Brevet FR2049040A1 — publié le 19710326

✓1 I 2049040 La présente invention concerne des matrices à nômoire binaire ainsi que des matrices à mémoire du type qui se compose de plusieurs conducteurs d'axes X et Y en série formant des rangées et d s colonnes de conducteurs destinés à des fins d'écri-5 ture (c'est-à-dire d'excitation et de désexcitation ou pour écrire "1" et "0" et d'opérations de lecture). Ces matrices à mémoire emmagasinent des informations binaires codées dans des calculatrices et dans des appareils analogues. La plupart des calculatrices utilisenb des matrices à mémoire 10 magnétique à courant à coïncidence où un noyau magnétique ou un autre élément magnétique est disposé à chaque point de croisement. Ces matrices à mémoire sont très répandues en raison de leur grande vitesse d'écriture et de lecture et de leurs caractéristiques d'accès désordonné. 15 La matrice à mémoire de l'invention est une matrice à tension à coïncidence qui est plus rapide, moins coûteuse et plus facile à utiliser que les matrices magnétiques et les autres matrices à mémoire. A la différence des mémoires à noyau magnétique, la matrice à mémoire de l'invention peut être lue sans destruction 20 (c'est-à-dire sans effacer.les parties enregistrées et sans nécessiter une opération de réécriture à chaque fois). Â l'heure actuelle, le cycle de lecture classique avec les mémoires magnétiques comporte : la lecture, l1emmagasinement temporaire et la réécriture avant qu'une autre adresse puisse être lue. La matrice 25 ' à mémoire à tension à coïncidence de l'invention nécessite seulement une opération à la place de trois opérations dans l'opération de lecture, une routine plus simple pour commander le cycle de lecture que dans les mémoires magnétiques et la donnée emmagasinée n'est pas exposée à une erreur ou une perte possible 30 pendant la lecture comme dans le cas de mémoires magnétiques . Ces avantages de lecture sont très importants lorsque l'information emmagasinée doit être conservée pendant des lectures répétées (par exemple dans des tables de données emmagasinées ou dans les opérations de routine d'une calculatrice). 35 Outre les avantages de la vitesse de la lecture et de sa non destruction, la mémoire à tension à.coïncidence de l'invention convient bien pour la commande de transistors en raison des faibles niveaux de courant et de tensior de commande impliqués et du fait que la lecture peut être réalisée sans amplificateurs de BAD ORIGINAL 69 37759 2 2049040 lecture sensibles à plusieurs étages, coûteux, car le signal de ' lecture peut être à un niveau de tension continue directement compatible avec les circuits logiques à courant- continu ne nécessitant pas d'autre amplification. 5 La matrice s mémoire à tension à coïncidence de l' invention utilise à chaque point de croisement un dispositif de couplage à mémoire binaire comprenant un dispositif de commutation à seuil et un dispositif de commutation à mémoire reliés en série. Ces dispositifs sont le plus avantageusement des pellicules ou des couches 10 de matière semi-conductrice appliquées par dépôt sous vide, pulvérisation ou criblage sur toute base convenable de matière isolante ou directement sur les conducteurs X et Y de la matrice qui peuvent être d. éposés de la même façon par criblage ou autrement sur une base de matière isolante. Les dispositifs de commutation V- à mémoire et à seuil peuvent être du type décrit dans le brevet . américain No 3 271 591. Dans ce brevet, ces dispositifs de commutation sont appelés respectivement dispositif "à mécanisme" et dispositif "Hi-Lo". Ainsi bien que ces dispositifs de commutation puissent, conformément à l'invention, être de petits dispositifs, 20 dans la forme la plus avantageuse de l'invention, ils constituent des dépôts de pellicules semi-conductrices sensibles sur tout substrat approprié de telle sorte qu'ils peuvent être fabriqués de façon peu coûteuse avec des techniques de production continue et en série et, par conséquent, une matrice ayant un nombre donné 25-de points d'emmagasinement occupera un minimum d'espace. Le dispositif de commutation à seuil à chaque point de croisement actif de la matrice de l'invention est le plus avantageusement un dispositif à deux bornes qui est commuté à partir d'une condition à résistance normalement élevée vers une condition à 30 résistance faible lorsque la tension appliquée dépasse une certaine valeur de seuil et revient vers l'état à résistance élevée lorsque le passage du courant tombe en dessous d'une certaine valeur minimale. Suivant l'invention, une lampe au néon et des diodes à quatre ou cinq couches peuvent être théoriquement utili-35 sées comme dispositifs de commutation dans la matrice à mémoire à tension décrite. Toutefois, ces dispositifs sont: de petits dispositifs ou ils nécessitent des substrats spéciaux comme dans le cas de diodes de semi-conductears du type à circuit intégré de telle sorte qu'ils ne peuvent pas-être fabriqués par dépôts de BAD ORIGINAL 69 37759 3 2049040 pellicules sur la plupart de toute base analogue, par exemple, aux dispositifs de commutation à seuil à semi-conducteur du type décrit dans le brevet américain No 3 271 591» 2n outre, à la différence des lampes au néon et de ces diodes à quatre ou cinq cou-5 ches, ces dispositifs de commutation à seuil à pellicules peuvent être fabriqués avec un grand choix de niveaux de seuil de valeurs modestes,(par exemple de 5 à 30 volts) et en réglant l'épaisseur des pellicules. Le dispositif- de commutation à mémoire à chaque point de croi-10 sement de la matrice est, de préférence, un dispositif bistable à deux bornes qui est amené vers une condition à résistance faible lorsqu'une tension au-dessus d'une valeur de seuil donné est appliquée et qui reste ensuite indéfiniment dans sa condition à résistance faible même lorsque la tension appliquée est éliminée 15 jusqu'à la désexcitation vers une condition à résistance élevée comme par l'alimentation d'une impulsion de courant de désexcitation relativement importante à une tension inférieure à la valeur de seuil de la mémoire. Comme dans le cas du dispositif de commutation à seuil, le dispositif de commutation à mémoire utilisé 20 dans la matrice à tension à coïncidence de 1'invention peut être du type décrit dans.3e brevet américain No 3 271 591* Les dispositifs de commutation à mémoire et à seuil seront décrits d'une façon plus détaillée ci-après. Bien que dans l'invention on se réfère aux dispositifs de com -.utation du type décrit dans le bre-25. vet américain mentionné ci-dessus, d'autres dispositifs de commutation ayant des caractéristiques de commutation à mémoire et à seuil respectivement analogues à celles des dispositifs du brevet mentionné peuvent être utilisés dans la matrice de l'invention. Lorsqu'un dispositif de commutation à seuil est relié en sé-30 rie avec un dispositif de commutation à mémoire, la combinaison résultante, si la résistance des deux dispositifs est comparable, * nécessite une tension relativement élevée (c'est-à-dire une tension d'au moins deux fois les valeurs de seuil inférieures des dispositifs impliqués)pour commuter tant le dispositif de com :u~ 35 tation à seuil que le dispositif de commutation à mémoire depuis sa condition à résistance élevée vers sa condition à résistance faible. D'autre part, si les résistances des deux dispositifs sont essentiellement différentes, ils peuvent être amenés vers leur 69 37759 4 2049040 condition à résistance faible à l'aide d'une tension bien inférieure à deux fois la valeur de tension de seuil la plus basse des deux dispositifs» Une telle tension commute tout d'abord l'un des dispositifs dans sa condition à résistance faible et, 5 de plus, si la tension appliquée est égale ou supérieure à la valeur de seuil de l'autre dispositif, elle commute également l'autre dispositif vers sa condition à résistance faible» Dans le cas où les impédances des deux dispositifs sont matériellement différentes à des fins de sûreté, on a déterminé que la valeur de 10 seuil des dispositifs de commutation à mémoire doit être supérieure à celle des dispositifs de commutation à seuil» Une opération de lecture pour déterminer quel dispositif de commutation à mémoire choisi est dans une condition de résistance élevée ou faible implique l'alimentation d'une tension aux bornes des con-15 ducteurs 2 et Y associés qui est insuffisante pour déclencher le dispositif de commutation à mémoire impliqué lorsqu'il est dans une condition à résistance élevée vers une condition à résistance faible mais est suffisante pour commander un dispositif de commutation à seuil vers sa condition à résistance faible 20 lorsqu'elle est associée avec un dispositif de commutation à mémoire déjà dans sa condition à résistance faible» l'invention est représentée, à titre d'exemples non limitatifs aux dessins annexés- La fig» 1 est un diagramme d'un dispositif de couplage d'une 25 matrice à mémoire à tension conforme à l'invention et de circuits exemplaires pour des informations d'écriture et de lecture à partir de la matrice» I 30 la fig» 3 illustre les tensions qui sont appliquées à un point de croisement choisi de la matrice pour l'exciter (c'est-à-dire emmagasiner un "1" binaire au point de croisement), pour désexciter le point de croisement particulier de la matrice (c'est -à-dire emmagasiner un "0" binaire au point de croisement et 35 pour lire le chiffre binaire emmagasiné dans un point de croisement particulier de la matrice» I>a fig» 4- est un diagramme illustrant les différents courants qui circulent à travers le point de croisement choisi pendant l'excitation, la désexcitation et la lecture d'un "1B biCOPY 69 37759 5 2049040 naire à un point de croisement particulier de la matrice. La fig. 5 est une courbe de la caractéristique courant-fcen-, sion d'un dispositif de commutation à seuil qui peut être utilisé à chaque point de croisement de la matrice. 5 La fig. 6 est une courbe de la caractéristique courant-ten sion d'une dispositif de commutation à mémoire qui peut être utilisé à chaque j°in"t cle croisement de la matrice- lorsque le dispositif est dans sa condition à résistance élevée. La fig. 7 est une courbe de la caractéristique courant-ten-10 sion d'un dispositif de commutation à mémoire qui peut être utilisé à chaque point de croisement de la matrice lorsque le dispositif est dans sa condition à résistance faible. La fig. S est une vus en plan de la forme préférée de la matrice à mémoire de l'invention. 15 La fig. 9 est une coupe de la matrice de la fig. 8 prise .. suivant la ligne 9-9 de cette figure. La fig. 10 est une vue en coupe de la matrice de la fig» 8 prise suivant la ligne 10-10 de cette figure. A la fig. on a représenté, en ordonnée, par V la tensio: 20 et, en abscisse, Y-, , Y^ et signifient; respectivement : tension d'excitation, tension de lecture et tension de désexcita-tion. A la fig. 4, on a illustré, en ordonnée, par I l'intensité de courant et, en abscisse, I-. , L3C et ID signifient, respec-25-tivernent : intensité d'excitation, lecture si le dispositif à mémoire est conducteur et intensité de désexcitation. A la fig. 1, on a représenté une matrice à mémoire à tension désignée dans son ensemble par 2 qui se compose de plusieurs conducteurs mutuellement perpendiculaires X et Y identifiés 30 respectivement par X1, X2... Xn et Y1, Y2...Yn. Les conducteurs X et Y se croisent les uns avec lr.-s autres lorsqu'ils sont vus dans un plan à deux dimensions mais les conducteurs n'ont pas de contact physique. De plus, chaque conducteur -X et Y est relie au niveau de son point de croisement ou près de son point de croi-35 sement par plusieurs circuits d'un dispositif de commutation à mémoire 4 et d'un dispositif de commutation à seuil 6. Gomme dans le cas de la plupart d s -atricès à mémoire," l'information est emmagasinée au niveau de chaque point de croisement, de préférence, sous la forme d'un "1" ou d'un "0" binaire indiqué ^ar BAD ORIGINAL* 69 37759 6 2049040 par l'état ou la condition, d'un élément à mémoire. Ainsi, dans les matrices à noyau magnétique, l'état magnétique particulier d'un noyau détermine lequel des chiffres binaires "1" ou "0" est emmagasiné au niveau'd'un point de croisement particulier de la 5 matrice. Dans l'invention, l'information binaire au niveau de chaque point de croisement est déterminée par le dispositif de commutation à mémoire 4- qui est dans sa condition à résistance faible que l'on considérera de façon arbitraire comme un état binaire "1", ou une condition à résistance élevée eue l'on consi-10 dérera arbitrairement comme un état binaire "0". Le dispositif de commutation à seuil 5 isole chaque point de croisement des autres points de croisement. On prévoit un dispositif de cotir:.utation (dont les détails peuvent vari.er dans une grande mesure) pour relier une ou plu-15 sieurs sources de tension entre un conducteur X choisi et un conducteur Y choisi pour exécuter une opération d'excitation, de désexcitation ou de lecture au niveau du point de croisement. Comme cela est illustré, chaque conducteur X est relié à l'une des extrémités d'un groupe de trois commutateurs parallèles 8, 20 8' et 8" (ces commutateurs étant identifiés par des chiffres supplémentaires correspondant au nombre assigné au conducteur X impliqué)» dont les autres extrémités sont reliées respectivement à des conducteurs d'excitation, de désexcitation et de lecture désignés par 11, 11' et 11" . Le conducteur d'excitation est 25* relié par l'intermédiaire d'une résistance 12 à une borne positive 14- d'une source de tension continue qui produit une sortie de V2 volts. La borne négative 14-' de la source de tension continue est reliée à la terre en 20 de telle sorte que la tension de. la borne 14 est de + V2 volts. Le conducteur de désexcitation 30 11' est relié par 1'intermédiaire d'une résistance relativement faible 22 à la borne positive 24- d'une source de tension continue 26 dont la borne négative 24-' est reliée à la terre en 20. La borne positive 24- produit une tension de + V1 volt par • rapport à la terre. Le conducteur de lecture . 11" est relié par 35 l'intermédiaire d'une résistance 28 à la borne positive 24. Chaque conducteur Y est relié à l'une des extrémités d*un-groupe de commutateurs parallèles 10, 10' et 10" qui sont également identifiés par un autre chiffre correspondant au nombre du conducteur X- ou Y impliqué. Les autres extrémités de ces ~ .... * • - - . ; . .. bad original COPY 69 37759 7 2049040 commutateurs sont reliées à un conducteur commun 30 conduisant à la borne négative 32' d'une source 34 de tension continue dont la borne positive 32 est reliée à la terre en 22 La borne négative 32' est ainsi à une tension de -V1 volt par rapport à 5 la terre. Les commutateurs 8, S',.8", 10,10' et 10" peuvent être des commutateurs ou des contacts électroniques à vitesse élevée. Naturellement, on préfère des commutateurs électroniques à vitesse élevée. On prévoit des dispositifs de commutation (non représentés) pour 10 fei-mer les deux commutateurs appropriés destinés à relier les sources de tension positive et négative convenables par rapport. aux conducteurs choisis- X et Y. Comme onl'a indiqué précédemment, chaque dispositif de commutation à seuil 6 ou chaque dispositif de commutation à "15 mémoire 4 est un dispositif à seuil car, lorsqu'il est dans une condition à résistance élevée, une tension qui équivaut ou qui dépasse une valeur de seuil donnée peut être appliquée à ses bornes pour le commander ou l'amener dans sa condition à résistance faible. Si la résistance de ces dispositifs dans leurs conditions 20 à résistance élevée est d'une valeur comparable ou essentiéllement égale, pour écrire un "1" binaire dans le dispositif de commutation à mémoire à tout point de croisement, cela nécessite l'application d'une tension aux bornes du conducteur X et Y choisi qui équivaut ou qui dépasse deux fois la somme de la valeur de 25.seuil la plus basse des dispositifs 4 et 6 reliés en série. Ainsi, par exemple, si le dispositif de commutation à mémoire 4 a une valeur de seuil de 20 volts et le dispositif de commutation à seuil 6 une valeur de seuil de 15 volts, la tension appliquée par la fermeture de la deuxième paire choisie des' commu-30 tateurs 8 et 10 doit être égale ou doit dépasser, de préférence, 30 volts comme cela' est représenté par le niveau de la tension d'excitation de 35 volts montré à la fig. 3« Ceci signifie que la somme des sortiés des sources de tension continue 16 et 34- reliées entre les bornes 14 et 32' doit également dépasser 35 30 volts car les valeurs de la résistance 12 (ainsi que des résistances 22 et 28) sont infinitésimales par rapport à la résistance des dispositifs de commutation 4 et 6- dans leurs conditions à résistance élevée. Si, d'autre part, les valeurs de résistance des dispositifs de coir.-utation à mémoire et à. seuil 40 sont essentiellement différentes, la tension appliquée nécessaire ç3ad original COPY 69 37759 8 2049040 pour écrire un "1" binaire à tout point de croisement doit être-d'une valeur qui est fonction des valeurs relatives de ces résistances, cette valeur pouvant être considérablement inférieure à la somme des valeurs de seuil les plus basses des dispositifs 4- et 5 6. Toutefois, en aucune façon, on doit appliquer une tension qui atteigne ou qui dépasse la somme des tensions d'excitation de trois points de croisement car ceci pourrait exciter simultanément n'importe lequel d'un nombre de trois points de croisement reliés en série en parallèle avec le point de croisement choisi. •10 Si les valeurs de résistance des dispositifs de commutation à mémoire et à seuil dsns leurs conditions à résistance élevée sont essentiellement égales pour désexciter un dispositif de commutation à mémoire en un point de croisement (c'est-à-dire pour le modifier à partir de sa condition à résistance faible vers sa 15.. - condition à résistance élevée),la tension appliquée entre le con-ducteur de désexcitation 11 ' et le conducteur commun 30 doit dépasser la valeur de seuil du dispositif•de commutation de seuil choisi 6, car on suppose que la résistance de tout dispositif de commutation à seuil 6 dans sa condition à résistance normalement 20 élevée est de plusieurs centaines ou de plusieurs milliers de fois plus grande que la résistance de la condition à résistance faible de tout dispositif de commutation à mémoire.De même, la tension appliquée doit, en général, être inférieure à la valeur de seuil du dispositif de commutation à mémoire à dé-sexciter. 25 • L'application d'une telle tension entre le conducteur de désexcitation 11' et.le conducteur commun 30 commande le dispositif de commutation à seuil • 6- vers sa condition à résistance faible. Ainsi, si la résistance de la source du circuit de désexcitation est suffisamment faible, de telle sorte qu'un courant de désexci-30 tation au niveau ou au-dessus du niveau L1 (fig. 4) circule à travers le dispositif de commutation à mémoire impliqué, le dispositif sera désexcité vers sa condition à résistance élevée. Par conséquent, la résistance 22 reliée en série avec le conducteur de désexcitation 11* est rendue suffisamment petite pour qu'un 35 courant de désexcitation désiré circule à travers le dispositif de commutation à mémoire choisi pendant une opération de désexcitation. La résistance 12 en série avec le conducteur d'excitation 11 et la résistance 28 en série avec le conducteur de lecture 11' ont des résistances de limitation de courant qui 8AD ORIGINAL -COPY 37759 9 2049040 limitent la valeur du courant circulant à travers le dispositif de commutation à mémoire pendant une opération d'excitation ou de lecture vers une valeur inférieure au niveau du courant de désexcitation L1. ^ 5 Fendant une opération de lecture, une tension est appliquée entre le conducteur de lecture 11" et le conducteur co'nnua 30 qui est insuffisamment élevée pour effectuer une commande du dispositif de commutation à seuil d::ns sa condition à résistance élevée en série avec un dispositif de com utation à mémoire dans 10 sa condition à résistance élevée vers sa condition à résistance faible ou de conduction. Dans la forme de l'invention donnée à titre d'exemple et illustrée à la fig. 3, où on suppose que la valeur de seuil de chaque dispositif de commutation à seuil 6 es1 de 15 volts, et la valeur de seuil de chaque dispositif de commu-15 tation à mémoire est de 20 volts, la tension de lecture doit dépasser 15 volts et être inférieure à 35 volts, de préférence plus faible que 20 volts. Dans l1 exemple représenté à la fig. 3> la-tension de lecture et la tension de désexcitation sont choisies à mi-demin entre 15 et 20 volts. 20 A partir du schéma de couplage représenté à la fig. 1, il ressort que la t,omme des sorties des sources de tension continue 26 et 34 Ç^i est de 2 VI, est approximativement de 17j5 volts. Etant donné que la somme de la sortie des sources de tension 16 et 34 pour une opération d'excitation est supposée être de 35 25 .volts, ceci a pour effet que la sortie de la source de tension 16 est d'environ 26,25 volts dans le circuit décrit donné à titre d'exemple. Ainsi, si les valeurs de résistance des dispositifs de commutation à mémoire et à seuil dans leur condition à résistance éle-30 vée sont essentiellement différentes, les niveaux des tensions indiquées à la fig. 3 ne sont pas appliqués. A titre d'exemple, si la valeur de résistance de chaque dispositif de commutation à seuil 6 dans sa condition à résistance élevée est de plusieurs centaines de fois supérieure è. celle de la valeur de la résis-35 tance du dispositif 4 de commutation à mémoire associé dans sa condition à résistance élevée, il est évident que la tension appliquée nécessaire pour commander ces deux dispositifs reliés en série à'partir de leur condition à résistance élevée vers leur condition à résistance faible, nécessite seulement de dépasser la bad original 37759 10 '2049040 valeur de seuil du dispositif de commutation à mémoire 4, à savoir 20 volts dans l'exemple donné, car l'application de 21 volt? donnerait une valeur légèrement inférieure à 21 volts aux bornes du dispositif de commutation à seuil.et, lorsou'il est commuté 5 vers sa condition à résistance faible, essentiellement la totalit-des 21 volts apparaîtrait ensuite aux bornes du dispositif de commutation à mémoire 4. De même, dans un tel cas, pour une opération de lecture, la tension de lecture a besoin seulement d'êtn inférieure à la valeur de seuil du dispositif de commutation à 10 mémoire, à savoir une valeur inférieure à 20 volts. Lorsqu'un "1" binaire est emmagasiné dans un dispositif de commutation à mémoire particulier, l'application d'une tension de lecture aux bornes du conducteur X et Y associé qui dépasse le niveau de seuil de tension du dispositif de commutation à seui^ 15 associé entraîne le passage significatif de courant à travers la résistance 28 en série avec le conducteur de lecture 11". D'autre part, si le dispositif de commutation à mémoire choisi es-1 dans une condition à résistance élevée, cette tension de lecture n'est pas assez élevée pour déclencher le dispositif de commuta-20 tion à mémoire vers sa condition à résistance faible, essentiellement aucun courant ne circulant à travers la résistance 28 . En conséquence, on prévoit un circuit de lecture 40 qui palpe la chute de tension aux bornes de la résistance 28 pour déterminer si oui ou non le point de croisement choisi est dans un 25' état de "1" binaire ou de "0" binaire. Comme on l'a indiqué précédemment, bien que le dispositif de commutation à mémoire et à seuil dans la matrice puisse être essentiellement de tout type, on préfère un type qui se compose de dépôts de pellicules sur toute base isolante appropriée car, 30 dans un tel cas, les prix de fabrication sont réduits et la densité d'emmagasinement peut être maximale. Ces dispositifs de commutation à mémoire et à seuil peuvent être du type décrit dans le brevet américain mentionné ci-dessus ayant le No 5 271 591. Le dispositif de commutation à seuil décrit dans ce brevet comporte 35 une pellicule ou une couche de matière semi-conductrice qui ost essentiellement en désordre et une matière généralement amorphe dans les conditions à résistance élevée et à résistance faible. La matière présente des ordres locaux et des liaisons localisées et est réalisée de telle sorte que toute tendance pour modifier bad 0rigina copy 37759 11 2049040 l'ordre local ou la liaison, localisée est réduite lors de modi- • fications entre la condition à résistance élevée et la condition à résistance faible. Toutefois, dans certaines circonstances, on peut utiliser des matières semi-conductrices cristallines pour 5 ces pellicules ou couches. De nombreux exemples de ces matières semi-conductrices sont décrits dans le brevet américain mentionné plus haut. Des caractéristiques typiques courant-tension de ces dispositifs de commutation à seuil sont illustrées à la fig. 5« Le dispositif de commutation à mémoire qui peut être du 10 type décrit dans le brevet américain mentionné ci-dessus comporte une pellicule ou couche qui est également; .une substance semi-conductrice généralement amorphe et essentiellement en désordre qui a un ordre local et une liaison localisée dans sa condition à résistance élevée. Toutefois, par contraste avec les substances 1.5 -.des dispositifs de commutation à seuil, la matière du type de • commutation à mémoire est réalisée de telle sorte que l'ordre local et sa liaison localisée puissent être modifiés pour y éta-blir une trajectoire ou des trajectoires conductrices d'une manière quasi permanente. En d'autres termes, la conductivité de 20 la matière peut être modifiée sévèrement pour fournir une trajectoire ou des trajectoires de conduction dans la matière qui est . gelée. La trajectoire ou les trajectoires conductrices peuvent être modifiées à nouveau vers les conditions initiales au moyen d'une impulsion de courant- La fig. 6 représente une caracté-25 ristique typique courant-tension du dispositif de commutation à mémoire dans sa condition à résistance élevée et la fig. 7 illustre cette caractéristique du dispositif de commutation à mémoire dans sa condition à résistance faible. Les dispositifs de commutation à seuil et les dispositifs de commutation à mémoire du 30 brevet américain mentionné plus haut ont des caractéristiques de commutation symétriques par rapport à la polarité de tension appliquée et, par conséquent, ces dispositifs de commutation fonctionnent de la même manière quelle que soit la polarité des tensions appliquées. Toutefois, comme cela est exprimé ci-dessus, 35 d'autres dispositifs de commutation qui n'ont pas des caractéx'is-tiques de commutation symétriques, peuvent être utilisés dans la matrice à mémoire de l'invention. Une gamme typique de valeur de résistance faible pour un dispositif de commutation à seuil du type décrit dans le brevet 40 américain indiqué ci-dessus est comprise entre 1 et 1000 ohms bad copy ; 69 37759 12 '2049040 et une gamme typique de valeur de résistance élevée pour un tel dispositif est de 10 à 1000 mégohms. Une gamme de valeur de résistance faible pour un dispositif de commutation à mémoire du type décrit dans le brevet américain mentionné plus haut est.com-5 prise entre 1 et 1000 ohms et une gamme de valeur de résistance élevée pour un tel dispositif est comprise entre 10 et 1000 mégohms. Lors du fonctionnement du dispositif de commutation à mémoire et du dispositif de commutation à seuil, la commutation 10 entre les conditions à résistance élevée et à résistance faible et vice-versa est essentiellement instantanée et apparaît le long d'une trajectoire ou des trajectoires filamenteuses entre les électrodes conductrices appliquées au côté opposé de la pellicule ou couche de la matière semi-conductrice impliquée. Les matières 15 semi-conductrices décrites dans le brevet américain No. 3 271 591 sont bidirectionnelles de telle sorte que la commutation se produit indépendamment de la polarité de la tension appliquée. Il y a lieu de remarquer en examinant les fig. 5 et 7 que, dans la condition à résistance faible du dispositif de commutation à mémoire, 20 la conduction du courant est essentiellement oblique, de telle sorte qu'il y a une augmentation dans la chute de tension à ses bornes avec un accroissement de la circulation du courant. Toutefois, dans certains cas, on observe que la conduction du courant du dispositif de commutation à mémoire a lieu avec une chute de 25- tension essentiellement constante aux bornes du dispositif à des niveaux de courant relativement élevés bien qu'elle soit ohmique à des niveaux de courant faibles. Par contraste avec ceci, dans les dispositifs de commutation à seuil, la chute de tension aux bornes du dispositif de commutation à seuil reste essentiellement 30 constante sur une large gamme de niveaux de courant. La commutation d'un dispositif de commutation à mémoire à partir d'une condition à résistance faible vers une condition à résistance élevée peut être obtenue en appliquant un courant de désexcitation au niveau ou au-dessus du niveau désexcité men-35 tionné ci-dessus L1 à une tension inférieure à la valeur de seuil du dispositif. Gomme on l'a indiqué précédemment, tant que le dispositif de commutation à seuil qui reste seulement aussi longtemps que le courant circulé dans sa condition à résistance faible, est au- 69 37759 13 2049040 dessus du niveau de maintien de courant, le dispositif de commutation à mémoire reste indéfiniment dans sa condition à résistance faible même lorsque la circulation de courant est terminée eu que la tension appliquée en est retirée. 5 Les fig c à 10 montrent la forme la plus préférée de la nïtrice à mémoire à tension de l'invention. Comme cela est indiqué, le groupe de matrices comporte une base isolante 42 en toute matière isolante appropriée à laquelle sont appliqués par criblage à la soie ou p-_-r un autre moyen les conducteurs Y parallèles 10 et espacés. In chaque point le long de chaque conducteur Y qui doit être croisé par un conducteur X, on a déposé une couche 44 en une matière isolante convenable qui s'étend au niveau de toute la largeur de chaque conducteur Y impliqué. Les conducteurs X sont ensuite déposas par criblage à la soie ou par un moyen ana-15 logue dans des bandes parallèles espacées de telle sorte qu'ils chevauchent les couches isolantes 44 afin d'éviter le contact électrique avec les conducteurs Y au niveau des points de croisement. Comme cela est représenté dans le mode de réalisation de l'invention, un dispositif de commutation à mémoire à chaque 20 point de croisement est déposé sous la forme d'une pellicule dans l'étendue entre les conducteurs Y adjacents, et le dispositif de commutation à seuil associé est déposé sous la forme d'une pellicule dans l'étendue entre les conducteurs X adjacents, (les endroits de ces dispositifs de commutation à mémoire et à seuil 25'en chaque point de croisement peuvent être évidemment inversés). On suppose que la trajectoire du courant circulant à travers un dispositif de commutation à mémoire ou à seuil apparaît dans une trajectoire limitée ou filament dans le corps de la matière serai-conductrice. Peur assurer des caractéristiques de conduction com-30 patibles dans un tel dispositif, on suppose qu'il est important de limiter le passage du courant à travers la même trajectoire ou filament chaque fois que le"dispositif transporte du courant. A cette fin, comme cela est montré aux dessins, une couche 45 de matière isolante est déposée sur chaque conducteur dans la zone 35 entre chaque paire adjacente de conducteurs Y. Chaque couche ^-6 de matière isolante présente un pore ou un petit trou 48 de façon à ce que seule..ent une petite partie de la surface extérieure de chaque conducteur X soit exposée en vue de l'application d'une pellicule ou couche 49 de matière semi-conductrice. Ensuite, on BAD original. 69 37759 2049040 dépose une pellicule ou couche d'une manière semi-conductrice formant dispositif de commutation à mémoire sur et dans chaque pore 48 de façon à ce que la -aatière semi-conductrice fasse contact avec le conducteur X sur une très petite étendue. A titre d'exsa 5 pie, la largeur de chaque pore 48 et, par conséquent, l'étendue de contact mentionné peuvent être comprises dans la gara ne d'environ 10 à ICO microns dans la forme préférée de l'invention. La matière semi-conductrice de chaque dispositif de commutation à mémoire peut être appliquée par pulvérisation, dépôt sous vide, 10 à l'aide de techniques de criblage à la soie. D'une manière analogue, on dépose une couche 46' de matière isolante sur chaque conducteur Y dans la zone entre chaque paire adjacente de conducteurs X. Cette couche 46' de matière isolante est également munie d'un pore ou petit trou 48' dans le-15 quel est déposée subséqueament une pellicule ou couche 49' d'une -Ji matière seni-conductrice formant un dispositif de commutation à seuil. Les dispositifs associés de commutation à mémoire et à seuil sont reliés en série par une couche appropriée 50 d'une matière conductrice criblée à la soie ou déposée autrement dans 20 une bande s'étendant entre les surfaces extérieures et exposées des Œfcières semi-conductrices formant chaque paire des dispositifs associés de commutation à mémoire et à seuil. Il ressort que le dispositif de couplage à mémoire binaire et le réseau de matrice à mémoire de l'invention peuvent être 25- facilement fabriqués par des techniques de production continues et en série car les diverses pellicules peuvent être facilement appliquées par des machines de dépôt automatiques successivement sur le corps 42 de la matière isolante. L'invention n'est pas limitée à la forme de réalisation re-30 présentée et décrite en détail car diverses modifications peuvent y être apportées sans sortir de son cadre. bad original 69.37759 15 2049040 li n il i c n i os a 1. Matrice à mémoire comprenant des conducteurs d'axes X et Y formant des rangées et des colonnes de conducteurs devant recevoir des adresses pour des opérations d'excitation, de 5 désexcitation et de lecture, caractérisée en ce qu'elle comprend un premier et un deuxième dispositif de commutation reliés en série, couplés entre chaque point actif de croisement des conducteurs X et Y, chaque premier dispositif de commutation étant un dispositif de commutation à seuil qui a une valeur de tension 10 de seuil, une condition de résistance relativement élevée et une chute de tension relativement importante à ses bornes dans la condition de résistance élevée pour des tensions proches de la valeur de tension de seuil qui y est appliquée, qui est commuté vers une condition de résistance relativement faible lorsque la 15 tension qui lui est fournie atteint la valeur de tension de seuil qui a une chute de tension relativement faible à ses bornes dans la condition de résistance faible qui est une fraction mineure de la chute de tension précitée à ses bornes dans la condition à résistance élevée, et qui reste dans la condition à résistance 20 • faible jusqu'à ce que la valeur instantanée du courant qui le traverse baisse en dessous d'une valeur de maintien donnée, après quoi il est commuté vers la condition à résistance élevée, chaque deuxième dispositif de commutation étant un dispositif de commutation à mémoire qui a une valeur de tension de seuil, une 25 condition de résistance relativement élevée et une chute de tension relativement importante à ses bornes dans la condition à résistance élevée pour des tensions proches de la valeur de tension de seuil qui y est appliquée, qui est commuté vers une condition de résistance relativement faible lorsque la tension 30 qui lui est appliquée atteint la valeur de tension de seuil, qui a une chute de tension relativement faible à ses bornes dans la condition à résistance faible qui est une fraction mineure de la chute de tension précitée à ses bornes dans la condition à résistance élevée, et qui reste dans la condition à ré-35 sis tance faible indépendamment de l.a présence ou de l'absence d'une tension appliquée jusqu'à la désexcitation vers la condition à résistance élevée par l'alimentation d'une impulsion de courant de désexcitation d'une valeur donnée, la valeur de ten- 69 37759 16 2049040 sion de seuil du dispositif de commutation à seuil étant inférieure à celle du dispositif de commutation à mémoire, un dispositif d'excitation pour appliquer entre tout conducteur X choisi et tout conducteur Y choisi d'un point de croisement 5 actif une impulsion de tension d'excitation d'une valeur suffisante pour commander tant le dispositif de commutation à seuil relié en série que le dispositif de commutation à mémoire associé avec le point de croisement choisi dans leurs conditions à faible résistance et pour commuter le dispositif de commuta-10 tion à seuil vers sa condition à résistance élevée à la fin de l'impulsion de tension d'excitation, un dispositif de désexcitation pour appliquer entre tout conducteur X choisi et tout conducteur Y choisi d'un point de croisement actif une impulsion de courant de désexcitation ayant une tension suffisante pour 15 commander le dispositif de commutation à seuil associé avec le point de croisement choisi vers sa condition de résistance faible lorsque le dispositif de commutation à mémoire associé est dans sa condition à résistance faible pour alimenter une impulsion de courant de désexcitation à travers le dispositif de com-20 mutation à mémoire afin de commuter le dispositif de commutation à mémoire vers sa condition à résistance élevée, et un dispositif de lecture pour appliquer entre tout conducteur I ohoisi et tout conducteur Y choisi une impulsion de courant de lecture ayant une tension suffisante pour commander le dispositif de 25 commutation à seuil vers sa condition à résistance faible lorsque le dispositif de commutation à mémoire associé est dans sa condition à résistance faible pour alimenter une impulsion de coûtant de lecture qui est inférieure à l,impulsion de courant de désexcitation à travers le dispositif de commutation à mémoire 30 dans sa condition à résistance faible à des fins de lecture. 2. Matrice à mémoire suivant la revendication 1, caractérisée en ce qu'elle comprend une base isolante supportant les conducteurs X et Y et en ce que les dispositifs de commutation à mémoire et à seuil sont des couches déposées ou des pellicules 35 de matière semi-conductrice. 3. Matrice à mémoire suivant l'une des revendications 1 et 2, caractérisée en ce que les dispositifs de commutation à mémoire et à seuil sont des dispositifs bidirectionnels qui conduisent le courant dans l'une ou l'autre direction et en ce que les 37759 17 2049040 niveaux de tension de seuil et le courant de désexcitation sont indépendants de la polarité de la tension appliquée ou de la direction d*écoulement du courant. 4. Matrice à mémoire suivant l'une des revendications 1 à 3, 5 caractérisée en ce que la tension de lecture appliquée pour une opération de lecture peut être utilisée suivant toute grandeur donnée indépendamment de sa polarité.