Brevet FR2335833A1 — publié le 19770715

La présente invention se rapporte aux instruments optiques et, plus précisément, aux spectromètres et aux procédés d'études de la composition spéctrales de la lumière, réalisés dans ces spectromètres, lors de l'analyse qualitative et quantitative. le type principal des appareils spectraux utilisés en spectroscopie à l'heure actuelle, est un spectromètre à fente. Tout spectromètre à fente comprend en principe : une fente a'entrée située en plan focal d'un collimateur qui forme un faisceau de lumière parallèle, un élément dispersif (prime ou réseau diffractif), un objectif de sortie et une fente de sortie qui est située en plan focal de ce dernier, et qui assure la sélection du faisceau de lumière sortant selon sa longueur d'onde. le pouvoir de résolution et l'ouverture relative d'un tel spectromètre dépendent de la largeur des fentes de la manière inverse : avec la réduction de la largeur des fentes le pouvoir de résolution augmente et l'ouverture relative diminue, et vice versa. Outre cela, comme la largeur des fentes ne peut pas être diminuée infiniment à cause du phénomène de diffraction, il est nécessaire d'utiliser les collimateurs au foyer long, pour obtenir un pouvoir de résolution détermina de l'élément dispersif. C'est pourquoi les dimensions des spectromètres de la classe moyenne sont égales à 1,5-2 mètres, tandis que les appareils de la classe super atteignent la longueur de 6 mètres et meme plus. Il n'y a pas longtemps on a proposé deux types de spectromètres sans fente, nouveaux en principe, utilisant le phénomène d' interférence ; ce sont : le spectromètre de Fourier et un spectromètre à modulation d'amplitude sélective interférentielle, appelé plus loin S.I. S.A.M. L'application de ces deux types de spectromètres peut placer la spectroscopie sur un niveau qualitativement supérieur : premièrement, on peut augmenter l'ouverture relative des spectromètres, et par conséquent leur sensibilité, de 2 ou 3 ordres de grandeur ; deuxièment, la vitesse d'obtention de l'information, c'est-àdire, la rapidité de l'anlyse spectrale, peut être augmentée de 2 ou 3 fois ; et enfin, il devient possible de réaliser le pouvoir de résolution théorique de l'élément dispersif pratiquement à toute distance focale du collimateur d-'entrée et de l'objectif de sortie, ce qui permet, à son tour, de diminuer les dimensions et le poids des spectromètres de dizaines et de centaines de fois. le spectromètre de Fourier représente en soi un interféromètre de Michelson à un seul miroir mobile qu'on peut d placer le long de l'axe d'interféromètre au voisinage de la position de marche nulle des faisceaux produisant l'inter'rance. Le défaut principal des spectromètres de Fourier est la nécessité du décodage par les calculatrices du signal enregistré. En plus, ce spectromètre est sensible au changee.lent, au cours de l'enregistrement, de l'intensité de la lumière étudiée. le système mécanique du déplacement du miroir mobile est assez compliqué et sensible aux perturbations mécaniques, et l'intervalle spectral de travail est limité par le champ de transparence du support du miroir semi-transparent. le S.I+S.A.M. représente un interféromètre à deux rayons dont les deux branches contiennent des éléments dispersifs, installés de sorte que l'interférence ne soit observée qu'à proximité.d'une longueur a onde déterminée. Le procédé interférentiel de la sélection d'après la longueur d'onde est assuré par une variation périodique de la différence de marche des faisceaux de lumière produisant l'interférence et la modulation d'amplitude du faisceau sortant n'est observée qu'à la longueur d'onde d'interférence . La composante variable du faisceau de sortie, enregistrée par l'ensemble récepteur-mesureur, est proportionnelle à l'intensité de la lumière sur la longueur d'onde d'interférence. le défaut principal de toutes les structures de S.I.S.A.. connues consiste en ce que pour le réglage de l'appareil et pour son utilisation il faut assurer une.. précision d'interférence de 7 à 12 degrés de liberté de différents éléments de l'appareil ; c'est-à-dire que la précision des déplacenents angulaires des éléments doit être à une seconde près, et celle des déplacements de translation, jusqu'à des fractions de longueur d'onde. n en découle que : méme les instruments de précision possèdent une petite stabilité statique et cinématique à des brouillages mécaniques ; le système de l'exploration (du "scanning") est si compliqué u'à l'heure actuelle les limites de l'exploration ne dépassent que quelques centaines de limites de résolution (pour le domaine visible du spectre A0). En outre, la gamme spectrale de la plupart des S.I.S.A.f". est limitée par le domaine dela transparence des miroirs dichroïques ; Tous les S.I.S.A.E. connus ont la fréquence et la phase du signal modulé variant à l'exploration du spectre, ctest-à-dlre, ils ne permettent pas une détection synchrone du signal enregistré ; la fréquence de modulation ne dépasse pas 100 hertz, ce qui limite sensiblement la vitesse de l'analyse ; du fait de la complexité du système mécanique d'exploration, les appareils ont les mêmes dimensions et le même poids que les spectromètres à fente ; le prix des S.I.S.A.X. utilisés est plus grand que celui des spectromètres à fente. Un des schémas de S.I.S.A.M. utilise la propriété du réseau diffractif au profil symétrique de traits qui donne l'ordre droit et gauche de la diffraction de la même intensité. Ces ordres symétriques de diffraction sont utilisés pour former les bras de l'interféromètre constituant B.I.S.A.X. A cette fin on emploie un système de deux ou trois miroirs reflétant les faisceaux des ordres symétriques sur le réseau diffractif de manière que ceux-là, après y avoir diffracté puissent interférer sélectivent. Tous les défauts cités ci-dessous sont propres à la construction pareille de S.I.5.A.X. On connatt aussi l'appareil S.I.S.A.M. ayant un réseau diffractif au profil symétrique des traits, un miroir supplé- nentaire dont la surface réfléchissante est mise perpendiculairerement à la surface du réseau diffractif et deux miroirs d'exploration fixés sur un support commun pouvant tourner autour de l'axe passant par le milieu du tronçon. de la ligne droite liant les centres des miroirs d' explotation. Dans ce spectromètre le flux lumineux étudié tombe normalement sur le réseau diffractif et se diffracte aux ordres droit et gauche en deux faisceaux de lumière ayant la longueur d'onde prédéterminée. L'un d'sas revient sur le réseau diffractif étant reflété par auto-collimation par un des miroirs d'exploration, et l'autre revient sur le réseau diffractif après être reflété successivement sur un miroir supplémentaire, puis par auto-collimation, sur un deuxième miroir d'exploration, et de nouveau, par le miroir supplémentaire. Les deux faisceaux de lumière revenus se diffractent dans la même direction produisant une interférence.Pour la modulation du flux de lumière sortant on utilise le mouvement de va-et-vient du miroir suppl entaire. Les miroirs d'exploration sont fixés de telle façon que les rayons traversant le réseau au céntre aient la différence de marche égale à 0. Tous les défauts cités ci-dessus sont propres à ce spectromètre. Outre cela, la qualité de la construction décrite devient pire sensiblement à cause de la vitesse du changement de l'ordre de l'interférence au cours de son exploration sur le spectre et à cause du vignettage (l'effet de lucarne) des faisceaux lumineux. On a aussi propose un procédé de l'étude de la composition spectrale de la l-mére émise, réalisé par le spectromètre décrit ci-dessus et qui consiste dans l'inter- férence de deux faisceaux lumineux reflétés sur des surfaces réfléchissantes, les nombres de reflexions du premier et du deuxième faisceaux étant différents de deux, c'est-à-dire que l'un d'eux revient sur le réseau diffractif après un seul écho (reflet), et l'autre, après l'écho triple. On a mis à la base de l'invention un problème de la mise au point d'un appareil S.I.S.A.M. avec un tel dispositif d'exploration qui assure une exploration beaucoup plus simple sur le spectre, une modulation stable, une haute immunité contre les brouillages, des petites dimensions et un petit poids, une possibilité de changer le pouvoir résolvant, une ouverture relative maximale pour ltélémer.t dispersif utilisé ainsi cue d'un procédé de l'étude de composition spectrale de la lumière réalisé par ledit spectromètre et qui permette de diminuer la dimension transversale du spectromètre. le problème posé est rus ou du fait que dans les spectromètres (S.I.S.A.M.) dans lequel le flux lumineux collimaté à analyser tombe sur un réseau diffractif à profil symétrique des traits et se diffracte dans les ordres droit et gauche en deux faisceaux lumineux d'une longueur d'onne déterminée, dont un revient sur le réseau diffractif refLété par un premier miroir d'exploration et l'autre revient sur le même réseau diffractif après être relfeté successivement sur un miroir supplémentaire, sur un deuxième miroir d'exploration et de nouveau sur le miroir suppléaentaire et les deux faisceaux de lumière après leur retour se diffractent dans la même direction, produisent une interférence et sont enregistrés par un moyen d'enregistrement dont les lectures permettent de déterminer la composition spectrale de la lumière analysée, selon l'invention, le miroir supplémentaire est fixé par rapport au réseau diffractif de telle manière que sa surface refléchizsante soit placée parallèlement aux traits du réseau diffractif, tandis que le premier et le deuxième-miroirs d'exploration sont réalisés comme un miroir unique d'exploration et leurs surfaces réfléchissantes se trouvent dans un méme plan, de fanon que les deux faisceaux de lumière réfléchissent sur la surface réfléchissante du miroir unique d'exploration. Pour avoir la possibilité de faire varier le pouvoir de résolution de S.I.S.A.hI., il est avantageux d'installer un miroir supplémentaire pouvant effectuer un mouvement de translation par rapport au réseau diffractif. Pour la réalisation de l'ouverture relative maximale (pour l'élément dispersif utilisé), il est avantageux dainstal- ler un miroir suppléluentaire à prommité (tout près) du réseau diffrac tif. pour diminuer le vignettage des faisceaux de lumière il est désirable de placer l'axe de rotation du miroir uni d'exploration parallèlement aux traits du réseau diffractif. Pour diminuer le vignettage des faisceaux de lumière il est désirable, en plus, de placer l'axe de rotation du miroir unique d'exploration d'après la ligne d'intersection des plans de la surface réfléchissante du miroir supplémentaire et de la surface de travail du réseau diffractif. L'invention propose aussi un procédé de l'analyse de la composition spectrale de lumière, effectué par le spectromètre ci-dessus et q.ui consiste en interférence, de deux faisceaux de lumières diffractés deux fois réfléchis sur deux surfaces réfléchissantes, la différence du nombre de réflexions du premier et du deuxième faisceau étant égal à 2, et dans lequel, d'après l'invention, on utilise l'interférence des faisceaux de lumière qui ont subi à (2N + I) et (2N + 3) de reflexions, où N est le nombre de la série naturelle. le spectromètre suivant l'invention réalisant le procédé proposé a une haute immunité contre les brouillages, utilise un dispositif d'exploration simple, et de ce fait possède de petites dimensions et a un poids réduit. Plus loin l'invention est expliquée par une description de sa réalisation avec références aux dessins annelés où - la figure I, représente le schéma général d'un spectromètre selon l'invention réalisant le procédé connu de l'étude de la composition spectrale connue et celui de l'invention. - la figure 2, représente le schéma optique du spectromètre d'après la figure i ; - la figure 3,-une représentation conventionnelle de certains éléments optiques du spectromètre d'après la figure i et du trajet des faisceaux de lumière pour le procédé connu de l'étude de la composition spectrale et pour celui selon l'invention réalisé par le spectromètre proposé. - la figure 4, le trajet des faisceaux de lumière dans le spectromètre d'après la figure 1 dans le plan parallèle aux traits du réseau diffractif. la figure 5, une des variantes de réalisation du miroir supplémentaire (en coupe longitudinale3 et partiellement le réseau dffractif. - la figure 6, le schéma optique d'une autre variante de réalisation du spectromètre, selon l'invention . Le spectromètre à modulation d'amplitude sélective interférentielle qui réalise le procédé connu et selon l'invention de l'étude (la composition spectrale) de la lumière comprend : une ouverture d'entrée i (figure 1) dans la paroi du bottier 2 se trouvant dans le plan focal et sur l'axe optique d'un dispositif collimateur qui est une lentille 3 fixée dans une monture 4. Entre la lentille 3 et l'ouverture d'entrée 1 se trouve un miroir semi-transparent 5, fixé dans une monture 6 sous un angle de 450 par rapport à l'axe optique de la lentille 3. Un réseau diffractif 7 placé à l'intérieur du bottier 2 et ayant un profil symétrique des traits 8 formant sa surface de travail est fixé à demeure sur un support 9.Sur le même support 9 tout près du réseau diffractif 7, est fixé un miroir supplémentaire qui est un condensateur piézoélectrique céramique à armatures il et 12. l'armature 11 présente une surface réfléchissante et sera appelée dans ce zui suit "surface réfléchissante Il" du miroir supplémentaire 10. les deux armatures il et 12 sont raccordées à un oscillateur 13 (du type décrit dans le livre "Le guide du radio-constructeur amateur", en rus-se, sous la rédaction de R.X. malinine éd. "Energia "X-1973) par conducteurs traversant le bottier 2 et un isolateur 14. le miroir supplémentaire 10 est placé par rapport au réseau diffractif 7 de telle manière que sa surface réfléchissante II soit parallèle aux traits 8 du réseau diffractif 7 et perpendiculaire à la surface de travail du réseau diffractif 7. L'axe optique de la lentille 3 traverse dans ce cas le centre du roseau 7. Un miroir unique d'exploration 15 à la surface réfléchissante 16, qui se trouve aussi à l'intérieur du bottier 2, est fixé immobile sur un support 17 qui, lui, peut tourner autour d'un axe 18 commandé par un couple (la vis-?9, l'écrou-20) . la fixation de la position du support 17 s'effectue à l'aide d'un ressort 21. L'axe 18 (figure 2) de la rotation du miroir unique d'exploration 15 est placé parallèlement aux traits 8 du réseau diffractif 7. Une ouverture de sortie 22 (figure 1) est située dans une autre paroi du bottier2 symétriquement à l'ouverture d'entrée par rapport au miroir 5. Derrière l'ouverture de scrtie 22 dans le plan focal de la lentille 3 on fixe un dispositif d'enregistrment 23 qui comprend un récepteur de rayonnement 24( par exemple, un photomultiplicateur décrit dans le livre de A.N. Leidel, G.V. Ostovsky, Y.Y. Ostrovsky "La technique et la pratique de la spectroscopie", en russe, édition "Science" - "Nauka" Pub.1972) ou un amplificateur sélectif décrit dans le livre "Instruments spectraux Tarasov, éd. 11Mashinostroenie11, Beningrad, en russe, et un enregistreur 26, par exemple , un oscillographe. Tous ces dispositifs sont raccordés en série. le miroir supplémentaire 10 joue dans la variante décrite du spectromètre le r81e d'un moyen de modulation, et le miroir semi-transparent 5 (figure 2) est le moyen de division des faiseeaux de lumière d'entrée 27 et de sortie 28 étudiés. Lé spectromètre décrit peut réaliser avec succès le procédé connu de l'étude de la composition spectrale de la lumière (A) décrit dans le-Certificat d'auteur d'invention d'URSS NO 127054 classif. G 02 RI/38, ainsi que le procédé de l'étude de la composition spectrale de la lumière suivant l'invention (B), qui sera décrit ci-dessous. Pour réaliser le procédé (A) par le spectromètre d'après l'invention, un flux lumineux d'entrée 27 à analyser passe par l'ouverture d'entrée 1 le miroir semi-transparent 5 et la lentille 3, vient sur le réseau diffractif 7 et puis se diffracte dans les ordres droit et gauche de la diffraction en deux faisceaux (29 et 30) de lumière qui ont une longueur d'onde déterminée. Deux faisceaux lumineux diffractés 29 et 30 reviennent sur le réseau diffractif 7 ; le faisceau 29 y revient après avoir été réfléchi sur la surface réfléchissante 16 du miroir d'exploration 15 commun aux deux faisceaux, et le faisceau de lumière 30, après avoir réfléchi successivement de la surface réfléchissante 11 du miroir supplémentaire 10, de la surface réfléchissante 16 du miroir d'exploration 15 et de nouveau de la surface réfléchissante 11. Après le retour, les deux faisceaux se diffractent dans la même direction sous la forme du flux sortant de lumière 2 à analyser, produisent l'interférence, traversent la lentille 3, se réfléchissent du miroir 5, -sortent par l'ouverture de sortie 22 et sont enregistrés par le dispositif 23 (figure 1) d'enregistrement, suivant les lectures duquel on peut juger de la composition spectrale de la mumière analysée . le miroir supplémentaire 10 qui est aussi un dispositif de modulation change périodiquement le déphasage des faisceaux interférents 29 et 30 (figure 2). Pour réaliser le procédé (B) par le spectromètre d'après l'invention, le flux lumineux d'entrée 27 à analyser (figure -3) passe par l'ouverture d'entrée I (figure 1), par le miroir semi-transparent 5 et la lentille 3, vient sur le réseau diffractif 7, et se diffracte dans les directions droite et gauche de la diffraction en deux faisceaux de lumière 30 et 32 (figure 3) à une longueur d'onde déterminée (sur le dessin les faisceaux du procédé (A) sont montrés par une ligne continue, et ceux du procédé UBtI, par une ligne en pointillé). Deux faisceaux de lumière diffractés 31 et 32 reviennent sur le réseau dîffractif 7 (figure 1) réfléchis par deux surfaces réfléchissantes 71 et 16 (figure 3), la différence des nombres de réflexions du premier et du deuxième faisceau de lumière 31 et 32 étant égale à deux. DEns le procédé selon l'invention on utulise l'interférence des faiseaux 31 et 32 qui ont subi des nombres (2N + 1) et (2N + 3) de réflexions, où N est un nombre de lk série naturelle, et dans l'exemple donné N = 1, la quantité de réflexions respectivement pour le faisceau 31 étant égale à 3, et pour le faisceau 32, à 5. Ainsi, le faisceau de lumière 31 revient sur le réseau diffractif 7 réfléchi successivement sur la surface réfléchissante 16 du miroir d'exploration 15 commun aux deux faisceaux, sur la surface réfléchissante 11 du miroir supplémentaire 10 et de nouveau sur la surface réfléchissante 16 du miroir d'exILoration 15. Et le faisceau 32 revient sur le m8me réseau diffractif 7 réfléchi successivement sur la surface réfléchissante i1 du miroir supplénetaire 10, sur la surface réfléchissante 16 du miroir d'exploiration 15, sur la surface réflééhissante 11, sur la surface réfléchissante 1 6 et de nouveau sur la surface réfléchissante 11.Après leur retour, les deux faisceaux de lumière 31 et 32 se diffractent dans la méme direction sous forme du flux de lumière sortant 28 à analyser. les faisceaux produisent une interférence, passent par la lentille 3 (figure 1), se réfléchissent du miroir 5, sortent par l'ouverture de sortie 22 et s'enregistrent dans le dispositif d'enregistrement 23 d'après les lectures duquel on peut juger.de la composition spectrale du flux lumineux analysé. En limitant les dimensions du miroir d'exploration - 15 on peut réaliser soit le procédé déjà connu (A) soit le procédé (B) de l'étude de la composition spectrale de lumière selon l'invention. La realisation du procédé de l'étude de la composition spectrale de l-a lumière conformément à l'invention permet de diminuer la distance entre le miroir supplémentaire 10 et le miroir unique d'exploration 15, c'est-à-dire la dimension transversale du spectromètre. Dans la variante décrite ci-dessus du spectromètre conformément à l'invention, la surface réfléchissante 11 ( ligure 1) du miroir supplémentaire 10 est placée perpendiculaire men à la surface de travail du réseau diffractif 7. Pourtant l'invention permet avec succès tout autre angle, différent de 900. Dans le spectromètre d'après l'invention le réseau diffractif 7 (figure 4) est placé de telle manière que le faisceau lumaneux 33 d'ordre "o" de la diffraction n'arrive pas dans ltouverture de sortie 22. Dans une autre variante du spectromètre selon l'invention un miroir supplé.ffi..entaire 34 (figure 5) est fixé a un support 35 et a une possibilité du déplacement progressif sur un support de guidage 36 à l'aide d'un réseau diffractif 38. Le support de guidage 36 est fixé sur une base commune 39, la vis 37 étant fixée sur une butée 40 de la base 39, La surface réfléchissante 41 du miroir supplémentaire 34 est située parallèlement aux traits 42 du réseau diffractif ',8 qui est fixé sur un support 43, celui-ci à son tour étant fixé sur la base commune 39. Dans toutes les variantes de réalisation du spectromètre proposé décrites ci-dessus l'axe de rotation du ,miroir unique d'exploration était situé parallèlement aux traits du roseau diffractif; Cependant, il est possible de réaliser un spectromètre où l'axe de rotation 44 (figure 6) réfléchissante 48 d'un miroir suppléentaire 49 et du plan 50 où se trouve la surface de travail d'un réseau diffractif 51 formée par des traits 52 du réseau 51. Sur cette figure, le repère 53 marque la surface réfléchissante du miroir unique d'exploration 45, et le repère 54, l'armature du miroir supplémentaire 49, les autres repères correspondent à ceux de la figure 2. le principe du fonctionnement du spectromètre selon l'invention réalisant le procédé connu et le procédé selon l'invention de l'étude de la composition spectrale de la lumière consiste en ce qui suit. Le flux de lumière 27 (figures 2 et 3) à analyser après la diffract on réitérative est réparti en deux directions déterminées par la distance entre les traits 8 du réseau diffractif 7. Dans ce cas les faisceaux 29 et 30, ainsi que les faisceaux 31 et 32 (figure 3) dtune longueur d'onde déterminée se diffractent dans la même direction. Cela signifie que les images de tous les points de 1' ouverture d'entrée I (figure I) formées par les faisceaux 29 et 30, ainsi que par les faisceaux 31 et 32 (figure 3) de longueur d'onde déterminée dans l'ouverture de sortie 22 (figure 1), se superposent. Pour la lumière d'autre longueur d'ondes, les points correspondants de l'ouverture 1 ne se superposent pas. Cela si3iifie"que l'interférence dans l'ouverture de sortie 22 se réalise sélectivement sur la longueur d'onde indiquée. Lors de la variation alternative de la différencie de marche des faisceaux de lumière interférents qui est obtenus par un déplacement alternatif de la surface réfléchissante il du miroir supplémentaire 10 dû à l'action de la tension appliquée au miroir 10 à partir dudit oscillateur 13, il se produit une variation perifique de l'intensité du faisceau sortant 28 (figures 2 et 3) de longueur d'onde déterminée. Les faisceaux lumineux à analyser ayant des longueurs d'ondes proches de lacite longueur d'onde déterminée passeront aussi par l'ouverture de sortie 22 (figure 1), mais leur intensité ne sera pas mlodulée. Le flux lumineux an-elysé enregistré par le récepteur du rayonnement 24 (figure 1) du dispositif d'enregistrement 23, comporte une composante alternative déterminée par la lumière à longueur d'onde déterminée et une composante continue déterminée par la ~lumière d'autres longueurs d'ondes qui sont passées par l'ouverture de sortie 22. La composante alternative séparée et amplifiée par l'amplificateur sélectif 25 et enregistrée par le dispositif enregistreur 26, n'est proportionnelle sutà l'intensité de la lumière à longueur d'onde déterminée.D'après cette composante on peut juger de la composition spectrale de la lumière analysée. Lors de la rotation du miroir unique d'exploration 15 autour de l'axe 18, a lieu l'exploration du spectre. Etant donné que les faisceaux 29 et 39 (figure 2) et les faisceaux 31 et 32 (figure 3) sont parallèles et se rzfléchissent d'un seul miroir d'exploration 15 (figure i) de la même façon, l'ordre de l'interférence de ces faisceaux de lumière ne change pas lors du déplacement de translation du miroir d'exploration 15 et la rotation arbitraire du miroir unique d'exploration 15 ne donne que l'exploration du spectre ou le déplacement du flux sortant examiné 28 (figures 2 et 3) dans le plan de l'ouverture de sortie 22 (figure 1). Cela signifie, que l'axe de rotation du miroir unique d'exploration 15, en principe, peut être situé arbitraire.^nent ; l'ordre de l'interférence n'est déterminé que par le système mécanique rigide : le réseau diffractif 7 - le miroir supplémentaire 10. La fréquence et la phase de modulation dans la réalisation du spectromètre selon l'invention en question ne dépendent pas de la longueur d'onde des faisceaux interférents 29 et 30 (figure 2, ni des faisceax 31 et 32 (figure 3), parce que le déplacement de la surface réfléchissante 11 (figure 1) du miroir supplémentaire 10 à un quart de la distance entre les traits mène au changement de la différence de marche des faisceaux interférents à la moitié de la longueur d'onde à tout point de l'intervalle spectral d'exploration. Cela permet d'employer les méthodes de la détection synchrone du signal enregistré. Le pouvoir de résolution du spectromètre selon 1' invention n'est pas inférieur au pouvoir théorique de résolution quadruple du réseau diffractif 7 utilisé, parce rue la différence géométrique de la marche déterminée par la distance entre le réseau diffractif 7 et le miroir supplémentaire 10, s'ajoute à la différence diffractive de la marche des faisceaux de lumière 29 et 30, 31 et 32 interférents. L'augmentation de ladite distance entre le miroir 10 et le réseau 7 augmente le pouvoir de résolution du spectromètre tout en diminuant sa clarté. C'est pourquoi, pour avoir une clartd maximale, il est rationnel de placer le miroir suppl-.entaire 10 (figure I) tout près du réseau diffractif 7, e'est-à-dire, à une distance minimale possible, Outre cela, ce fait permet, avec un miroir supplémentaire 34 (figure.5) ayant une possibilité de translation d'obtenir un spectromètre selon l'invention, à pouvoir de résolution réglable. Au cas ou l'axe de rotation du miroir unique d'exploration est placé arbitrairement, les faisceaux de lumière reflété par celui-ci, se déplaceront sur sa surface réfléchissante pendant l'exploration. En plaçant l'axe de rotation 18 (figure 2) parallèlement aux traits 8 du réseau diffractif 7, comme on a dit plus haut, le déplacement des faisceaux 29 et 30 et 31 et 32 (figure 3) sur la surface réfléchissante du miroir unique d'exploration 15 (figure 2) dans le sens parallèle aux traits 8 du réseau diffractif 7 qui diminue; Dans le spectromètre, selon l'invention, et présenté sur la figure 5, le déplacement des faisceaux 29 et 30 sur la surface réfléchissante 53 du miroir unique d'exploration 45 est minimal. Le spectromètre selon l'invention réalise le procédé connu et le procédé selon l'invention d'étude de la composition spectrale de la lumière et possède une haute stabilité vis-àvis des sollicitations mécaniques, étant donné que la qualité d'interférence est déterminée par un système mécanique rigide : le réseau diffractif- le miroir supplémentaire, où la précision interférentielle n'est imposée qu'au parallélisme de la surface réfléchissante du miroir supplementaire aux traits du réseau diffractif, et le système d'exploration étant constitué par un seul miroir d'exploration ayant une possibilité de la rotation autour d'un axe arbitraire, est unique quant à sa simplicité parmi tous les spectromètres connus de ce genre. La simplicité du système d'exploration et la stabilité aux sollicitations mécaniques permettent de construire les appareils aux dimensions, au poids et au prix beaucoup plus petits, -ue tous les spectromètres connues du type considéré et tous les spectromètres à fente. Ze fait que la fréquence et la phase de modulation ne dépendent pas de la longueur d'onde lumineuse permet d'utiliser pour l'enregistrement les méthodes de la détection synchrone qui augmente le rapport signal/bruit de.104 fois et même plus, et la fréquence de la modulation jus- Outre cela, l'appareil S.I.S.A.M. proposé peut Outre aussi exécuté.en n'utilisant que des éléments réfléchissant la lumière de n1 importe luel domaine spectral. R E V E N D I C A T I O N S 1 - Spectromètre à modulation d'amplitude sélective interférentielle, dans lequel le flux lumineux collimaté à analyser arrive sur un réseau diffractif à profil symétrique des traites, est diffracté dans les ordres de diffraction droit et gauche en deux faisceaux de lumière d'une longueur d'onde déterminée, dont l1un retourne sur le réseau diffractif après avoir été réfléchi par un premier miroir d'exploration, tandis que l'autre retourne sur le meme réseau diffractif après avoir été réfléchi succes- sivement par un miroir supplémentaire, par un deuxième miroir d'exploration et de nouveau par le miroir supplémentaire, et lesdits deux faisceaux après leur retour, sont diffractés dans le même sens, produisent une interférence et sont ensuite enregistrés par un dispositif d'enregistrement dont les indications permettent de juger de la composition spectrale du flux de lumière à analyser, caractérisé en ce que le miroir supplemen- taire est disposé de telle lanière par rapport au réseau diffractif que sa surface réfléchissante soit parallèle aux traits du réseau diffractif, et lesdits premier et deux sème miroirs d'exploration sont réunis en un miroir dtexp1oration unique, et leurs surfaces refléchissantes se trouvent dans un mÇme plan de sorte que les deux faloceaux e lumière soient réfléchis par la surface réfléchissante dudit miroir d'exploration unique. 2 - Spectromère selon la revendication I, caractérisé en ce que le miroir supplémentaire est monté avec possibilité de translation par rapport au réseau diffractif. 3 - Spectromètre selon la revendication 1, carac térisé en-ce que le miroir supplémentaire est monté à proximité immédiate du réseau diffractif. 4 - Spectromètre selon l'une des revendications 1, 2 et S, caractérisé en ce que l'sue de rotation du miroir d'exploration unique est parallèle aux traits du réseau diffractif. 5 - Spectromètre selon la revendication 4, caractérisé en ce que l'axe de rotation du miroir d'exploration unique est situé sur la ligne d'intersection du plan dans lequel se trouve la surface réfléchissante du miroir supplémentaire et du-plan dans lequel se trouve la surface de travail du réseau dif- fractif. 6 - Procédé d'étude de la composition spectrale de la lumière à l'aide du spectromètre faisant l'objet de l'une des revendications I à 5, du type consistant à produire une inter- férence de deux faisceaux de lumière diffractés deux fois et ayant subi des réflections par des surfaces réfléchissantes, la différence entre les nombres de réflexions respectifs desdits premier et deuxième faisceaux étant égale à 2, caracte- risé en ce qu'on utilise une interférence de faisceaux de lumière ayant sub (2N+1) et (2N+3) réflexions, où N est un nombre naturel.