低溫電子顯微鏡

低溫電子顯微技術 ( 縮寫 ： cryo - EM ） ， 是穿透式電子顯微鏡 （ TEM ） 的其中樣品在超低溫 （ 通常是液氮溫度 - 196 ℃ ） 下進行型態研究的一種技術 。 此種儀器一般稱爲低溫電子顯微鏡 （ 簡稱 ： 低溫電鏡 ） 或冷凍電子顯微鏡 （ 簡稱 ： 冷凍電鏡 ） 。