Brevet FR2500973A1 — publié le 19820903

l e- La présente invention est relative de façon générale, à des instruments optiques et radio, et plus particu- lièrement à un dispositif utilisable pour réduire interferomé- triquement le rayonnement électro-magnétique de fond dans des instruments optiques ou à fréquence radio. Lorsqu'un objet est observé à travers un dis- positif optique, ou lorsqu'un signal est détecté par un instru- ment électronique, un rayonnement électro-magnétique de fond non souhaité est généralement présent en m8me temps que l'image de l'objet ou du signal souhaité et tend à obscurcir l'image ou le signal notamment si cette image ou ce signal est faible. Le rayonnement de fond prend naissance à partir de sources à la fois interne6set xterneaà l'instrument optique ou électroni- que. Dans des instruments optiques, les sources internes du rayonnement de fond indésirable comportent des réflexions entre les éléments optiques, de la diffraction par la limitation ef- fective d'ouverture de l'instrument optique, les irrégularités de lentilles, telles que des bulles ou d'autres inclusions, de la poussière et des rayures sur la surface des lentilles et le rayonnement thermique dans le domaine infrarouge. La source ma- Jeure de lumière diffuse dans un système optique est l'atmos- phère, la poussière et les autres particules en suspension dans l'atmosphère, et le rayonnement thermique dans l'infrarouge. Dans les instruments électroniques, le rayonnement de fond, ou bruit, est engendré à l'intérieur des étages amplificateurs et des étages de détection de l'instrument lui-même et le rayonnement externe à l'instrument comprend le rayonnement at- mosphérique,et le rayonnement en provenance des sources créées par l'homme, telles que des équipements électroniques et élec- triques variés. Bien que dans de nombreux cas, la magnitude du rayonnement électromagnétique indésirable de fond est faible par rapport à la brillance de l'image optique ou à la magnitude du signal, et n'affecte pas défavorablement la qualité de cette image ou de ce signal, dans d'autres cas oh la brillance de l'image désirée est tout à fait faible, le rayonnement de fond peut obscurcir l'image ou le signal. Un tel problème est par- ticulièrement aigu dans les instruments à longue portée, tels que les télescopes astronomiques, aussi bien télescopes optiques que les radiotélescopes, les récepteurs à longue distance, et 2.- les instruments utilisant la lumière proche et le bruit radio qu'engendrent les zones urbaines. Plusieurs procédés pour réduire le rayonnement de fond sont connus. Ils comportent l'utilisation de disques d'occultation variés et de surfaces optiques revêtues pour ré- duire la réflectivité des surfaces dans les instruments opti- ques, ainsi que des étages d'amplification super-refroidis à bas niveau de bruit dans les instruments électroniques pour réduire le rayonnement indésirable engendré à l'intérieur de ces instruments. Différents systèmes dans lesquels les signaux reçus par deux récepteurs distincte sont combinés de façon cohé- rente, ont été utilisés pour réduire les effets du rayonnement externe dans les systèmes électroniques, et un système utilisé pour réduire à la fois les effets du rayonnement de fond inter- ne et externe en utilisant des techniques interferométriques est décrit dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique no 4 213 706. Bien que ces techniques réduisent substantiel- lement l'importance du rayonnement de fond, l'implantation de ces techniques exige l'utilisation d'appareillages coûteux, encombrants, et nécessitant un degré élevé de maintenance. Et ce qui est plus important, aucune de ces techniques, à l'excep- tion de différents systèmes et de la technique décrite dans le brevet des Etats Unis d'Amérique n 4 213 706, ne sont en me- sure d'assurer une réduction quelconque en ce qui concerne le rayonnement de fond engendré à l'extérieur. Cependant, bien que le système décrit dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique no 4 213 706 soit en mesure de réduire les effets du rayonnement engendré à l'extérieur, comprenant un rayonnement sur l'axe et en dehors de l'axe, son aptitude à réduire les effets du rayon- nement qui se situe essentiellement en dehors de l'axe, n'est pas optimale. Egalement, ces divers systèmes sont en général complexes et coûteux, et ne procurent pas un accroissement ap- préciable du rapport signal/bruit. En conséquence, un but de la présente invention est de créer un dispositif amélioré pour réduire les effets du rayonnement de fond qui évite la plupart des inconvénients des dispositifs de l'art antérieur. Un autre but de la présente invention, est de créer un dispositif qui réduise le rayonnement de fond résul- tant de sources se situant à l'intérieur et à l'extérieur du 3.- système. Un autre but de la présente invention est de créer un dispositif pour réduire les effets du rayonnement de fond sur une large gamme de fréquences, allant des fréquences radio aux fréquences optiques. Un autre but de la présente invention est de créer un dispositif pour réduire les effets du rayonnement de fond qui soit plus efficace que les dispositifs de l'art anté- rieur. Un autre objet de la présente invention est de créer un dispositif pour réduire les effets du rayonnement de fond qui puisse être utilisé dans les applications à bande large et à bande étroite et puisse être considérablement sim- plifié lorsqu'il est utilisé dans les applications à bande étroite. Selon une réalisation préférée de l'invention, un faisceau incident contenant un rayonnement désiré et un rayonnement non désiré, passe à travers un ensemble à deux di- mensions de déphaseurs, par exemple un ensemble de panneaux de contrôle, fabriqué à partir d'une pluralité de premiers dé- phaseurs présentant une première valeur de décalage de phases et d'une seconde pluralité de déphaseurs présentant une seconde valeur de décalage de phases disposés en rangées et colonnes alternées. De préférence, la différence de valeurs entre le décalage de phases des premiers et des seconds déphaseurs est de l'ordre d'approximativement 1800. Le signal désiré est focalisé sur un seul des déphaseurs, tandis que le rayonnement de fond non désiré, arrive sur une pluralité de déphaseurs, En conséquence, le signal désiré qui est focalisé sur un seul déphaseur est simplement déphasé, tandis que le rayonnement de fond qui arrive sur une pluralité de déphaseurs, qui engendrent une différence de 1800 dans le déphasage, se trouve en consé- quence supprimé. Dans une réalisation en variante, le faisceau incident contenant le rayonnement désiré et le rayonnement non désiré, est scindé en deux faisceaux par un ensemble bi-dimen- sionnel d'éléments espacés physiquement et présentant alternati- vement des caractéristiques de réflexion et de transmission. Un déphaseur est placé sur l'un des faisceaux ainsi scindé ou sur les deux, de façon que les phases des faisceaux émanant des dé- 4.- phaseurs, soient différentes, de préférence décalées de 1800. Les deux faisceaux sont ensuite combinés pour supprimer la radia- tion non désirée par un ensemble bidimensionnel d'éléments es- pacés physiquement et présentant alternativement des caractéris- tiques de réflexion et de transmission complémentaires de celles de l'ensemble utilisées pour scinder le faisceau. Le rayonnement désiré n'est pas supprimé par ce qu'il est focalisé sur un élé- ment de transmission de l'un des ensembles et sur un élément de réflexion de l'autre ensemble. Ainsi, le signal désiré n'est pas scindé comme l'est le rayonnement non désiré, et en consé- quence il n'y a pas de suppression. L'invention sera mieux comprise à partir de la description détaillée qui va suivre et qui se réfère aux dessins ci-joints, dans lesquels: - Les figures la et lb sont des schémas sim- plifiés d'éléments de réfraction et d'éléments de réflexion utilisés dans une première réalisation du dispositif conforme à l'invention, - la figure 2 est une vue en plan de ltensem- ble des déphaseurs utilisable en liaison avec l'invention re- présenté sur les figures la et 1b, - la figure 3 est un schéma simplifié d'une réalisation en variante de la présente invention convenant par- ticulièrement à des applications à bande large, - les figures 4 et 5 montrent les grilles com- plémentaires utilisées dans la réalisation de la figure 3, - la figure 6 montre le modèle de diffraction du rayonnement de fond indésirable produit par le dispositif conforme à l'invention. - En se référant maintenant aux dessins, et en particulier à la figure la, on y voit des éléments de réfrac- tion d'une première réalisation préférée du dispositif conforme à l'invention, désignés dans leur ensemble par la référence 10. Bien que, comme cela a été précédemment indiqué, le dispositif conforme à l'invention puisse 8tre utilisé, à la fois aux fré- quences radio et aux fréquences optiques, le dispositif repré- senté sur la figure la (et sur la figure lb) sera examiné en se référant aux fréquences radio. Le dispositif représenté sur la figure la reçoit de l'énergie d'une source ponctuelle d'énergie à fréquences 5.- radio 12, qui peut être par exemple une antenne dans un réseau de communications, un satellite, ou bien une autre source de fréquences radio, soit basée sur terre, soit dans l'espace. Dans un dispositif à fréquences optiques, la source 12 peut être une source quelconque de lumière, visible ou invisible ou bien telle qu'une étoile, une planète, un laser, etc... Un élément de lentille de réfraction 14 est utilisé, en conjonction avec d'autres éléments décrits ci-dessous, pour focaliser sur un dé- tecteur 16 l'énergie à fréquences radio reçue de la source 12 à fréquences radio. Selon un aspect important de l'invention, une plaque de phase 18 contenant une première pluralité de déphaseurs et une seconde pluralité de déphaseurs 22, est interposée entre la lentille-obJectif 14 et le détecteur 16. Les déphaseurs 20 présentent un premier décalage de phases et sont interposés dans un ensemble bi-dimensionnel comme le montre la figure 2, entre les déphaseurs 22 qui présentent un second décalage de phases différent du décalage de phases des déphaseurs 20. Bien que les valeurs absolues des décalages de phases provoquées par les déphaseurs 20 et 22 ne soient pas critiques, de préférence la différence entre les décalages de phases provo- qués par les déphaseurs 20 et 22 doivent être de 180 pour assurer la suppression du rayonnement de fond indésirable. Pour réaliser ce déphasage souhaité, la plaque de déphasage 18 peut tre fabriquée à partir de tout matériau diélectrique approprié, qui soit essentiellement transparent au rayonnement désiré et non désiré reçu, et qui ralentisse la vitesse de propagation de l'onde radio ou de l'onde lumineuse qui le traverse, tel que par exemple, du bois, de la silice, du verre, de la cérami- que, de la matière plastique, etc... En réalisant les déphaseurs 20 plus épais (et/ ou d'un matériau différent) que les déphaseurs 22, un déphasage plus important est assuré par les déphaseurs 20 que par les dé- phaseurs 22. La différence d'épaisseur entre les déphaseurs 20 et 22, nécessaire pour donner le déphasage souhaité de 1800, dépend de la constante diélectrique (ou de l'indice de réfrac- tion pour un dispositif optique) du matériau utilisé. Une lentille 24 est disposée en étant adjacen- te et à proximité immédiate du déphaseur 18, et un diaphragme 26 est séparé de la lentille 24 d'une distance égale à la dis- 6.- tance focale de cette lentille 24. Une lentille 28 est inter- posée entre le diaphragme 26 et le détecteur 16 et donne une image finale de la source ponctuelle 12 sur le détecteur 16. En cours de fonctionnement, le signal issu de la source ponctuelle 12 est focalisé par la lentille 14 sur l'un des déphaseurs 20 ou 22. Pour des sources non cohérentes et non ponctuelles, chaque point de la source se comportera comme une source ponctuelle, si bien qu'une image est produite qui présente les mêmes propriétés par rapport au rayonnement de fond réduit qu'une source ponctuelle unique. Tles tailles des déphaseurs 20 et 22 sont choisies de façon qu'elles soient approximativement la même que la taille minimum d'une image d'une source ponctuelle qui peut 8tre formée par la lentille 14. Ainsi, bien qu'elle puisse déborder quelque peu sur les déphaseurs adjacents, la majeure partie de l'énergie en prove- nance de la source ponctuelle 12 est confinée sur le déphaseur sur lequel est focalisée l'image de cette source ponctuelle 12. Bn conséquence, lorsqu'il traverse le déphaseur 18, le signal en provenance de la source 12, est simplement déphasé d'une va- leur de déphasage introduite par celui des déphaseurs 20 ou 22 à travers lequel il passe. Inversement, le bruit de fond arrivant sur la plaque de déphaseur 18 est diffus et n'est pas essentiellement confiné à la surface d'un unique déphaseur, mais est au contraire appliqué essentiellement à la totalité de la plaque de déphasage 18. Cela a pour conséquence, que des parties adjacentes du front d'onde du rayonnement indésirable sont déphasées de 180 l'une par rapport à l'autre dans un en- semble bi-dimensionnel, ce dont il résulte un modèle d'interfé- rence entre les parties adjacentes du front d'onde ainsi dé- phasées. Le modèle d'interférence ou de diffraction résultant produit par le rayonnement de fond arrivant sur le diaphragme 26, présente une ou plusieurs larges régions centrales d'in- tensité considérablement réduite, entourées par des zones d'in- tensité accrue, avec le rayonnement en provenance de la source de rayonnement 12 concentré sur l'une des zones d'intensité de rayonnement de fond réduit. La dimension de l'ouverture dans le diaphragme 26 est prévue pour tre essentiellement la même que celle de la zone d'intensité réduite, et le diaphragme est positionné afin de permettre au rayonnement en provenance de la source 12 de le traverser afin d'tire transformé en image 7.- sur le détecteur 16, par la lentille 28. Ainsi, puisque la ma- jeure partie du rayonnement de fond se situe à l'extérieur de l'ouverture du diaphragme 26, elle est effectivement bloquée par ce diaphragme 26 et empochée d'atteindre le détecteur 16, de qui améliore le rapport signal/bruit sur le détecteur 16. Un dispositif réfléchissant analogue au dis- positif représenté sur la figure la, est représenté sur la fi- gure lb. Les composants analogues sur les figures la et lb sont désignés par les mêmes références, ceux de la figure lb étant toutefqis revê+us de l'exposant prime. Un des avantages d'un dispositif réfléchissant, tel que celui représenté sur la figure lb, est que les éléments réfléchissants sont généra- lement moins coûteux et introduisent moins de pertes que des éléments réfringeants. Ceci est particulièrement vrai lorsque des éléments de grandes dimensions sont nécessaires, comme ce- la serait le cas si l'on observe des objets éloignés et dans des dispositifs fonctionnant sur des fréquences plui basses que les fréquences optiques. A de telles fréquences, les élé- ments réfléchissants peuvent 9tre des miroirs ou même des an- tennes en cuvette paraboliques ou d'une autre forme appro- priée. En se référant maintenant àla figure lb, un élément réfléchissant 14' fait fonction d 'élément-objectif pour recevoir le rayonnement en provenance d'une source de rayonnement désirée 12' qui peut être une source similaire à la source 12 dé-rite en relation avec la figure la. L'élément réfléchissant 14' intervient d'une manière analogue à celle de la lentille 14 "figure la) et forme l'image de la source 12' essentiellement sur l'un d'une pluralité de déphaseurs 20' ou 22' d'une plaque de déphasage 18'. Cette plaque de déphasage 18' ainsi que les déphaseurs 20' et 22' peuvent être similaires à la plaque de déphasage 18 représentée sur la figure la. Les éléments réfléchissants 24a' et 24b' remplissent une fonction similaire à celle de la lentille 24 de la figure la. L'élément réfléchissant 24a' forme l'image de la plaque de déphasage 18' sur l'élément réfléchissant 24b'. Cec-i revient à placer la len- tille 24 contre la plaque de déphasage 18 comme c'est le cas sur la figure la. Un diaphragme 26' est espacé de l'élément réfléchissant 24t' d'une distance égale à la distance focale de cet élément réfl&chissant 24b', et positionné pour permettre 8.- au rayonnement désiré en provenance de la source 12', de passer à travers l'ouverture 26'. L'ensemble des franges d'interférence en provenance des sources indésirables est positionné sur le diaphragme 26' de façon qu'une zone d'intensité réduite coïncide avec l'ouverture dans le diaphragme 26', empochant ainsi la majeure partie du rayonnement indésirable de traverser le dia- phragme 26'. Un élément réfléchissant 28' analogue à la lentil- le 28 provoque la formation de l'image de -la source 12' sur un détecteur 16'. Dans une variante de réalisation réfléchis- sante, la plaque de déphasage 18' peut être incorporée sur la surface de l'un des éléments réfléchissants, tels que l'élément réfléchissant 24bt par exemple, en constituant cet élément ré- fléchissant 24b' de façon telle que sa surface réfléchissante soit formée de zones alternativement en saillie et en dépres- sion ou autrement, Dans une telle réalisation, l'image de la source désirée 12', sera essentiellement formée sur l'un des déphaseurs 20" et 22'; (ou bien sur l'une des zones en saillie ou en dépression) sur la surface de l'élément réfléchissant 24b', à la fois par les éléments réfléchissants 14' et 24a' comme le montre la figure lb, ou après un repositionnement approprié des éléments réfléchissants par un unique élément réfléchissant, tel que l'élément réfléchissant 14'. Egalement un dispositif utilisant une combinaison d'éléments réfléchissants et réfrin- geants peut être utilisé. En se référant maintenant à la figure 3, on y voit une variante de réalisation de la présente invention, convenant particulièrement pour les applications optiques à ban- de large, et en conséquence, cette réalisation de la figure 3, sera examinée en termes optiques mais ses principes sont égale- ment applicables au spectre des fréquences radio. Par certains aspects, la réalisation représentée sur la figure 3 est similai- re à. celle décrite dans le brevet des Etats Unis d'Amérique-n0 4 213 706 déjà cité. Toutefois, l'ensemble de diffraction pro- duit par la réalisation de la figure 3, est obtenu au moyen d'une paire de grilles complémentaires, plutÈt qu'au moyen d'un cisaillement longitudinal. Dans la réalisation représentée sur la figure 3, il est prévu un premier trajet optique dans lequel la lumière passe à travers un diaphragme 52 et une lentille-objectif 54 sur des parties réfléchissantes 56 d'une grille 58 comportant 9.- une pluralité de parties réfléchissantes 56 ainsi qu'une plura- lité de parties transparentes 60 disposées entre elles (figure 4). La grille ainsi que les zones réfléchissantes et transparen- tes, sont rectangulaires plut8t que carrées, puisque cette gril- le est placée suivant un angle par rapport au faisceau incident plut8t que perpendiculairement à celui-ci. La lumière réfléchie à partir des parties réfléchissantes 56 passe à travers une au- tre lentille 62, est réfléchie par une paire de miroirs 64 et (ou un pentaprisme réfléchissant), et passe à travers une au- tre lentille 66, à travers les parties transparentes 60 d'une seconde grille complémentaire 68 (figure 5), et arrive sur un plan-image 70 par l'intermédiaire d'une paire de lentilles 72 et 74 et d'un second diaphragme 76. Bien que des grilles com- plémentaires 58 et 68 soient représentées, il est possible d'utiliser des grilles similaires pour les grilles 58 et 68 étant entendu que les grilles 58 et 68 sont décalées l'une par rapport à l'autre de sorte que la lumière passant à travers une partie transparente de la grille 58, rencontre une partie réfléchissante de la grille 68 et vice-versa. Un déphaseur facultatif 73 dont la fonction sera décrite dans une partie suivante de ce texte, peut être placé si on le désire, sur le trajet optique qui vient d'être décrit. Un second trajet optique est prévu à travers le diaphragme 52, la lentille-obJectif 54 et les parties trans- parentes de la grille 58, à travers une lentille 80, un dépha- seur 82, par l'intermédiaire d'une paire de miroirs 83 et 84 (ou d'un pentaprisme réfléchissant), et d'une lentille 86 qui, avec une lentille 80 forme l'image des parties transparentes de la grille 58 sur les parties réfléchissantes de la grille 60 afin de combiner ainsi les deux faisceaux pour les focaliser par les lentilles 72 et 74 sur le plan-image 70. Le déphaseur 82 est prévu pour déphaser le faisceau 90, représenté en tirets, de 180 par rapport au faisceau 92 représenté en trait plein. ainsi, si on n'utilise pas de déphaseur 73, le décalage de pha- ses du déphaseur 82 doit être 180 . Etant donné qu'un décalage de phases d'exactement 180 est difficile à obtenir, les deux déphaseurs 73 et 82 seront généralement utilisés, le déphaseur 72 étant utilisé pour compenser un quelconque écart avec la va- leur 180 présenté par le déphaseur 82. Egalement, la totalité ou une partie du déphasage de 180 peut être obtenue en ajustant 10.- les longueurs relatives des deux trajets optiques, particuliè- rement si l'on opère sur des longueurs d'ondes suffisamment longues pour permettre qu'un ajustement soit réalisé. Egalement en concevant de façon appropriée les déphaseurs 73 et 82, un déphaseur à bande large du type décrit dans le brevet des Etats- Unis d'Amérique nO 4 213 706 peut être constitué. En cours de fonctionnement, la lumière en prove- nance de l'objet désiré 50 est centrée, soit sur une partie trans- parente; soit sur une partie réfléchissante de la grille 58. Si l'image de l'objet 50 est centrée sur une partie réfléchis- sante de la grille 58, l'image est réfléchie vers le bas le long du trajet optique 92 et à travers une partie transparente de la grille 68. Inversement, si l'image de l'objet 50 était centrée sur une partie transparente de la grille 58, cette image tra- verserait la grille 58 le long du trajet optique 90 et serait restituée sur une partie réfléchissante de la grille 68 avant d'être restituée sur le plan focal 70. Ainsi, il n'est pas cri- tique que l'image de l'objet désiré soit formée initialement sur une partie transparente ou réfléchissante de la grille 58, étant entendu que cette image est essentiellement formée sur une zone unique et que les deux grilles 58 et 60 sont complémen- taires ou décalées de façon que l'image d'un objet formée sur une partie réfléchissante de l'une des grilles, sera restituée sur une partie transparente de l'autre grille ou vice versa, puisque pour éviter la suppression de l'image désirée, la majeu- re partie du rayonnement en provenance de l'image désirée, peut seulement être admise à voyager sur un des trajets 90 ou 92, mais non sur les deux. le rayonnement de fond indésiré arrivant sur le plan focal de la lentilleobjectif 54 est diffus, et ne peut donc être focalisé sur un élément unique de la grille 58 (ou de la grille 68), mais couvre plusieurs éléments de l'ensemble. Les parties du rayonnement indésirable dont l'image se forme sur la partie transparente de la grille 58, suivent le trajet 90 et leur image se forme sur les parties réfléchissantes de la grille 68. Les parties du rayonnement indésirable apparaissant sur les parties réfléchissantes de la grille 58, suivent le tra- jet 92 à travers les parties transparentes de la grille 68. Puisqu'il y a une différence de phase de 1800 entre les trajets 90 et 92, les phases des fronts d'onde rfloéchies par les parties réfléchissantes de la grille 68, sont décalées en phase de 1800 avec les fronts d'onde passant à travers les parties transparen- tes de la grille 68, ceci se traduisant par un modèle de diffrac- tion sur le diaphragme 76. Le modèle de diffraction du rayonnement de fond sur le diaphragme 76 présente une région centrale d'intensité considérablement réduite avec le modèle de diffraction du rayon- nement désiré concentré sur la même zone. La dime#sion du diaphrag- me 76 est adaptée à cette zone de rayonnement de fond réduit, arrêtant ainsi le rayonnement de fond et laissant passer la majeure partie du signal désiré. La lentille 74 restitue l'ima- ge de l'objet 50 sur le plan 70 avec un fond considérablement réduit. Comme cela a été précédemment mentionné, le modèle d'interférence ou de diffraction résultant du décalage de phases du front d'onde du rayonnement de fond non désiré, présente une série de zones alternées de haute et de basse inten- sité, disposées selon un ensemble bi-dimensionnel. Un ensemble typique est représenté sur la figure 6. Sur cet ensemble repré- senté sur la figure 6, des zones présentant une concentration de rayonnement élevée sont représentées comme des zones relati- vement sombres, tandis que les zones de concentration relative- ment faible, sont représentées comme des zones éclairées. Ceci est l'opposé de ce qui serait vu si le modèle était observé par l'oeil humain, pour lequel les zones de haute concentration apparaîtraient plus claires que les zones de faible concentra- tion, et ceci a été fait pour faciliter la représentation. Pour la même raison, il a été représenté sur la figure 6, seu- lement quatre zones de haute intensité, mais dans un ensemble pratique, beaucoup plus de zones d'intensité élevée et faible seraient présentes dans les limites du modèle. Egalement, le taux de transition entre les zones d'intensité élevée et faible, dépend du nombre de déphaseurs dans l'ensemble, ce taux de tran- sition étant plus important ou plus net pour des dispositifs comportant un grand nombre de déphaseurs ou d'éléments dans l'en- semble ou la grille. Les zones de concentration élevée et faible sont disposées selon un ensemble rectangulaire avec une plurali- té de zones de haute concentration 100 entourées par des zones 102 de concentration graduellement décroissante. La concentra- 12.- tration dans les zones 102 décro t graduellement en fonction de ladistance à partir des zones 100 et sert à constituer une zone 104 de concentration relativement basse. Ainsi, an positior le modèle de diffraction par rapport à l'ouverture d'un diaphragme, tel que le diaphragme 76, ayant une ouverture rec- tangulaire 126 (représentée en tirets) de façon que la zone de concentration réduite 104 coïncide avec cette ouverture 126, la majeure partie du rayonnement non désiré est arrêtée. Si le rayonnement désiré est alors concentrée sur l'ouverture 126, une amélioration du rapport du rayonnement désiré au rayonnement non désiré, est obtenue. Une autre amélioration peut encore * être faite en courbant les bords de l'ouverture dans le diaphrag- me afin d'obtenir une ouverture curviligne prévue pour coin- cider avec la courbure du gradient du rayonnement non désiré afin de constituer une ouverture 126' (représentée en trait plein) présentant des bords courbés. Egalement, en donnant à l'ouverture dans le diaphragme 52 la forme d'un rectangle ou d'un carré, par exemple, ayant une forme similaire à celle de la ligne en tirets 126 de la figure 6, il en résulte une confi- guration essentiellement carrée pour les zones 100, 102 et 104 qui coïncide avec l'ouverture rectangulaire 126, et on ob- tient ainsi une amélioration du rapport signal/bruit. L'invention décrite ci-dessus a été successive- ment contrôlée et mise en oeuvre à des fréquences d'approximati- vement 9,5 gHz et 95 gHz correspondant à des longueurs d'ondes de 3cm et de 3 mm respectivement. Une version simplifiée du système représenté sur la figure lb a été mis en oeuvre à 9,5gHz et utilisait un miroir réfléchissant pour diriger le rayonne- ment désiré et le rayonnement non désiré sur un ensemble de dé- phaseurs en bois. Cet ensemble de déphaseurs était fabriqué à partir d'une feuille de contre-plaqué de 1,22 m x 1,22 m ayant des carrés de contre-plaqué de 15,25 cm fixés sur elle pour cons- tituer des déphaseurs de plus forte épaisseur similaires aux déphaseurs 20 représentés sur la figure 2. Les zones entre les carrés de contre- plaqué formaient les déphaseurs plus minces similaires aux déphaveurs 22. Deux versions du dispositif 95gHz ont été construites et essayées. L'une était semblable au dis- positif représenté sur la figure la, et l'autre était semblable au dispositif représenté sur la figure 3. Dans ce dernier dis- positif, les zones réfléchissantes et transparentes des deux 13.- grilles étaient approximativement de 1cm x 1,4 cm chacune. Pour des fréquences plus élevées, les déphaseurs ou les éléments transparents et réfléchissants, peuvent être fabriquée en utili- sant les techniques de fabrication des semi-conducteurs. De façon évidente, de nombreuses modifications et variantes de la présente invention peuvent être envisagées à la lumière des enseignements qui précèdent. Ainsi, il doit être entendu que dans le cadre des revendications ci-jointes, l'invention peut être matérialisée autrement que selon ce qui a été décrit spécifiquement ci-dessus. a 14.- REVEND ICATIONS 1.- Dispositif pour réduire les effets du rayonnement de fond, dispositif caractérisé en ce qu'il comporte un appareillage de déphasage comportant une pluralité d'éléments bi-dimensionnels espacés pour décaler la phase d'un front d'onde arrivant sur ces éléments, afin de produire un front d'onde présentant des parties décalées essentiellement de 1800 les unes par rapport aux autres dans un ensemble bi-dimensionnel afin de produire un modèle de diffraction comportant au moins une zone d'intensité de rayonnement réduite, un appareillage étant prévu pour recevoir un faisceau incident de rayonnement conte- nant un rayonnement en provenance d'une source de rayonnement désiré et un rayonnement non désiré, et focalisant ce faisceau de façon telle que la majeure partié du rayonnement désiré soit concentré sur un seul de ces éléments, tandis que le rayonnement non désiré est dispersé sur plusieurs de ces élémentst un appa- reillage étant prévu pour refocaliser le front d'onde diphasé émanant de ces moyens de déphasage afin de produire une image de la source de rayonnement désiré superposée sur une zone d'in- tensité de rayonnement réduite. 2.- Dispositif selon la revendication 1, carac- térisé en ce qu'il comporte un appareillage avec un diaphragme définissant une ouverture ayant une dimension et une forme es- sentiellement similaires à la dimension et à la forme de cette zone unique de rayonnement réduit, ce diaphragme étant position- né par rapport au front d'onde déphasé de façon que son ouver- ture coïncide essentiellement avec cette zone unique de radia- tion réduite, et le rayonnement en provenance de la source de rayonnement désiré, pour laisser passer ce rayonnement en prove- nance de la source de rayonnement désiré et bloquer le rayon- nement non désiré ne coïncidant pas avec cette ouverture. 3.- Dispositif selon la revendication 2, carac- térisé en ce que le diaphragme définit une ouverture ayant des cStés curvilignes dont la courbure est similaire à la courbure du gradient du rayonnement non désiré. 4.- Dispositif selon la revendication 2, carac- térisé en ce que le diaphragme est essentiellement rectangu- laire. 5.- Dispositif selon la revendication 4, carac- térisé en ce qu'il comporte un second diaphragme définissant une seconde ouverture essentiellement rectangulaire et placé entre les moyens de réception du faisceau incident et l'appa- reillage de déphasage, ce second diaphragme étant efficace pour rendre la dimension et la forme de l'une de ces zones de rayon- nement réduit essentiellement similaire à la dimension et à la forme de cette ouverture essentiellement rectangulaire. 6.- Dispositif selon la revendication 5, carac- térisé en ce que la première et la seconde ouverture sont es- sentiellement carrées. 7.- Dispositif selon la revendication 1, carac- térisé en ce que la pluralité d'éléments bi-dimensionnels espa- cés de l'appareillage de déphasage comporte une pluralité de premiers et de seconds déphaseurs présentant un premier et un second décalage de phases respectivement, la différence entre ce premier et ce second décalagesétant essentiellement de 1800, ces premiers et ces seconds déphaseurs étant disposés adjacents les uns aux autres selon un ensemble alterné en deux dimensions. 8.- Dispositif selon la revendication 7, carac- térisé en ce que chacun de ces déphaseurs est fabriqué en un matériau qui est essentiellement transparent pour le rayonnement désiré et le rayonnement non désiré et qui est efficace pour ralentir la vitesse de propagation de ce rayonnement désiré et de ce rayonnement non désiré, les premiers déphaseurs étant ef- ficaces pour ralentir ce rayonnement plus que les seconds dé- phaseurs afin d'obtenir ainsi la différence dans le déphasage. 9.- Dispositif selon la revendication 8, ca- ractérisé en ce que les premiers déphaseurs sont plus épais que les seconds déphaseurs. 10.- Dispositif selon la revendication 8, carac- térisé en ce que les premiers déphaseurs ont un indice de ré- fraction plus grand que les seconds déphaseurs. 11.- Dispositif selon la revendication 8, ca- ractérisé en ce que les premiers déphaseurs ont une constante diélectrique plus grande que les seconds déphaseurs. 12.- Dispositif selon la revendication 3, ca- ractérisé en ce que chacun de ces déphaseurs a une dimension essentiellement égale à la dimension de la plus petite image qui peut être produite par les moyens de réception et de fo- calisation. 15.- 16.- 13.- Dispositif selon la revendication 7, ca- ractérisé en ce que les déphaseurs-sont carrés. 14.- Dispositif selon la revendication 1, ca- ractérisé en ce que l'appareillage de déphasage comporte une pluralité de premiers éléments qui sont essentiellement trans- parents au rayonnement désiré et au rayonnement non désiré, et une pluralité de seconds éléments qui sont essentiellement réfléchissants pour le rayonnement désiré et le rayonnement non désiré, ces premiers et seconds éléments étant disposés ad- jacents les uns aux autres dans un ensemble à deux dimensions de premiers et de seconds éléments alternés, ces premiers et ces seconds éléments étant efficaces pour scinder le rayonnement non désiré en un premier et en un second faisceaux, le premier faisceau traversant les premiers éléments tandis que le second faisceau est réfléchi par les seconds éléments. 15.- Dispositif selon la revendication 14, ca- ractérisé en ce que l'appareillage de déphasage comporte en ou- tre des moyens disposés sur le trajet d'au moins l'un des fais- ceaux pour décaler la phase de l'un de ces faisceaux de 1800 essentiellement par rapport à la phase de l'autre faisceau, et des moyens pour recombiner le premier et le second faisceaux afin de produire le modèle de diffraction. 16.- Dispositif selon la revendication 15, ca- ractérisé en ce que ''ppareillage de déphasage est un appareil- lage de déphasage à bande large. 17.- Dispositif selon la revendication 15, ca- ractérisé en ce que les moyens de recombinaison comportent une seconde pluralité de premiers éléments qui sont essentielledent transparents au rayonnement désiré et au rayonnement non désiré, ainsi qu'une seconde pluralité de seconds éléments qui sont es- sentiellement réfléchissants pour le rayonnement désiré et le rayonnement non désiré, ces premiers et seconds éléments étant adjacents les uns aux autres dans un second ensemble bi-dimen- sionnel o alternent les premiers et les seconds éléments, ce second ensemble bi-dimensionnel étant disposé sur le trajet à la fois du premier et du second faisceaux, ce second ensemble étant positionné par rapport à ce premier et à ce second fais- ceaux de façon que le rayonnement passant à travers les premiers éléments du premier ensemble arrive sur les seconds éléments du second ensemble, tandis que le rayonnement réfléchi à partir des 17.- seconds éléments du premier ensemble, passe à travers les premiers éléments du second ensemble. 18.- Dispositif selon la revendication 17, ca- ractérisé en ce que le premier ensemble est disposé essentiel- lement selon un angle de 45 par rapport au faisceau de rayon- nement désiré et non désiré, tandis que le second ensemble est disposé selon un angle essentiellement de 45 par rapport à la fois au premier et au second faisceaux. 19.- Dispositif selon la revendication 14, ca- ractérisé en ce que chacun des éléments a une dimension essen- tiellement égale à la dimension de la plus petite image qui peut être formée sur le premier ensemble par les moyens de récep- tion et de Localisation. 20.- Dispositif selon la revendication 14, ca- ractérisé en ce que ces éléments sont rectangulaires. 21.- Dispositif selon la revendication 1, carac- térisé en ce qu'il comporte un appareillage comprenant un ensem- ble bi-dimensionnel de premiers et de seconds déphaseurs, pré- sentant deux valeurs différentes de décalage de phases, et al- ternés les uns avec les autres dans deux dimensions pour dépha- ser le front d'onde d'un faisceau incident de rayonnement désiré en provenance d'un objet désiré et le rayonnement non désiré afin de fournir un modèle d'interférence présentant un ensemble bi-dimensionnel de zones d'intensités accrues et réduites alter- nant les unes avec les autres dans deux dimensions, l'appareil- lage étant prévu pour concentrer le rayonnement désiré sur une zone d'intensité réduite de ce modèle d'interférence. a' 22.- Dispositif selon la revendication 21, ca- ractérisé en ce que l'ensemble bi-dimensionnel comporte un en- semble bi-dimensionnel de déphaseurs réfléchissants ayant des surfaces décalées les unes par rapport aux autres, afin d'en- gendrer deux valeurs différentes de déphasage qui diffèrent essentiellement l'une de l'autre de 180 . 23.- Dispositif selon la revendication 22, ca- ractérisé en ce que cet ensemble de premiers et seconds dépha- seurs constitue un miroir ayant une distance focale prédéter- minée. 24.- Dispositif selon la revendication 21, ca- ractérisé en ce que les valeurs des déphasages produits par les premiers et seconds d6phaseurs diffèrent essentiellement de 180 . 18.- 25.- Dispositif selon la revendication 24, ca- ractérisé en ce que chacun de ces déphaseurs est fabriqué en un matériau qui est essentiellement transparent au rayonnement dé- siré et au rayonnement indésiré, et efficace pour ralentir la vitesse de propagation de ce rayonnement désiré et de ce rayon- nement non désiré, les premiers déphaseurs étant efficaces pour ralentir le rayonnement plus que les seconds déphaseurs, afin d'engendrer ainsi les déphasages différents. 26.- Dispositif selon la revendication 25, ca- te ractérisé en ce que les premiers déphaseurs sont plus épais que les seconds déphaseurs. 27.- Dispositif selon la revendication 25, ca- ractérisé en ce que les premiers déphaseurs ont un indice de réfraction plus grand que les seconds déphaseurs. 28.- Dispositif selon la revendication 25, ca- ractérisé en ce que les premiers déphaseurs ont une constante diélectrique plus grande que les seconds déphaseurs. 29.- Dispositif selon la revendication 24, ca- ractérisé en ce qu'il comporte un appareillage pour focaliser la majeure partie du rayonnement désiré sur un déphaseur unique, tandis que chacun des déphaseurs a une dimension essentiellement égale à la dimension de la plus petite image qui peut être pro- duite par cet appareillage de focalisation 30.- Dispositif selon la revendication 29, ca- ractérisé en ce que les déphaseurs sont carrés. 31.-Dispositif selon la revendication 24, ca- ractérisé en ce qu'il comporte un appareillage comprenant un diaphragme définissant une ouverture avec une dimension et une forme essentiellement similaires à la dimension et à la forme de l'une des zones d'intensité réduite, ce diaphragme étant po- sitionné par rapport au modèle d'interférence de façon que l'ou- verture coïncide essentiellement avec une des zones à intensité réduite, et le rayonnement désiré concentré sur cette zone. 32.- Dispositif selon la revendication 31, ca- ractérisé en ce que ce diaphragme définit une ouverture ayant des côtés curvilignes avec une courbure similaire à la courbure du gradient du rayonnement non désiré. 33.- Dispositif selon la revendication 31, ca- ractérisé en ce que ce diaphragme est essentiellement rectangu- laire. >4 19.- 34.- Dispositif selon la revendication 31, ca- ractérisé en ce qu'il comporte un second diaphragme définissant une seconde ouverture essentiellement rectangulaire disposée en- tre les moyens de réception du faisceau incident et les moyens de déphasage, ce second diaphragme étant efficace pour rendre la dimension et la forme de l'une des zones de rayonnement ré- duit essentiellement similairesà la dimension et à la forme de cette ouverture essentiellement rectangulaire. 35.- Dispositif selon la revendication 34, ca- ractérisé en ce que la première et la seconde ouvertures sont essentiellement carrées. 36.- Dispositif selon la revendication 31, ca- ractérisé en ce que l'appareillage de concentration comporte un élément réfringeant. 37.- Dispositif selon la revendication 31, ca- ractérisé en ce que l'appareil de concentration comporte un élé- ment réfléchissant. 38.- Dispositif selon la revendication 1, carac- térisé en ce qu'il comporte un premier ensemble bi-dimensionnel d'éléments transparents et réfléchissants, ces éléments trans- parents et réfléchissants alternant les uns avec les autres en deux dimensions, un premier appareillage pour diriger un faisceau incident contenant le rayonnement désiré en provenance d'une source de rayonnement désiré et le rayonnement indésiré sur le premier ensemble, ce premier ensemble étant efficace pour faire passer une première partie du faisceau incident à travers les éléments transparents et pour réfléchir une seconde partie du faisceau incident à partir des éléments réfléchis- sants, un second ensemble bi-dimensionnel d'éléments transpa- rente et réfléchissants, ces éléments transparents et réflé- chissants alternant les uns avec les autres en deux dimensions, un second appareillage pour diriger la première partie du fais- ceau incident sur les éléments réfléchissants du second ensemble bidimensionnel et un troisième appareillage pour diriger la seconde partie du faisceau incident sur les éléments transparents du second ensemble bi-dimensionnel, un de ces seconds et troi- sièmes appareillages directeurs, comportant un appareillage de déphasage pour décaler la phase de l'une de ces premières et se- condes parties du faisceau incident par rapport à la phase de l'autre partie, le second ensemble bi-dimensionnel étant efficace 20.- pour combiner la première et la seconde parties du faisceau in- cident enfin d'engendrer ainsi un modèle d'interférence du rayon- nement non désiré comportant un ensemble bi-dimensionnel de zones d'intensité accrue et d'intensité réduite alternant les unes avec les autres en deux dimensions, le rayonnement désiré étant concentré sur l'une de ces zones d'intensité réduite. 39.- Dispositif selon la revendication 38, ca- ractérisé en ce que l'appareillage de déphasage comporte un ap- pareillage pour déphaser l'une de ces premières et secondes parties du faisceau incident, essentiellement de 1800 par rap- port à la phase de l'autre partie. 40.- Dispositif selon la revendication 39, ca- ractérisé en ce que l'appareillage de déphasage est un déphaseur à bande large. 41.- Dispositif selon la revendication 39, ca- ractérisé en ce que chacun de ces éléments transparents et ré- fléchissants a une dimension essentiellement égale-à la dimen- sion de la plus petite image qui peut être produite sur ces élé- ments par les moyens directeurs du faisceau incident. 42.- Dispositif selon la revendication 41, ca- ractérisé en ce que le premier ensemble est disposé essentiel- lement selon un angle de 45 par rapport au faisceau incident contenant le rayonnement désiré et le rayonnement non désiré, tandis que le second ensemble est disposé essentiellement se- lon un angle de 45 par rapport à la fois à la première et à la seconde parties de ce faisceau incident. 43.- Dispositif selon la revendication 42, ca- ractérisé en ce que les éléments sont rectangulaires. 44.- Dispositif selon la revendication 43, ca- ractérisé en ce qu'il comporte un appareillage comprenant un diaphragme définissant une ouverture avec une dimension et une forme essentiellement similaires à la dimension et à la forme de l'une des zones d'intensité réduite, ce diaphragme étant positionné par rapport au modèle d'interférence de façon que l'ouverture coïncide essentiellement avec une des zones d'in- tensité réduite et le rayonnement désiré concentré sur cette zone. 45.- Dispositif selon la revendication 44, ca- ractérisé en ce qu'il comporte un appareillage pour recevoir et refocaliser l'énergie désirée ainsi concentrée. 21.- 46.- Procédé pour réduire les effets de rayon- nement de fond indésirables en mettant en oeuvre un dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 45, procédé carac- térisé en ce qu'on déphase le front d'onde d'un faisceau inci- dent contenant le rayonnement désiré en provenance d'une source de rayonnement désiré, et le rayonnement indésiré, de manière à engendrer un ensemble en deux dimensions de deux différentes phases alternées l'une avec l'autre en deux dimensions pour four- nir un modèle d'interférence bi-dimensionnel du rayonnement non désiré présentant des zones d'intensitésaccrue et réduite al- ternées dans les deux dimensions, et on concentre le rayonne- ment en provenance de la source de rayonnement désiré sur une des zones d'intensité réduite du modèle d'interférence du rayonnement non désiré, de façon isoler ainsi le rayonnement dé- siré du rayonnement non désiré. 47.- Procédé selon la revendication 46, carac- térisé en ce que l'étape de déphasage du front d'onde inclue l'étape de sélection des deux différentes phases de façon qu'el- les diffèrent l'une de l'autre essentiellement de 180 . 48.- Procédé pour réduire les effets d'un rayonnement de fond indésirables en mettant en oeuvre un dispo- sitif selon l'une quelconque des revendications 1 à 45, procédé caractérisé en ce qu'on fait passer un faisceau incident conte- nant le rayonnement désiré en provenance d'une source de rayon- nement désiré et le rayonnement non désiré, à travers des moyens pour déphaser le front d'onde du rayonnement non désiré en un ensemble à deux dimensions comportant une première valeur de déphasage et une seconde valeur de déphasage différente de la première valeur, cet ensemble bi-dimensionnel comportant des ran- gées et des colonnes de la première et de la seconde phases al- ternées et détectant le faisceau après qu'il soit passé à travers cet ensemble. 49.- Procédé selon la revendication 48, carac- térisé en ce qu'il comporte la focalisation du faisceau incident contenant le rayonnement désiré en provenance de la source de rayonnement désiré, et le rayonnement non désiré de façon que l'image de la source de radiation désirée soit formée essentiel- lement sur un seul des déphaseurs. 50.- Procédé selon la revendication 49, caractérisé en ce que a détection du faisceau après qu'il soit passé à travers l'ensemble comporte la focalisation du faisceau sur un détecteur.