logiques 1 ou 0). Application du dispositif conforme à l'une quelconque des revendications 1 à 9 aux tests automatiques d'une pluralité de circuits logiques par des signaux de tests à deux états logiques appliqués aux entrées de ces circuits.