微分干涉相差顯微鏡

微分干涉相差顯微技術 ( DIC ), 又稱Nomarski干涉相差顯微技術或Nomarski顯微鏡, 是一種增強對比度來觀察未染色的透明的樣品的光學顯微鏡 。 DIC根據干涉測量獲取有關樣品信息 ， 以查看其他不可見的特徵 。 相對複雜的光學系統產生具有灰色背景的黑色或白色的圖像 。 該圖像類似於通過相差顯微鏡獲得的但沒有明亮衍射光暈的圖像 。 該技術由波蘭物理學家在1952年研發 。 DIC通過將偏振光源分離成在樣品平面上空間位移 （ 剪切 ） 的兩個正交偏振相干部分 ， 並在觀察之前重組 。 複合時兩部分的干涉對其光程差 （ 即折射率乘積和幾何路徑長度 ） 敏感 。 添加可調節的偏移相位確定在所述樣品中的零光程差的干涉 ， 對比度是正比於沿剪切方向的路徑長度梯度 ， 得到三維的光密度變化的樣本圖像 ， 圖像強調線條和邊緣 ， 但不提供表面上準確的圖像 。