Brevet FR2462695A1 — publié le 19810213

La présente invention concerne un capteur utilisant deux oscillateurs accordables reliés à un mélangeur de fréquence et comportant un dispositif permettant le calibrage de la fréquence du signal de sortie et le procédé de calibrage de cette fréquence. L'invention concerne en particulier les capteurs à ondes élastiques de surface. Il est connu d'utiliser les ondes élastiques de surface se propageant entre deux transducteurs à électrodes interdigitées dans un substrat piézoélectrique pour mesurer des accélérations, IQ des forces ou des pressions s'exerçant sur une mince membrane con- tenue dans ce substrat. A cet effet, la ligne à retard formée en- tre deux transducteurs est rebouclée au moyen d'un amplificateur et constitue un oscillateur de fréquence variable fonction des variations de contrainte dans les matériaux. Il est également connu d'associer deux oscillateurs de ce type, en implantant sur la même membrane deux lignes à retard et de combiner les fréquences de sortie de ces deux oscillateurs de telle sorte qu'une variation des contraintes appliquées-à la membrane produise des variations de fréquence en sens contraire. La fréquence de sortie du capteur ainsi réalisé est égale au bat- tement entre ces deux fréquences. Ce procédé permet de compenser en grande partie notamment l'effet des dérives en température, les dérives en température se traduisant par des variations en fréquen- ce de même signe dans les deux oscillateurs. Un dispositif de ce type est décrit par exemple dans la demande de brevet français No 79.06 134, déposée le 9 Mars 1979. Pour certains types d'application, il est nécessaire que la fréquence de sortie du capteur de pression ne soit pas nulle à l'état de repos, c'est à dire en l'absence de toute contrainte. C'est notamment le cas du capteur décrit dans la demande de bre- Vet précitée. Ce capteur permet d'effectuer des mesures de dé- pression par rapport à la pression atmosphérique et peut notam- ment être utilisé pour la commande d'un moteur d'automobile à combustion interne. La fréquence des deux oscillateurs constituant le capteur (et de ce fait la fréquence de sortie du capteur, dif- férence de ces deux fréquences) dépend de nombreux paramètres, en particulier de la nature du cristal utilisé, de la nature des con- nexions et des caractéristiques des circuits électriques utilisés. -2 - 246-2695 Dans le cadre des applications dites grand public, des con- traintes économiques imposent-l'utilisation d'éléments bon marché. Il s'en suit que, par exemple, les amplificateurs constituant les circuits électroniques associés présentent des dispersions nota- bles dans leurs paramètres caractéristiques. La conséquence direc- te est que la valeur de la fréquence de battement à l'état de re- pos n'est pas obtenue de manière reproductible d'un échantillon à l'autre. Pour pallier ces difficultés, l'invention a donc pour objet un capteur du type comportant deux lignes à retard comprenant des transducteurs,portées par une première face d'un support, et sou- mises à des contraintes en sens opposé; les lignes à retard étant en outre connectées par des circuits de liaison à des circuits électriques-appropriés pour réaliser deux boucles constituant cha- cune un oscillateur produisant des signaux (S1, S2) respectivement d'une première et d'une seconde fréquence (f1, f2) destinés à être mélangées pour produire un signal de sortie (S) d'une troisième fréquence (fs); capteur caractérisé principalement en ce qu'il comprend un dispositif de calibrage constitué par au moins une ligne à retard supplémentaire ajustable par usinagelaser ou par sa- blage)insérée dans les circuits de liaison d'un des oscillateurs. L'invention a également pour objet un procédé de calibrage de la fréquence (fs) du signal de sortie (S) d'un tel capteur caractérisé en ce que, la fréquence (f1) du signal (S1) produit par l'oscillateur comprenant le dispositif de calibrage étant choisie supérieure d'une valeur prédéterminée à la fréquence (f2) du signal (S2) produit par le second oscillateur, il est procédé aux étapes suivantes - - mesure en continu de la valeur de la fréquence (fs) du signal de sortie; - réalisation d'au moins une entaille, à l'aide d'une source laser, dans les zones métalliques comprises entre deux créneaux de la bande métallique de façon à augmenter le retard apporté par la ligne à retard supplémentaire et à diminuer en proportion la fré- quence (f1) du signal (S1) produit par l'oscillateur comportant la ligne à retard supplémentaire, jusqu'à ce que la fréquence (fs) du signal de sortie (S) atteigne la valeur prédéterminée. L'invention sera mieux comprise et d'autres avantages appa- raitront à la lecture de la description ci-après en se référant aux dessins annexés parmi lesquels - les figures 1 et 2 illustrent un exemple de capteur selon l'art antérieur, - la figure 3 est le schéma électrique équivalent à un oscil- lateur à ondes élastiques de surface; - la figure 4 illustre un premier procédé permettant le cali- brage de la fréquence de sortie d'un capteur de pression; - la figure 5 illustre le procédé selon l'invention; - les figures 6 et 7 illustrent un capteur de pression à on- des élastiques comportant un dispositif permettant le calibrage selon le procédé de l'invention. Les figures 1 et 2 représentent respectivement en vue de des- sus et en coupeun capteur de pression à ondes élastiques de sur- face fonctionnant selon le principe d'un capteur à deux oscilla- teurs. Ce capteur comprend un substrat piézoélectrique, par exem- ple en quartz, constituant une plaquette solidaire d'un support 9. Ce support est muni d'un évidement central circulaire dont la pro- jection sur la plaquette 4 est représentée sur la figure 1 en poin- tillé. La surface interne à ce cercle constitue la partie utile de la plaquette 4. Dans cette zone utile, sont réalisées deux lignes à retard, l'une d'axe X passant par le centre du cercle constituée par deux transducteurs 5 et 6 en forme de peignes aux dents imbri- quées 5 et 6, l'autre constituée par deux transducteurs supplémen- taires 7 et 8 disposés selon un axe parallèle à l'axe X et proche de la périphérie de la zone utile, de façon que les effets d'une différence de pression entre les deux faces sur les contraintes imposées aux zones correspondantes de la plaquette donc sur la vitesse de propagation des ondes, soient de sens opposé pour les deux lignes. Les oscillateurs sont réalisés en rebouclant sur eux-mrnmes d'une part les transducteurs 5 et 6 et d'autre part les transducteurs 7 et 8, respectivement par les amplificateurs 1 et 2. Le cablage électrique est tel que les fréquences f1 du signal présent à la sortie S1 et f2 du signal présent à la sortie S2 varient en sens contraire lorsque la différence de pression entre les faces supérieure et inférieure de la plaquette 4 varie. Ces fréquences sont mélangées par le circuit 3 qui fournit un si- gnal de sortie S, de fréquence fs ou fréquence de battement égale à la différence des fréquences: f1 - f2. La figure 3 est un schéma électrique équivalent à chaque oscillateur. Pour chacun des oscillateurs, les conditions d'oscillation sont données par la relation: a + 0 + Oc = 2wn (1) Relation dans laquelle: - n est un nombre entier; - P0 est le déphasage produit par la ligne de retard; - -a est le déphasage produit par l'amplificateur, (respec- a tivement 1 ou 2); - c est le déphasage produit par les connexions, (respecti- vement el/S1, e2/S2). La relation (1) peut encore s'écrire: w (tO0 + T) + Da = 2w n (2) a o: Test le temps de parcours dans les connexions, - f est le déphasage introduit par l'amplificateur; a - TO est le temps de parcours des ondes de surface entre le transducteur émetteur (5 ou 7) et le transducteur récepteur (6 ou 8) séparé par une distance L. Comme il est bien connu, cette distance L est égale à l'éloignement entre deux dents homologues des transducteurs émetteurs (5 ou 7) et récepteurs (6 ou 8), - w. la pulsation. Cette fréquence d'oscillation est alors égale à: n - D /2 un a f = - (3) t + T o Après mélange dans le circuit 3, la fréquence de sortie ou fréquence de battement dépend donc de la nature du cristal, de l'amplificateur et de la forme et de la nature des connexions. La plaquette 4 est taillée dans un cristal piézoélectrique. Le temps nécessaire à la propagation d'une onde émise par l'un des transducteurs émetteurs (5 ou 7) pour atteindre le transduc- teur récepteur homologue (6 ou 8) dépend de la qualité du cristal utilisé et du positionnement du masque par rapport aux axes cris- tallographiques. Pour le quartz, en coupe S T, il a été calculé une variation relative de vitesse de 10 4 par degré de décalages. Af ->4 D'o une variation de la fréquence -f peu différente de 10.n ; o n est le nombre de degrés. Dans le cas d'une production en grande série, une erreur d'orientation de 20 environ est admise qui se décompose en environ d'erreur due à l'orientation de la plaquette fournie et environ d'erreur due au positionnement par l'opérateur. Ce qui conduit pour une valeur typique de la fréquence de l'oscillateur égale à MHz à une variation Af de fréquence égale à environ 20 kHz. Le temps de parcours dans les connexions intervient également dans la définition de la fréquence d'oscillation. Ce temps de par- cours dépend de la nature de ces connexions, de leur configuration géométrique et des interactions entre ces différentes connexions et les transducteurs. Enfin la fréquence de l'oscillation dépend également du dépha- sage apporté par l'amplificateur. Ce déphasage est lié notamment au gain de cet amplificateur. Celui-ci se présente en général sous forme d'-un module comprenant des composants semiconducteurs inté- grés sur une puce ou interconnectés sous forme d'un circuit hy- bride. Ces modules réalisés en grande série présentent des disper- sions quant à leurs paramètres caractéristiques et en particulier quant à leur gain propre. Pour une réalisation concrète, des valeurs typiques de la fréquence d'oscillation de chacun des oscillateurs est de l'ordre de 100 MHz. On souhaite une fréquence de battement au repos de l'ordre de 100 kHz. La reproductibilité de cette fréquence de bat- tement doit être établie avec une précision de l'ordre de + 1%, quelles que soient les causes de dérive. Comme il a été vu précédemment, les seules erreurs dues au cristal sont de l'ordre de + 20 kHz compte non tenu des dérives en température. Le fait d'utiliser deux oscillateurs permet d'at- ténuer en partie l'effet de ces dérives en température. D'autres procédés sortant du cadre de la présente invention peuvent être adoptés permettant de réduire encore les effets résiduels des dé- rives en température. Le retard moyen pour une géométrie de capteur donnée est de l'ordre de t0 = 1.6 ps. La précision souhaitée étant de + 1%, la fréquence de-battement doit être définie à + IKHz. Or, une varia- tion de 1 KHz sur la fréquence d'oscillation conduit à une varia- tion de retard: At = to. 10O5 = 0.0 16 ns. Pour obtenir la reproductibilité des performances avec la précision souhaitée, il est donc nécessaire que la différence des retards-entre les deux voies constituées chacune par un oscillateur,soit inférieure à cette valeur. Dans la description précédente, il a été supposé que l'onde de surface produite par-le transducteur émetteur (5 ou 7) se pro- page librement à la surface de la plaquette piézoélectrique 4 sur une distance L. Le temps de propagation est alors donné par la formule: t = L (4) libre ou Vl"bre est la vitesse de propagation de l'onde à la surface du substrat. Si on dépose sur la plaquette, le long du parcours, une-pfa- ge métallique de longueur L', la vitesse de propagation est ra- lentie sur -cette distance. Le temps nécessaire à l'onde émise pour franchir cette plage est donnée par la formule t' L= 12(5) Vmétal avec V V et V é la vitesse de propagation dans la métal zone métallisée. Ce ralentissement est dû à deux effets créant une interaction entre l'onde et le milieu de propagation: effet de court-circuit de champ électrique et effet de "chargement" par la masse propre de la plage métallique. Le temps nécessaire à la propagation au retard apporté par la ligne devient t = L - L' + L' (6) Vlibre métal La variation du retard est: AT t -t0 (7) Un premier procédé pour ajuster la fréquence de sortie fS = fi - f2 du capteur consisterait à augmenter le retard appor- té par l'une des voies, en disposant pour ce faire une plage mé- tallique 10 entre les transducteurs 5 et 6, comme illustré sur la figure 4, et à ajuster la longueur L' de cette plage par découpa- ge laser jusqu'à obtenir une fréquence de battement correcte. A titre d'exemple non limitatif, si L = L' A T z t- i L___ _ _(8) à T = t0 0 '=L(8 'Vmétal Vlibre et AT = Vmétal (9) T Vtl - Vlibre i5 Pour le quartz, coupe ST AT 2 4 T Pour f1 = 100 MHz, la variation de fréquence Af1 obtenue est Af1 = 20 KHz, ce qui est de l'ordre de grandeur des correc- tions de fréquence souhaitée. Un second procédé consisterait à supprimer par découpe au laser un nombre prédéterminé de dents des peignes constituant les transducteurs à électrodes interdigités de façon à modifier la distance moyenne L. Ces approches simples présentent cependant des inconvénients - réglage discontinu par pas, au moins pour une des approches; - échauffement local du substrat entraînant des modifications de conditions de propagation des ondes acoustiques et des dérives supplémentaires de la fréquence d'oscillation. Ces approches ne permettent donc pas la reproductibilité de la fréquence de battement souhaitée. L'invention propose un procédé permettant le calibrage de la fréquence de battement basé sur la modification de la longueur des trajets dans les connexions disposées entre les lignes à retard acoustique et les éléments électroniques actifs. Le procédé selon l'invention va être décrit en relation avec les figures 5 à 7. Pour ce faire les connexions d'une des voies du capteur, c'est-à-dire les connexions de rebouclage d'un des oscillateurs vont être dotées d'une configuration telle qu'elles apportent un retard supplémentaire préétabli. Pour obtenir une variation de 1 KHz sur la fréquence d'oscillation, il faut introduire un re- tard supplémentaire A to = t 10-5 soit At0 peu différent de 0 0 0.0 16 ns. La différence des retards entre les deux voies ne doit donc pas dépasser cette valeur maximun de 0.0 16 ns. Un câble classique présente un retard de 5 ns pour un mètre. Il faut donc une longueur de câble d'environ 3 mm pour obtenir cette valeur. L'ordre de grandeur est trop faible pour que l'on puisse ajuster avec précision la fréquence d'oscillation par cette méthode. Selon l'invention, on introduit dans l'une des connexions de rebouclage, par exemple comme illustré sur la figure 6, dans la connexion e un dispositif de calibrage à ligne à retard supplé- mentaire 11. Cette ligne à retard se réduit à une bande métallique dotée d'une structure géométrique prédéterminée et connue sous le nom anglo-saxon de " Microstrip". Le procédé de fabrication et de calibrage d'un capteur selon l'invention comprend les étapes suivantes: 1) Elaboration par dépôt métallique sur une plaquette de cris- tal piézoélectrique du circuit comprenant les deux lignes à retard nécessaires à la constitution des deux oscillateurs du capteur à ondes élastiques de surface. Ces lignes comprennent les transduc- teurs émetteurs à électrodes interdigitées des deux voies: 5 et 7 ainsi que les transducteurs récepteurs à électrodes interdigitées: 6 et 8. En plus des circuits de liaisons ou connexions habituels, l'une des voies est déséquilibrée par l'incorporation du dispositif à retard Il précité. A l'exclusion de ce dispositif, le circuit élaboré durant cette étape ne diffère en rien de l'art antérieur et les procédés habituels de fabrication peuvent être utilisés. Un exemple d'un tel circuit est illustré sur la. figure 6 et porte la référence 4.-Des repères 13 ont été portés sur la plaquet- te 4, permettant son positionnement visuel par rapport à l'orifice pratiqué sur le support 9 (figures 1 et 2). Ces lignes à retard sont ensuite reliées aux circuits électroniques associés: ampli- ficateurs 1 et 2 et mélangeur 3. Un exemple de réalisation con- crète sera décrit ultérieurement en relation avec la figure 7. 2) Détermination de la fréquence de sortie fS du capteur ou fréquence de battement: pour ce faire, le module comportant ces différents composants est, dans le cadre d'une réalisation industrielle, placé dans un banc de mesures alimentant en énergie électrique le module et comportant un fréquence-mètre mesurant la fréquence du signal présent sur la sortie S. Le dimensionnement du dispositif à retard supplémentaire Il doit être calculé de tel- le sorte que l'écart fS des fréquences f1 et f2 des signaux de sortie S. et S2 des deux oscillateurs soit toujours supérieur à une valeur prédéterminée fS min. A titre d'exemple non limitatif f1 et f2 sont de l'ordre, respectivement, de 1 MHz et 1,1 MHz et donc fS min >100-KHz, ce toutes dispersions cumulées. Ces mesures peuvent etre effectuées de façon automatique ou manuelle. Les pro- cédés de mesure, bien connus de l'homme de métier, ne seront pas décrits plus avant. 3) Calibrage de la fréquence de sortie; des entailles 12 sont effectuées dans le dépôt métallique du dispositif à retard supplémentaire Il à l'aide d'une source laser ou par sablage. Ces entailles tendent à augmenter le retard apporté par le disposi- tif il et diminuer la fréquence de sortie de l'oscillateur corres- pondant, et par là-même la-fréquence de battement fs. La figure illustre de façon plus détaillée cette méthode. La fréquence f. du signal de sortie S ou fréquence de battement est mesurée en continu et le processus de découpe se poursuit jusqu'à ce que cet- te fréquence atteigne la valeur prédéterminée, par exemple 100 KHz, ce sans à coup. En effet, la longueur des entailles successives n'est pas limitée à la valeur discrète maximale 1 ( figure 5: 121 à 12nh1) pour chaque zone 13 du dispositif Il (calibrage gros- sier), On peut effectuer toute entaille de longueur intermédiaire 1' (figure 5: 12n). La longueur totale de découpe est donc dans le cas général pl + 1' (ot p est le nombre des entailles de lon- gueur 1). entraînant une augmentation proportionnelle du retard. C'est un premier avantage de l'invention par rapport aux procédés qui, ont été précédemment exposés. En outre, la perturbation appor- - 10 tée au substrat piézoélectrique par échauffement est très locali- séé, car limitée aux seules entailles 12, à 12n situées en dehors du parcours suivi par les ondes de surface. Enfin bien que la réalisation illustrée par la figure 6 soit particulièrement avantageuse, le dispositif à retard supplémentai- re Il peut être situé hors du substrat 4 sur une plaquette supplé- mentaire. Cette solution présente cependant des désavantages,- en- tre autre de rendre les dérives en température du dispositif à retard 11, indépendantes des circuits de la plaquette principale 4. Des exemples de valeurs des paramètres caractéristiques du dispositif à retard Il sont longueur de la bande métallique: 9000,um; - largeur de la bande métallique: 750,um - pas de créneaux: 1000 um. Comme il est bien connu, les matériaux suivants quartz, ou alumine peuvent être utilisés pour réaliser la plaquette piézoélectrique 4. Les électrodes, les conducteurs de liaison et la bande métallique du dispositif Il peuvent être réalisés en aluminium, en argent ou paladium. Un exemple d'application concrète d'un capteur conforme à l'invention va maintenant être décrit en relation avec la figure 7 représentant-en coupe un capteur de pression utilisé notamment dans le domaine de l'automobile, pour la commande d'un moteur à combustion interne. L'élément principal de ce capteur est une plaquette piézoélectrique 4 calibrée selon le procédé de l'inven- tion. Les différents éléments du capteur sont contenus dans une enceinte délimitée par deux capots 20 et 21. Les bords de la plaquette 4 sont collés sur un support 9 au moyen d'une colle dure? après positionnement à l'aide des repères 13. Ce support 9 est lui-même collé au moyen d'une colle souple sur la base du capot 21. L'espace délimité par le capot 21', le support 9 et la plaquette 4 communiquent avec un canal d'arrivée de fluides 24 dont on désire mesurer la pression P, soit absolue, soit diffé- rentielle (par rapport à la pression atmosphérique par exemple). Le support 9 est fixé au capot 21 de façon à Qbtenir une étan- chéité parfaite entre l'intérieur du canal d'arrivée 24 et l'en- ceinte définie par l'espace compris entre les capots 21 et 20 au dessus de la plaquette 4. Le fluide se trouve en contact avec la face 4 opposée à la face portant les transducteurs 5/7 et 618 formant les lignes à retard telles que décrites précédemment. Dans l'enceinte est également placé une plaquette de circuit imprimé 23 fixée par ses extrémités entre les deux bords aplatis des capots 20 et 21. Ceux-ci sont réunis par des joints étanches 22 et éventuellement d'autres moyens d'assemblage 25. Le circuit imprimé 23 porte les différents circuits électroniques, par exemple les amplificateurs 1 et 2 et le circuit mélangeur 3. Cette plaquette de circuit im-* primé est reliée électriquement aux transducteurs d'entrée et sor- tie par les connexions e1/e2 et S1/S2. La pression régnant dans l'enceinte supérieure est par exemple PF. La différence de pres- sion P - P0 entraîne des déformations de la plaquette en sens inverse pour les deux lignes à retard, provoquant des variations de fréquence A f1 et A f2 de signe contraire. Le signal de sortie que l'on extrait du mélangeur 5 a donc pour fréquence; fS + AfS = f1 + f2 + A f1 - A f2. On peut filtrer ce signal de façon à obtenir la fréquence AfS = Af- Af2. On détermine ainsi la différence de pression P - P0. L'invention n'est pas limitée aux réalisations qui viennent d'être décrites. La plaquette piézoélectrique comportant les deux lignes à retard et calibrée selon le procédé de l'invention, peut être utilisé pour d'autres types de capteurs et plus généralement pour tous dispositifs comportant deux oscillateurs comprenant des lignes à retard à ondes élastiques de surface. Ces disposi- tifs produisant des signaux de type numérique peuvent être asso- ciés à des ensembles de traitement de signaux numériques et par exemple à des micro-processeurs. L'invention n'est pas non plus limitée aux seuls capteurs à ondes élastiques de surface, mais concerne tous les capteurs utilisant deux oscillateurs accordables comportant des lignes à retard portées par un support et reliés à un mélangeur de fréquen- ces et notamment les capteurs à ondes magnétoélastiques ou-magné- statiques. Enfin, deux dispositifs de calibrage selon l'invention peuvent être utilisés, placés respectivement dans les boucles de rétro-action de chacun des oscillateurs,sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1. Capteur du type comportant deux lignes à retard compre- nant des transducteurs,portées par une première face d'un support et soumises à des contraintes en sens opposés; -les lignes à re- tard étant en outre connectées par des circuits de-liaison à des - circuits électriques appropriés pour réaliser deux boucles consti-. tuant chacune un oscillateur produisant des signaux (S., S2) respectivement d'une première et d'une seconde fréquence (fi, f2) destinés à être mélangés pour produire un signal de sortie (S) d'une troisième fréquence (fS); capteur caractérisé en ce qu'il comprend un dispositif de calibrage constitué par au moins une ligne à retard supplémentaire ajustable par usinage laser ou par sablage, insérée dans les circuits de liaison d'un des oscillateurs. 2. Capteur selon la revendication 1, caractérisé en ce que la ligne à retard supplémentaire est constituée par une bande mé- tallique portée par un support comportant des échancrures réguliè- rement espacées de façon à former une série de plages métalliques crénelées disposées le long d'un axe parallèle à la plus grande des dimensions de la bande métallique. 3. Capteur selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'en outre la bande métallique est localisée sur la-première face de la plaquette. 4. Capteur selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que les transducteurs sont des transducteurs électromécaniques à peignes. interdigités. 5. Procédé de calibrage de la fréquence (fS) du signal de sortie (S) d'un capteur selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la fréquence (f9 du signal (S1) pro- duit par l'oscillateur comprenant le dispositif de calibrage étant choisie supérieure d'une valeur prédéterminée à la fréquence (f 2) du signal (S 2 produit par le second oscillateur, il est procédé aux étapes suivantes: - mesure en continu de la valeur de la fréquence (f) du si- gnal de sortie; - réalisation d'au moins une entaille à l'aide'dTune source laser ou par sablage, dans les plages métalliques comprises entre deux créneaux de la bande métallique de façon à augmenter le re- tard apporté par la ligne à retard supplémentaire et à diminuer en proportion la fréquence (f1) du signal (S1) produit par l'oscil- lateur comportant la ligne à retard supplémentaire, jusqu'à ce que la fréquence (fs).du signal de sortie (S) atteigne la valeur prédéterminée. 6. Procédé selon la revendication 5, caractérisé en ce que chacune des entailles pratiquées dans la bande métallique ménage une zone de faible largeur, s'étendant à partir du bord de la bande métallique, opposé aux plages crénelées, sur une longueur (1) prédéterminée inférieure à la largeur de la bande métallique suivant une direction sensiblement orthogonale à la plus grande des dimensions de cette bande; la zone étant entièrement dépour- vue de métal après découpe par la source lazer ou par sablage. 7. Procédé selon la. revendication 6, caractérisé en ce qu'il est procédé à des entailles de longueur fixe et égale à la lon- gueur prédéterminée (1) pour réaliser un calibrage grossier et à une entaille de longueur variable (l') inférieure à la longueur prédéterminée (1) pour réaliser un calibrage fin.