Brevet FR2006195A1 — publié le 19691219

La présente invention concerne un procédé et un dispositif de compensation automatique des variations du niveau des signaux dans les circuits d'hyperfréquences, comprenant un générateur d'ondes entretenues et un détecteur de signaux d'hyperfréquences. Le générateur d'hyperfréquences et le détecteur d'hyperfréquences sont les éléments fondamentaux des divers dispositifs d'essai utilisant les hyperfréquences, et fonctionnant selon le principe de la mesure de l'affaiblissement ou du déphasage des signaux d'hyperfréquences. Le générateur d'hyperfréquences constitue une source de signaux alimentant les circuits ou éléments devant etre utilisés dans une bande d'hyperfréquences, ou essayés au -moyen d'hyperfréquences. Le détecteur a pour but de rectifier le signal d'hyperfréquence ou de démoduler son enveloppe, à la sortie du circuit d'épreuve. La rectification ou la démodulation d'un signal d'hyperfréquence permet de mesurer la valeur du signal ou sa variation, à partir de la mesure d'un courant ou d'une tension coSinus de basse fréquence, pourvu que le signal d'hyperfréquence engendré ait été préalablement modulé par une telle onde basse fréquence. Les mesures sont effectuées par les méthodes et les instruments classiques, soit par des ampèremètres et voltmètres pour courant continu, soit par des vol t mètres pour courant alternatif, de sensibilité convenant au signal de sortie essayé. Un problème essentiel de ce genre de mesures est de maintenir la stabilité du niveau du signal, dans le système comprenant un générateur et un détecteur d'hyperfréquences, par rapport aux fluctuations de temps, de température et de tension d'alimentation.Les principaux facteurs provoquant la variation du niveau du signal dans un circuit d'hyperfréquences quelconque, comprenant les éléments mentionnés ci-dessus, sont les variations de niveau de puissance et de fréquence du générateur, ainsi que les variations de l'impédance et de la sensibilité du détecteur, dues aux variations des trois paramètres cités ci-dessus. Toute modification des paramètres techniques d'un quelconque des composants d'un circuit d'hyperfréquences a pour résultat direct la détérioration à long terme de la stabilité du circuit et, par conséquent, la réduction de la précision et de la possibilité de comparaison des résultats obtenus au moyen d'un circuit ou dispositif d'épreuve donné. Les procédés actuellement utilisés pour stabiliser le niveau du signal, dans un dispositif comprenant un générateur et un détecteur d'hyperfréquences, consistent à stabiliser ou à compenser les variations des paramètres de chacun des composants séparément, ou à éviter les causes de ces variations.La technique courante des hyperfréquences utilise des dispositifs stabilisateurs de fréquence pour générateurs d'hyperfréquences destinés à compenser les causes d'instabilité telles que la variation de tension d'alimentation, la variation d'impédance de charge et la variation de fréquence de cavité résonante par rapport à la température, à l'humidité de l'air ambiant et à sa pression, ou aux vibrations mécaniques ou acoustiques ; on utilise aussi des circuits électroniques stabilisateurs externes.Les méthodes les plus fréquemment utilisées sont: la stabilisation des tensions d'alimentation, la réduction ou le couplage entre le générateur et la charge, la stabilisation utilisant une cavité externe, ou la stabilisation utilisant le principe de la contre-réaction, utilise sant un circuit discriminateur dlhyperfréquences pour comparer la fréquence du générateur à la fréquence de résonance d'une cavité, de haut coefficient qualitatif, la différence de fréquence étant convertie en une différence d'amplitude, proportionnelle au déphasage du générateur et de la cavité.Le signal d'erreur obtenu est transmis directement ou par l'intermédiaire d'un amplificateur à courant continu, au circuit du générateur, pour corriger sa fréquence d'oscilla fi on, de façon à compenser la cause de la variation, et à approcher la fréquence de celle de la cavité résonante de référence. Un certain nombre de circuits stabilisateurs de fréquence pour générateurs d'hyperfréquences,fonctionnent sur lè principe ci-dessus ; ces circuits ne diffèrent les uns des autres que par le type de discriminateur et de circuits électroniques utilisés. A part les détails d'exécution, les inconvénients communs à tous ces dispositifs sont que le coefficient de stabilisation dépend des paramètres caractéristiques de la cavité de référence, et, bien plus encore, de la stabilité des caractéristiques des diodes semi-condu:trices du détecteur, dans les circuits électroniques assez simples utilisés, ou de la nécessité d'utiliserdes circuits électroniques beaucoup plus complexes, pour la régulation automatique de la fréquence.La stabilisation du niveau de puissance d'un signal d'hyperfréquence engendré, s'obtient en ayant recours au principe de la contre-réaction. Un tel dispositif utilise un atténuateur réglable a hyperfréquences, inséré entre le générateur et la charge, pour fournir un niveau de signal prédéterminé à la charge, la valeur de l'affaiblissement produite par l'atténuateur dépendant de l'amplitude du signal aux bornes de la charge. Toute variation du niveau de puissance du générateur provoquant une variation de l'amplitude du signal d'hyperfréquence à la charge, a pour effet de faire varier l'affaiblissement, de façon à compenser la variation de niveau et, par conséquent, le signal d'hyperfréquence dans la charge est maintenu à un niveau constant. L'inconvénient de ce genre de solutions est que le coefficient de stabilisation depend de la stabilité des caractéristiques des diodes semi-conduc trices utilisées pour la détection du signal d'hyperfréquence, avant de llintro- duire dans les circuits d'entrée d'un système de régulation automatique de l'affaiblissement.Les paramètres des diodes senìi-conductrices, leur sensibilité et leur impédance en particulier, sont sujets à des variations considérables, en fonction de la température et du temps. L'effet de la température sur les proprié tés d'une diode semi-conductrice devrait, conformément aux considérations théoriques, se faire sentir sous forme d'une réduction de l'impédance de la diode, et d'une augmentation de sa sensibilité au courant, avec l'augmentation de température.Mais en pratique, les propriétés des diodes semi-conductrices dépendent des conditons ambiantes, les phénomènes survenant sont capricieux, présentant parfois des effets d'hystérésis, et les anomalies apparaissent princi- palement à une température inférieure à 21 ec. Aux températures supérieures, la diode semi-conductrice se comporte, dans la majorité des cas, conformément à le théorie. La compensation des variations des paramètres d'une diode semi- conductrice en fonction de la température est donc très difficile, et celle en fonction du vieillissement, des effets mécaniques et autres influences secondait res, impossible.Etant donné ce qui précède, les circuits d'hyperfréquences comprenant un ou plusieurs détecteurs à diode, dans le circuit du signal éprouvé, ne sont utilisés en ce qui concerne les déviations, que pour des mesures relatives effectuées dans des intervalles de temps réduits. Ceci s'applique à la fois aux dispositifs d'épreuve à hyperfréquences de construction simple dans lesquels un élément éprouvé est monté en série entre le générateur et le détecteur dthyper- fréquences, et aux montages en pont, dans lesquels un élément éprouvé est monté dans une des branches du pont, tandis que l'autre constitue les éléments d'équilibrage d'amplitude et de phase du pont. Un des objets de la présente invention est d'améliorer 18exactitude, la stabilité et la comparab il hé aux résultats de mesures relafives, et de permettre d'utiliser les circuits d'épreuve à hyprefréquences comportant un générateur et un détecteur d'hyperfréquence pour la mesure de valeurs absolues par des méthodes de déviation, sur des périodes de temps prolongées. On atteint ce résultat en modulant un signal d'onde entretenue d'hyperfréquence par un signal de deux fréquences différentes, que l'on sépare après démodulation, lGun des signaux démodulés servant à lire les résultats de la mesure, et l'autre à commander les paramètres du circuit d'épreuve. Un dispositif selon l'invention comprend un canal supplémentaire d'hyperfréquences, shuntant un circuit primaire d'épreuve d'hyperfréquence, simple ou à pont, alimenté à partir d'un genérateur d'hyperfréquences, avec une onde entretenue, modulée par un signal de fréquence F1, dans son parcours entre le générateur et un détecteur d'hyperfréquences, cette onde étant démodulée au moyen d'une diode semi""ccnductrice. Ce canal supplémentaire est fourni par le signal d'hyperfréquence provenant du générateur alimentant le circuit d'épreuve primaire, et le signal de sortie dudit canal supplémentaire est appliqué au même détecteur d'hyperfréquen- ces, commandé par le sign-al de sortie du circuit d'épreuve primaire Le canal supplémentaire comprend un autre modulateur, qui module le signal continu d'hyperfréquences franchissant ce canal, avec un signal de fré- quence F2, différente de F1. La différence de fréquence des cieux ondes modula latrices permet de distinguer, au moyen de -ailtres sélectifs, les signaux de sortie du détecteur d'hyperfréquences.La séparation des deux signaux démodulés par la diode semi-conductrice permet de séparer à la fois le signal provenant du circuit épreuve et portant l'information sur un élément en cours d'épreuve, et le signal provenant du canal supplémentaire et portant l'information sur le niveau dû signal d'hyperfréquence, dans le système générateur-détecteur. L'utilisation du signal de sortie du détecteur d'hyperfréquences provenant du canal supplémentaire, c'est-à-dire du signal qui n'est conditionné que par la stabilité des paramètres du générateur et du détecteur, pour commander le degré de modulation du signai dlhyperfréqtuenee dans le circuit, d'épreuve utilisant le principe de la contre-réaction, permet d'atteindrele but de l'invention, c'est-à -dire de diminuer considérablement la dépendance du niveau du signal d'un circuit d'épreuve à hyperfréquences, tant de modèle simple que de modèle à pont, de le stabilité des paramètres du générateur et du vecteur d'hyperfré- quEnces. Toute variation du niveau du signal dûe aux variations du niveau de puissance du générateur d'hyperfréquences ou de la sensibilité ou de l'impédance du détecteur, quelle qu'en soit l'origine, est compensée par une variation appropriée du degré de modulation du signal d'hyperfréquence dans le circuit d'épreuve, dans les limites linéaires de fonctionnement du circuit régulateur de modula tion. L'avantage technique découlant de l'emploi du dispositif selon llinven- tion, est l'amélioration de la précision, de la stabilité et de la comparabilité des résultats des mesures relatives effectuées en utilisant la méthode de déviation, au moyen de circuits d'hyperfréquences, de type simple ou à pont, ainsi que le développement des possibilités d'utilisation des procédés et dispositifs d'épreuve à hyperfréquences, dans les mesures absolues effectuées sur de longues périodes de temps. On va maintenant décrire, à titre d'exemple non limitatif, un mode par ticul;er de réalisation de l'invention, en se référant aux dessins annexés qui représentent ; - figure 1, un schéma de montage simplifié d'un circuit d'épreuve à hyperfréquences pourvu d'un régulateur automatique de niveau de signal, dans un système générateur-détecteur ; - figure 2, un circuit d'épreuve à hyperfréquences simple, utilisant la méthode de mesure par transmission ; - figure 3, un circuit d'épreuve à hyperfréquences, à pont, utilisant la méthode de mesure par transmission ; - figure 4, un circuit d'épreuve à hyperfréquences simple, utilisant la méthode de mesure par réflexion ; - figure 5, un circuit d'épreuve à hyperfréquences à pont, utilisant la méthode de mesure par réflexion ;; - figure 6, la caractéristique d'amplitude d'un signal éprouvé de fréquence F1, par rapport à l'amplisude d'un signal de contrôle de fréquence F2 ; - figure 7, la caractéristique des rapports entre les signaux éprouvés etde centrale, d'une part, et les variations de la puissance de sortie du générateur et de la sensibilité ou de l'impédance du détecteur d'hyperfréquences, d'autre part; - figure 8, l'amplitude du signal éprouvé de fréquence F1, en fonction de la puissance de sortie du générateur ou de l'impédance ou de la sensibilité du détecteur d'hyperfréquences, dans un montage pourvu de régulation automa- tique de niveau, et - figure 9, une construction vectorielle des signaux envoyés au détecteur d'hyperfréquences. Le montage pour la compensation automatique de la variation de niveau du signal dans un circuit à hyperfréquences selon la présente invention, est représenté sur le schéma simplifié de la figure 1. Sur ce schéma, un générateur d'hyperfréquences 1 fournit un signal d'hyperfréquences continu, à un canal d'épreuve et à un canal de régulation d'un dispositif à hyperfréquences, par l'intermédiaire d'une jonction 2. Le signal d'hyperfréquence dans le canal d'épreuve est modulé par un signal de fréquence F1 engendré par un générateur 5, et amené à un modulateur 3, par un circuit de modulation 4. L'amplitude du signal de fréquence F1 est, dans ce dispositif, constamment réglable, au moyen d'un signal de courant continu, provenant d'une source extérieure, appliqué au circuit modulateur. Le signal d'hyperfréquence modulé par le signal de fréquence F1, est conduit à un circuit d'épreuve à hyperfréquences 6, comprenant un élément à éprouver par la méthode de transmission ou de réflexion, dans un dispositif simple ou à pont.Les schémas représentant chacun des quatre types de circuit d'épreuve par hyperfréquences précités 6, sont représentés sur les figures 2, 3, 4 et 5. La figure 2 représente un circuit simple, utilisant le procédé de mesure par transmission, dans lequel un signal d'hyperfréquences modulé est passé à travers un élémenten cours d'épreuve 17, un déphaseur 9, et une fonction, vers un démodulateur qui le démodulera. Si les signaux d'hyperfréquences provenant des deux canaux sont en phase, les variations d'amplitude du signal démodulé de fréquence F1 donneront la mesure de l'affaiblissement provoqué par l'élément éprouvé dans le signal d'hyperfréquence. La figure 3 représente un circuit à pont, utilisant le procédé de mesure par transmission, dans lequel un signal d'hyperfréquences modulé est transmis, par une fonction 18, aux deux branches du pont. Un élément en cours d'épreuve 17 est placé dans une des branches, tandis que l'autre comprend un élément d'équilibrage d'amplitude 20, et un élément d'équilibrage de phase 21 du pont. Les signaux provenant des deux branches du pont sont envoyés par une jonction 19, un déphaseur 9 et une seconde jonction, à un détecteur d'hyperfréquences. Les variations d'amplitude du signal de fréquence F1 prenant naissance à la sortie du détecteur d'hyperfrêquences, quand les phases sont équilibrées dans le pont, donnent la mesure de l'affaiblissement provoqué par l'élément éprouvé 17.Des principes semblables sont utilisés dans les procédés par réflexion, pour la mesure de la variation de iaffaiblisseinent provoqué par un élément éprouve. La figure 4 représente un circuit simple, dans lequel un signal d'hy perfréquences modulé traverse un circulateur ou coupleur directionnel 22, puis un élément à éprouver 17, suivi d'un disposifif de court-circuitage à noyau plongeur 23. Le signal d'hyperfréquences réfléchi par ledit noyau plongeur traverse l'élément éprouvé 17 une seconde fois, et gagne, par le circulateur ou coupleur 22, le déphaseur 9 et une jonction, un détecteur $'.hyperfréquences. Les variations d'amplitude du signal démodulé de fréquence F1 donnent la mesure des variations d'affaiblissement provoquées par un élément éprouvé; si les deux canaux d'hyperfréquences sont accordes de façon à être en phase. La figure 5 représente un circuit à pont, dans lequel un signal d'hyperfréquences modulé gagne, par une jonction 18, une branche d'un pont de mesures comprenant un élément à éprouver 17, et un dispositif de court-circuitage à noyau plongeur 24, puis un élément d'équilibrage d'amplitude 20 et un élé- ment d'équilibrage de phase 21 du pont, se terminant par un autre dispositif de court-circuîtage à noyau plongeur 23, et enfin, par un déphaseur 9 et une jonco tion, un détecteur d'hyperfréquences. Comme dans le procédé par transmission, les variations d'amplitude du signal de fréquence F1 apparaissant à la sortie du détecteur d'hyperfréquences, quand les phases sont équilibrées dans le pont, donnent la mesure des variations d'affaiblissement provoquées par un élément éprouvé. B'exactitvde, la stabilité et la comparabilité des résultats obtenus pendant diverses périodes de temps au moyen de l'un quelconque des procédés et circuits ci-dessus, sont con"" ditionnées, en premier lieu, par la stabilité de la fréquence du générateur et de sa puissance de sortie, et par celle de l'impédance et de la sensibilité du detec teur d'hyperfréquences.Le signal de sortie du circuit d'essai à hyperfréquences 6, disposé selon une des variantes ci-dessus, est envoyé à un détecteur 1 1 par l'intermédiaire d'une jonction 1 O Le signal d'hyperfréquence provenant d'un canal de rêgulationg gagne le détecteur 1 1 par une autre branche-de la meme jonction 1100 Le signal du ca nal de régulation est modulé par un signal de fréquence F2, différente de F1, dans un circuit modulateur 7 Lc source du signal de fréquence F2 est un générateur séparé 8, ou un secondaire de transformateur monte sur le secteur, et équipé d'un limiteur d'amplitude. a sortie du détecteur d'hyperfréquences 11 fournit des signaux de fréquences F et F, amplifiés par un amplificateur passe-bande 12, et séparés par des amplificateurs 13 et 14, munis de filtres sélectifs, accordés sur les fréquences F. et F2 respectivement. Lesignal de fréquence F1, obvenuà la sortie de l'amplificateur 13, et contrôlé par un indicateur 14, est seiel qui porte les renseignementssur les valeurs des variations d'affaiblissement provoquées par l'élément en cours d'é- preuve. Dansles deux dispositirs, le dispositifsimple et De dispositif à pont, l'information est obtenue si les signaux d'hyperfréquences des deux canaux, celui du circuit d'épreuve et celui du circuit de régulation, sont égaux et en phase.D'autre part, le signal de fréquence F2, engendré à la sortie de l'amplificateur 15, est celui qui porte les renseignements sur le niveau du signal d'hyperfréquences, à l'intérieur du circuit générateur-détecteur, et qui, par consé- quent, donne l'information sur la stabilité du niveau de puissance de sortie du générateur, et sur l'impédance et la sensibilitédu détecteur.Dans un tel dispositif, toute variation d'un de ces paramètres, due à des fluctuations de la tension d'alimentation ou de la température, à des causes mécaniques, au vieillissement, et, en général, à des causes arbitraires quelconques, prend la forme d'une variation d'amplitude du signal régulaftur je fréquence F, à la sortie de l'am plificateur 15.Le signal de sortie de l'amplificateur, redressé par un circuit 16, et transmis à un circuit modulateur 4, fournit une compensation automatique des variations du niveau du signal d'hyperfréquences dans le circuit générateur-detecteur, en faisant varier liamplitude du signal modulant le signal d'hyperfréquen- ces dans le canal drépreuve, pourvu que les pentes des parties linéaires des caractéristiques dans lesquell;ss P est la puissance, soient convenablement choisies Les figures 6 et 7 représentent des caractéristiques simplifiées des relations : : amplitude du signal de fréquence F1 en fonction de l'amplitude du signas F2; et : amplitude du signal de fréquence F2 en fonction des variations du niveau de puissance du générateur et de l'impédance ou de la sensibilité du détecteur. La dépendance du signal de fréquence F1, contrôlé par l'indicateur 14 des variations du niveau de puissance de sortie du générateur et de la sensibilité ou de l'impédance du détecteur, est, dans la partie linéaire des caractéristiques ci-dessus, considérablement réduite dans le dispositif de circuit selon l'invention. La figure 8 représente une caractéristique simplifiée d'un signal de fréquence F1, en fonction des variations des paramètres du niveau de la puissan- ce du générateur et du détecteur dans un circuit d'byperfréquences équipé de la régulation automatique du niveau de signal. Dans le dispositif décrit ci-dessuS le signal de sortie du circuit d'hyperfréquences, tel qu'il est envoyé au détecteur, est la somme de plusieurs signaux de sortie, I'un E2 (1 +m2 cosfl 2 t) cos W t provenant du canal de régulation, et de valeur assez élevée, et l'gaufre E1 (1 +ml cosn1 t+b) cos (oJt4* t ) provenant du canal d'épreuve, et dont la valeur est 20 à 30 dB inférieure.La figure 9 représente le schéma vectoriel des signaux, dans lequel ; E est le signal de sortie total du circuit d'hyperfréquences, E1 est le signal de l'onde porteuse dans le canal d'épreuve, E2 est le signal de l'onde porteuse dans le canal de régulation, m1 est le degré de modulation de l'onde porteuse dans le canal d'épreuve, m2 est le degré de modulation de l'onde porteuse dans le canal de régulation, #1 et #2 sont les pulsations respectives des signaux modulateurs, t) est la pulsation de l'onde porteuse, o( est l'angle de déphasage entre les signaux des ondes porteuses dans les deux canaux, et ot est l'angle de déphasage entre les signaux modulateurs. On peut effectuer une analyse de fréquence de l'expressiori E, qui définit le signal E appliqué au détecteur, pour déterminer les composantes individuelles de la fréquence. Ceci a été fait dans une publication antérieure. L'analyse montre qu'un détecteur polarisé est, pour le signal E, un détecteur d'enveloppe, et que, par conséquent, son signal de sortie dépend linéairement du signal E. Si on suppose des fréquences différentes F1, F2, pour les signaux modulant les signaux porteurs d'hyperfréquences dans les deux canaux, le canal d'épreuve et le canal de régulation,et si on donne à l'angle ossde déphasage entre les signaux modulateurs, la valeur zéro, on obtient les expressions pour les composantes du signal E,qui montrent que ces composantes dépendent de la valeur de l'angle di de déphasage entre les signaux d'ondes porteuses dans les deux canaux, d'épreuve et de régulation.Conformément à l'invention, on amène l'angle g à zéro au moyen d'un déphaseur,et les composantes du signal E sont alors E g = Elm1 pour la pulsation - , et (1) 1 10 E#1 = E1m1 pourla pulsation #1, et (1) E#2 = E2m2 pour la pulsation #2 (2) Il découle de la relation (1) que, pour une valeur constante du degré de modulation m1, le signal de sortie du détecteur de pulsation SY provenant du canal d'épreuve, dépend linéairement du niveau du signal d'hyperfréquence dans ce canal, et, par conséquent, de l'affaiblissement provoqué par l'élément en cours d'épreuve, et du niveau de puissance de sortie du générateur d'hyperfréquences. II découle de la relation (2) que le signal de sortie du détecteur, de pulsation 2' provenant du canal de régulation, dépend, dans les mêmes conditions, du niveau de la puissance de sortie du générateur d'hyperfréquences, mais non de l'affaiblissement provoqué par l'élément en cours d'épreuve. Les deux signaux dépendent, au même degré, de la sensibilité etde l'impédance du détecteur d'hyperfréquences. Ce qui précède donne immédiatement la possibilité d'utiliser le signal de sortie du détecteur, de pulsation 1/12 2,pour la régulation automatique d'un des paramètres du canal d'épreuve, pour compenser les variations de puissance de sortie du générateur, ou de sensibilité et d'impédance du détecteur d'hyperfréquences. La relation (1), qui est essentielle pour le résultat des mesures, montre qu'il est possible de compenser la variation de niveau de l'onde porteuse dans un circuit d'hyperfréquences, indépendamment des causes, en faisant varier l'amplitude de la modulation de l'onde porteuse au moyen du signal de pulsation fil1. Le circuit de régulation automatique du niveau du signal selon la présente invention, utilise le principe décrit ci-dessus, et le dispositif employé distingue la variation de niveau de signal dOe aux variations de puissance de sortie d'un générateur d'hyperfréquences ou, ce qui revient au même en ce qui concerne les résultats, la variation d'impédance ou de sensibilité du détecteur de la variation du niveau de signal provoquée par l'affaiblissement dû à l'élément éprouvé. L'amplitude de la modulation du signal d'hyperfréquences dans le ca nal d'épreuve est réglée automatiquement par le dispositif du premier seulement de ces deux cas. Sous réserve d'un rapport d'amplitude convenable des signaux d'hyperfréquences dans les canaux de régulation et d'épreuve, les variations étendues de l'affaiblissement mesuré n'auront pas d'effet sur la valeur du signal qui commande l'amplitude de la modulation. De meme;la modifica- tion de l'angle de déphasage i entre les signaux d'hyperfréquences dans les deux canaux n aura, dans une gamme déterminée, aucun effet sur le signal de régulation. Mais ta dépendance du signal mesuré de cet angle de déphasage exige l'utilisation de circuits stabilisateurs de fréquence pour le générateur d'hyper"" fréquences, cu, Si I '61fzment éprouvé provoque un déphasage supplémentare variant pendant l'essai, Ç'uttlisation d'un circuit d'égalisation automatique de déphasage entre les deux signaux d'hyperfréquences. On peut réaliser de tels circuits en utilisant les relations ci-dessus, qui iient l'élément "courant continu" du détecteur, ou les éléments de seconde harmonique des fréquences du signal modulateur, à l'angle de déphasage entre les signaux d'hyperfréquences dans les deux canaux.Le procédé et le dispositif décrits ci-dessus pour la compensation automatique de variation de niveau de signal dans les circuits d'hyperfréquences, comprenant un générateur d'ondes entrenues et un détecteur de signaux d'hyperfréquences, peut s'utiliser dans les appareils et circuits d'épreuve utilisant les hyperfréquences pour éprouver des éléments, des parties et des ensembles entrant dans la composition de systèmes d'hyperfréquences, des instruments spéciaux pour hyperfréquences, ou pour l'étude des propriétés des solides, des liquides ou des gaz, dans le champ des hyperfréquenoes. L'emploi du procédé et du dispositif de la présente invention a pour résultat une réduction considérable de la dépendance des résultats des mesures des variations de la puissance de sortie du générateur d'hyperfréquences et de la sensibilité et de l'impédance du détecteur d'hyperfréquences, et par conséquent une amélioration considérable de la stabilité, de l'exactitude et de la comparabilité des résultats des mesures relatives, utilisant le procédé par déviation sur de courtes périodes de temps, ainsi que le développement des possibilités d'ufllisation des appareils d'hyperfréquences utilisant la stobitisation de fréquence d'un générateur d'hyperfréquences, ou l'égalisation automatique de phases de signaux d'hyperfréquences dans les mesures par déviation de valseurs absolues sur de longues péraodes de temps.Le circuit décrit ci-dessus csb dérive d'un circuit d'épreuve classique à hyperfréquences, largement utilisé en métrologie, par addition de quelques éléments simples tels que guides d'ondes, joints, modulateur et déphaseur, ainsi que quelques unités électroniques comme un générateur de signal de fréquence F2, ou un limiteur d'amplitude, s le signal est prélevé sur le secteur un ampli- fixateur sélectif de gain faible avecredresseur de signal de sortie, et un divi- seur de signal à rapport modifiable par signal de courant continu, insérés dans le circuit modulateur du canal d'épreuve. On obtient ainsi une amélioration considérable des paramètres techniques des circuits d'hyperfréquences, sans diminution notable du facteur de sûreté du circuit global Bien entendu, l'invention n'est pas limitée aux termes de la description qui précède, mais elle en comprend, au contraire, toute les variantes à la portée d'un hommede métier. REVENDICATIONS 1. Procédé de compensation automatique des variations indésirées du niveau d'un signal, dans les circuits d'hyperfréquences, comprenant un générateur de micro-ondes entretenues, et un détecteur de signal d'hyperfréquences, dans lequel le signal de micro-ondes entretenues provenant dudit générateur, est dirigé sur deux canaux séparés, et divisé en deux signaux d'hyperfréquences, à savoir un signal d'épreuve et un signal de régulation, modulés chacun par un si - gnal alternatif, et utilisés, l'un comme signai d'épreuve en hyperfréquence dans un circuit d'épreuve, et l'autre, comme signal régulateur en hyperfréquence dans un circuit régulateur, pour commander le niveau de la puissance de sortie dudit générateur, ainsi que la sensibilité et l'impédance dudit détecteur, lequel fournit à sa sortie le signal constitué par l'enveloppe démodulée dudit signal d'épreuve en hyperfréquence, et servant à donner l'information concernant les paramètres d'hyperfréquence dudit canal d'épreuve, et le signal constitué par l'enveloppe démodulée dudit signal régulateur d'hyperfréquence, et servant de signal de commande pour compenser automatiquement les variations indésirées du niveau des signaux dans ledit canal d'épreuve, dues à des variations des paramètres desdits générateurs ou détecteur d'hyperfréquences, compensation réalisée en faisant varier le degré de modulation dudit signal d'épreuve, en microondes entretenues dans ledit canal d'épreuve. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel ledit signal régulateur, commandant les variations du degré de modulation dudit signal d'épreuve dans ledit canal d'épreuve, est fourni par ledit canal régulateur, par démodulation de l'enveloppe dudit signal régulateur, utilisant comme générateur d'ondes entretenues le même générateur d'hyperfréquences, et, comme démodulateur, le même détecteur d'hyperfréquences, utilisés pour produire ladite onde-entretenuer et pour démoduler l'enveloppe dudit signal d'épreuve en hyperfréquences, respec ti vement. 3. Procédé selon les revendications X et 2, dans lequel le signai de micro-ondes entretenues dans ledit canal d'épreuve est modulé en amplitude ou en phase sur le parcours, entre l'entrée et la sortie dudit canal d'épreuve 4. Procédé selon les revendications 1 et 2, dans lequel le signal de micro-ondes entretenues dans ledit canal regulaieur, est modulé en amplitude ou en phase sur le parcours, entre l'entrée et la sortie dudit canal régulateur. 5. Procédé selon les revendications 1 à 4, dans lequel les différences entre les signaux modulant ledit signal d'épreuve et ledit signal régulateur, permettent de séparer lesdits signaux modulateurs à la sortie dudit détecteur d'hy perfréquences 6. Dispositif pour la mise en oeuvre du procédé selon les revendications 1 à 5, comprenant un générateur de micro-ondes entretenues, alimentant ledit scanal d'épreuve et ledit canal régulateur d'un montage à hyperfréquences par une jonction d'entrée, un modulateur de canal d'épreuve dans lequel le signal de micro-ondes entretenues amené audit canal d'épreuve, est modulé par un signal d'une certaine fréquence, fourni par un générateur de signal, et amené au- modulateur du canal d'épreuve par un circuit de modulation, un circuit d'épreuve du type soit simple soit à pont, et, simultanément, du type soit à transmission soit à réflexion, un modulateur de canal régulateur, dans lequel le signal de micro-ondes entretenues amené audit canal régulateur est modulé par un signal d'une autre fréquence, fourni par un générateur de signal, un déphaseur égalisant les différences de phases des signaux d'hyperfréquences dans les dits canaux d'épreuve et de régulation, une jonction de sortie par laquelle les signaux d'hyperfréquences modulés en amplitude ou en phase sont amenés desdits canaux d'épreuve et de régulation audit détecteur d'hyperfréquences, un préamplificateur amplifiant les signaux démodulés des deux fréquences, un amplificateur sélectif dudit signal de la première fréquence avec dispositif directeur d'amplification, un indicateur analogique ou numérique du signal de sortie dudit am- plificateur sélectif du signal de la première fréquence, un amplificateur sélectif dudit signal de la seconde fréquence, et un redresseur du signal de sortie dudit amplificatéur sélectif du signal de la seconde fréquence, ledit redresseur fournissant un signal de courant continu pour commander ledit circuit modulateur monté entre ledit modulateur du canal d'épreuve et ledit premier générateur de signal ledit circuit modulateur faisant ainsi varier l'amplitude dudit signal de la première fréquence modulant ledit signal d'épreuve dans ledit canal d'épreuve, ladite variation d'amplitude étant fonction des variations des paramètres dudit générateur d'hyperfréquences et dudit détecteur d'hyperfréquences, de telle sorte que le signal communiqué par ledit indicateur analogique ou numérique à la sortie dudit amplificateur sélectif du signal de la première fréquence, soit indépendant desdites variations des paramètres dudit générateur d'hyperfréquen- ces, et/ou de ceux dudit détecteur d'hyperfréquences. 7. Dispositif selon la revendicailon 6, dans lequel la source dudit signal de la seconde fréquence alimentant ledit modulateurdu canal régulateur est un réseau de distribution de courant alternatif.