近場掃描光學顯微鏡

近場掃描光學顯微鏡 ( NSOM / SNOM ) 是一個 顯微鏡 技術 ， 用於結構調查 ， 其利用漸逝波的特性打破遠場中繞射極限 。 在SNOM ， 激發激光光透過一個直徑小於雷射波長的孔徑聚焦 ， 從而在孔徑的遠端產生消逝場 。 當樣品在短距離地在孔徑下掃描 ， 光學解析度只跟孔徑的直徑有關 。 此時 ， 橫向分辨率可達20 納米 、 垂直分辨率可達2 - 5 納米 。 如光學顯微鏡 、 此機制可以用於研究的不同性質 ， 例如 折射率 、 化學結構和局域壓力 。 也可以研究在次波長解析度下的動態特性 。 NSOM / SNOM是一種掃描探針顯微鏡.