低能電子衍射

低能電子衍射 ( LEED ） 是一種用以測定單晶表面結構的實驗手段 ， 使用的低能電子束 （ 20 – 200 eV ） 轟擊樣品表面 ， 可在熒光屏上觀測到被衍射的電子所形成的光斑 ， 進而表徵樣品的表面結構 。 低能電子衍射有以下兩種應用方式 ： 定性分析 ： 着眼於衍射圖案與衍射光斑位置的分析 ， 可獲得表面結構的對稱性 。 若表面有吸附物 ， 定性分析可確定吸附物的單位晶格與基底單位晶格的相對大小及方向 。 定量分析 ： 着眼於衍射電子束的強度與入射電子束能量的關係 ， 將此關係 （ LEED I - V 曲線 ） 與理論預測相比較 ， 可獲得表面原子確切的位置信息 。