Brevet FR2273319A1 — publié le 19751226

La présente invention concerne un appareillage de test de circuits électriques modulaires groupés par ensemb#les, dans un équipement de traite# ment de l'information. Cet appareillage est utilisé plus particulièremant pour les tests de modules de circuits intégrés assemblés sur des plaques support. Ces plaques peuvent elles-m8mes être groupées en nombre variable à l'intérieur de tiroirs placés dans l'équipement de traitement. Il est connu, pour tester des séries de modules de circuits électriques, d'utiliser un appareillage autonome sur lequel vient se brancher la plaque support de circuits modulaires à tester. C'est généralement le cas des appareillages utilisés au cours de la fabrication d'équipements de traitement de l'information. Ces appareillages sont constitués de manière à permettre le test de circuits modulaires présentant une pluralité entrées et de sortie de signaux électriques et ils comportent notamment Des moyens permettant, d'une part diappliquer des éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires, et d'autre part de recueillir les éléments binaires résultants sur des sorties correspondant aux entrées considérées. 2. Des moyens pour établir une comparaison entre les signaux résul tants et des signaux de référence correspondant à ces sorties. 3. Des moyens permettant de repérer la sortie concernée à chaque fois que la comparaison révèle une discordance entre un signal de sortie et le signal de référence correspondant. C'est ce qui se produit chaque fois qulil y a une panne dans un circuit modulaire, la partie de ce circuit qui est en cause étant alors repérée grace à la sortie concernée. Un inconvénient que présente un tel type diappareillage résulte du fait que certains des circuits modulaires, lorsqu'ils reçoivent des signaux binaires d'entrée, délivrent sur certaines sorties, des impulsions dont la durée est très faible par rapport à la durée d'un signal binaire. Ces sorties impulsionnelies doivent entre testées séparémment, dioù un appareillage par ticulier pour ces tests séparés. Enfin, aucun appareillage connu n'effectue le test de modules de circuits électriques appartenant à l'équipement de traitement au cours du fonctionnement de celui-ci. Ce qui est un grave inconvénient pour lgutilisa- teur de l'équipement de traitement qui en cas de panne survenant dans un ensemble de modules de circuits portés par une plaque, doit attendre de llusine de montage, une plaque en bon état de fonctionnement, alors que la détection et le remplacensent du module concerné, directement sur llemplace- ment de l'équipement de traitement, lui procurerait un gain de temps considé rable dans le dépannage. f a-prdsente invention a pour but de remédier à ces inconvénients Elle rend possible en une même opération, le test de modules dont certaines sorties délivrent des impulsions. Enfin elle permet le dépannage rapide dié- quipement de traitement, du fait que Ilappareillage de test est commandé par l'équipement de traitement lui-même et que la panne peut être détectée au niveau du module. La présente invention a pour objet un appareillage de test de circuits électriques modulaires, groupés par ensembles dans un équipement de traitement de l'information. Cet équipement est constitué d'au moins une unité centrale et d'un contrôleur d'unités périphériques et chaque ensemble de circuits présente une pluralité d'entrées et une pluralité de sorties de signaux électriques; ces circuits modulaires sont connectés entre eux de façon complexe. L'appareillage qui fait-l'objet de l'invention comporte 1. Des moyens qui permettent d'appliquer des éléments binaires detest sur chaque entrée des circuits modulaires et qui permettent de recueillir les éléments binaires résultants sur les sorties correspondant à ces entrées. Ces éléments binaires résultants sont comparés à des éléments de référence. 2. Des moyens qui per mettent de repérer la sortie concernée à chaque fois que la comparaison précédente révèle une discordance entre un élément résultant et un élément de référence. Cet appareillage est principalement caractérisé par le fait que les moyens cités sous les références 1 et 2, coopèrent et sont commandés par l'intermédiaire du contr6leur d'unités périphériques de manière à assurer le test de tout ensemble de circuits appartenant à l'unité centrale ou aux unités périphériques; à l'exception de l'appareillage de test sur lequel le contrôleur est connecté. Une autre caractéristique-de l'invention concerne les moyens qui permettent d'une part d'appliquer les éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires et diautre part de recueillir les éléments binaires résultants, ces moyens comportent: a) une mémoire de test apte à recevoir des éléments binaires de test; b) des moyens de chargement et d'adressage de cette mémoire. Ces moyens sont constitués de manière à permettre la mémorisation des éléments de test, à des adresses correspondant aux entrées des circuits modulaires à tester; c) des moyens de transfert de ces éléments vers les entrées à tester; d) des moyens de transfert des résultats des tests, connectés entre les sorties des circuits testés et la mémoire de test. Ces moyens de transfert sont associés aux moyens de chargement et dtadressage. Selon une autre des caractéristiques de llinvention, les moyens qui permettent d'une part diapo liquer des éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires, et autre part de recueillir les éléments binaires résultants, comportent en outre un-registre qui reçoit et enregistre les impulsions recueillies sur certaines sorties des circuits modulaires testés. Ceci est particulièrement utile puisque ces impulsions ont une durée très brève par rapport à la durée d'un élément binaire. Ce registre coopère avec les moyens de transfert des résultats des tests, cités précédemment. D'autres objets, caractéristiques et avantages de llinvention ressortiront mieux de la description qui va suivre, donnée à titre d'exemple non limitatif, en se reportant à la figure annexée représentant un mode de réalisation d'un appareillage de test selon l'invention. Lréquipement de traitement qui est représenté sur cette figure, est constitué dans l'exemple choisi, d'une unité centrale 1, d'un contrôleur d'unités périphériques 2 coopérant avec une mémoire vive 3, et d'unités périphériques 4, 5 qui peuvent être de types variés et en nombre différent. L'unité centrale 1, peut elle même btre connectée à d'autres contrôleurs d'unités périphériques 23, 24. L'appareillage de tests, qui est connecté au contrôleur de périphériques, permet de tester des circuits électriques modulaires, généralement de type intégré, appartenant à l'équipement de traitement. Ces circuits sont représentés sur la figure par les modules 7, groupés par ensemble sur une plaque 8. Il sera supposé que cette plaque est située entre un connecteur d'entrée 9 et un connecteur de sortie 10, respectivement connectés aux entrées et sorties des différents modules 7. L'appareillage qui permet de tester cette série de circuits modulaires comporte 1. Des moyens il pour appliquer des éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires et pour recueillir les éléments binaires résultants sur les sorties correspondant à ces entrées. Une comparaison est établie entre les éléments résultants précités et des éléments binaires de référence correspondant à ces sorties. Ces éléments de référence parviennent à des moyens de comparaison 12 appartenant au contrôleur 2, leur origine sera expliquée dans la suite de llexposé. 2. Des moyens 14, permettant de repérer la sortie concernée, å chaque fois que la comparaison révèle une discordance entre un élément de sorbe et un élément de référence. Ces moyens 14 constituent une unité périphérique du contrôleur 2. Ils peuvent entre constitués paf exemple, par une console de visualisation.Selon l'invention, les moyens il permettant d'une part d'appliquer des éléments binaires de tests sur chaque entrée des circuits modulaires et d'autre part de recueillir les éléments binaires résultants sur les sorties correspondantes, sont constitués des éléments suivants a) une mémoire de tests 15 qui reçoit d'une sortie 6 du contrôleur de périphériques et à travers des moyens de transfert 16, des éléments binaires de tests. b) des moyens de chargement et d'adressage 20, de cette mémoire de tests 15, constitués de manière à permettre la mémorisation des éléments binaires de test, à des adresses correspondant aux entrées des modules à tester. Ces moyens de chargement et d'adressage sont principalement constitués par la mémoire vive 3 du contrôleur, par un support d'enregistrement 17, par un lecteur d'enregistrement 18 et par des moyens 19 de repérage des éléments de tests sur le support 17. Le support et le lecteur dienregistrement qui ont été retenus dans la réalisation de l'appareillage sont respectivement une bande magnétique et un lecteur de bande. Ainsi, toutes les informations nécessaires aux tests sont contenus sur la bande 17.Lorsque le test dune série de modules est à effectuer, l'opérateur sélectionne à partir des moyens 14, le numéro de la plaque portant l'ensemble de circuits à tester, après avoir placé dans le lecteur 18 la bande magnétique concernée. Cette bande magnétique peut en effet comporter les informations de test relatives à plusieurs séries de modules et il est nécessaire de sélectionner le numéro de la plaque à tester. Ces moyens 14, qui permettent d'autre part de repérer en fin de test la sortie concernée par une panne, sont constitués par une console de commande qui peut en outre être munie diun écran de visualisation.La console, par l'intermédiaire du contrôleur de périphérique, commande Les moyens- de repérage des informations de tests sur la bande, ces informations de tests comportent-: - d'une part, des tables microprogrammées constituées de séries de microinstructions qui vont définir le déroulement du test et l'adressage de la mémoire de tests et qui sont chargés temporairement dans la mémoire vive 3. - d'autre part, les éléments binaires de tests proprement dits, qui vont entre chargés en mémoire de test, aux adresses définies précédemment. Enfin, les moyens 11 permettant d'appliquer les éléments binaires de tests sur chaque entrée des circuits modulaires et de recueillir les signaux électriques résultants sur les sorties correspondant à ces entrées comportent c. des moyens de transfert 21, des éléments binaires de tests proprement dits, vers les entrées à tester. Ces moyens sont principalement constitués par un organe de lecture de cette mémoire. d. des moyens de transfert 16 des signaux résultants des tests, connectés entre les sorties correspondant aux entrées testées et la mémoire de test. Ces moyens de transfert 16 sont principalement constitués par un organe d'écriture dans cette mémoire. Ils coopèrent avec les moyens 20 de chargement et d'adressage, de deux manières - ils permettent l'écriture des éléments binaires de tests dans la mémoire de tests. - lorsque les tests sont effectués, ils permettent l'écriture des résultats recueillis sur les sorties de séries de modules, aux mômes adresses alors laissées libres, que celles où étaient inscrits les éléments binaires de tests pour les entrées correspondantes. - S ur les sorties qui ne délivrent que des impulsions, ils permettent l'enregistrement de ces impulsions de durée très brève, dans un registre 22 prévu à cet effet. Le contenu de ce registre peut alors être lu par I'inter- médiaire des moyens de lecture 21. Les moyens de comparaison 12, reçoivent donc les résultats binaires des tests, qui ont provisoirement transité par la mémoire 15. Ils reçoivent également les résultats contenus dans le registre 22 et qui correspondent aux impulsions produites sur certaines sorties de circuits modulaires. Ces résultats transitent au préalable, par un organe de cumul d'éléments binaires 25, connu en soi et permettant une condensation des données fournies aux moyens de comparaison 12. Ces moyens de comparaison reçoivent aussi sur leur entrée les éléments binaires de référence, en provenance du support d'enregistrement. Ces éléments de référence correspondent à ceux qui devraient ôtre produits sur les sorties de circuits modulaires en bon état de fonctionnement. Ainsi lorsqutune série de circuits modulaires-de l'équipement de traitement parait défectueuse, l'opérateur dispose la plaque qui supporte cette série, entre les connecteurs 9 et TO. Il introduit ensuite dans le lecteur 18, la bande de tests correspondant au test des plaques contenues dans le tiroir considéré. Il frappe alors à la console, le numéro de la série défectueuse, ce qui permet le repérage sur la bande, des informations de tests, qui vont alors entre lues pour être enregistrées dans la mémoire vive 3 du contrôleur 2. Les éléments binaires de tests sont alors envoyés à la mémoire de test 15, puis appliqués aux entrées de l'ensemble de modules. Les éléments binaires résultants sont alors inscrits aux mômes emplacements que les éléments binaires de tests, dans cette mémoire 15.Ils sont ensuite comparés grâce aux# moyens- 12 et après cumul, àdes éléments binaires de référence qui parviennent du support dienregistrement. Cet appareillage permet donc le dépannage des ensembles de traitement de l'information, au niveau du circuit électrique modulaire, généralement de type intégré. Il permet même de déterminer pour un module, la sortie de celui-ci qui fonctionne anormalement. Le diagnostic qui résulte du test du circuit modulaire défectueux, est obtenu en se référant à un dictionnaire des pannes bati par simulation d'un grand nombre de pannes possibles. Les résultats cumulés à la suite de cette simulation sont alors catalogués dans le dictionnaire. C'est ce cumul qui est effectué dans llor- gane de cumul 25. Le technicien de maintenance a donc la possibilité dgeffectuer un dépannage très rapide puisqu'il n'a qu'un module à changer. Il suffit qu'il se munisse des différents types de modules que contient llensemble de traitement lorsqu'il se rend sur le lieu du dépannage et a donc aussi un matériel limité à emmener. C'est donc un très grand avantage pour l'utilisateur de l'ensemble de traitement pour qui la panne ne correspond plus à un arrêt prolongé. Il n'est plus nécessaire en effet comme autrefois, de renvoyer en usine toute une série de modules pour une panne qui nBaffec- te que ltun d'entre eux. Outre une économie de temps de dépannage, cet appareillage procure une économie de modules de rechange. Il est bien évident, que dans la description qui vient dXêtre faite d'un appareillage selon Ilinvention, les moyens employés auraient pu être remplacés par des moyens équivalents assurant les mimes fonctions techniques, sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1) Appareillage de test de circuits électriques modulaires groupés par ensembles dans un équipement de traitement de l'information constitué d'au moins une unité centrale et d'un contrôleur d'unités périphériques, chaque ensemble de circuits présentant une pluralité d'entrées et de sorties de signaux électriques, appareillage comportant 1. des moyens pour appliquer des éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires diun ensemble et pour recueillir les éléments binaires résultants sur les sorties correspondant à ces entrées, ces éléments résultants étant comparés à des éléments de référence; 2. des moyens pour repérer la sortie concernée à chaque fois que la comparaison révèle ure dis cordance entre un élément résultant et un élément de référence correspondant à cette sortie;; caractérisé par le fait que les dits moyens pour appliquer les éléments de test et pour recueillir les éléments binaires résultants ainsi que les moyens pour repérer la sortie concernée par une discordance entre un élé ment résultant et un élément de référence, coopèrent et sont commandés par l'intermédiaire dudit contrôleur d'unités périphériques, de manière à tester tout ensemble de circuits appartenant à l'unité centrale ou aux unités périphériques. 2) Appareillage de test selon la revendication 1, caractérisé par le fait que les dits moyens pour appliquer des éléments de test et pour recueillir les éléments binaires résultants ainsi que les dits moyens pour repérer la sortie concernée par une discordance, coopèrent par l'intermédiaire d'un organe de cumul d'éléments binaires, appartenant au dit contrôleur d'unités périphériques. 3) Appareillage de test selon la revendication 2 caractérisé par le fait que les dits moyens pour appliquer des éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires et pour recueillir les éléments binaires résultants sur les sorties correspondant à ces entrées, comportent - une mémoire de test apte à recevoir des éléments binaires de test; - des moyens de chargement et d'adressage de cette mémoire de test, constitués de manière à permettre la mémorisation des éléments de test sa des adresses correspondant aux entrées des modules à tester; - des moyens de transfert de ces éléments vers les entrées à tester;; - des moyens de transfert des résultat#s des tests, connectés aux a sorties et)ta dite mémoire et associés aux dits moyens de chargement et dladressage de manière que les dits résultats en sortie, soient inscrits en mémoire de tests aux mêmes adresses que celles ou étaient inscrits les éléments de tests pour les entrées correspondantes. 4) Appareillage de tests selon la revendication 3, caractérisé par le fait que les dits moyens pour appliquer des éléments binaires de test sur chaque entrée des circuits modulaires et pour recueillir les éléments binaires résultant sur I-es sorties correspondant à ces entrées comportent en outre un registre apte à recevoir et enregistrer les impulsions qui apparaissent sur certaines sorties, ces impulsions étant de durée très brève en regard de la durée dlun élément binaire, ledit registre coopérant avec les dits moyens de transfert des résultats des tests. 5) Appareillage de tests selon la revendication 2, caractérisé par le fait que les dits moyens de chargement et d'adressage de la mémoire de test comportent - un support d'enregistrement des éléments de test - un lecteur d'enregistrement - des moyens de repérage des éléments de test sur le support - une mémoire vive coopérant avec le contrôleur d'unités périphériques de l'unité de traitement et apte à recevoir à partir du dit support dten- registrement, les éléments de test ainsi que des tables microprogrammées de# gestion et d'adressage des éléments de test. 6) Appareillage selon la revendication 3, caractérisé par le fait que les dits moyens de chargement et d'adressage de la mémoire de test comportent en outre une console de commande du contrôleur d'unités périphériques à partir de laquelle est enregistré le numéro de l'ensemble de circuits modulaires qui doit être testé. 7) Appareillage de tests selon la revendication 4, caractérisé par le fait que la dite console coopère avec les dits moyens de repérage des éléments de test sur leur support. 8) Appareillage de test selon la-revendication 6, caractérisé par le fait que la dite console est constituée de manière à faire apparaître le cumul d'éléments binaires résultants des tests lorsqu'il y a discordance entre les éléments binaires résultant des tests et les éléments binaires de référence. 9) Appareillage de test selon la revendication 7; caractérisé par le fait que les dits support et lecteur d'enregistrement sont respectivement constitués pour une bande magnétique et par un lecteur de bande magnétique. 10) Appareillage selon la revendication 8, caractérisé par le fait qu'il comporte en outre un dictionnaire de pannes apte à permettre la localisation de la panne, à partir des résultats cumulés.