激光誘導擊穿光譜

激光誘導擊穿光譜 ( LIBS ) 技術通過超短脈衝激光聚焦樣品表面形成等離子體 ， 進而對等離子體發射光譜進行分析以確定樣品的物質成分及含量 。 超短脈衝激光聚焦後能量密度較高 ， 可以將任何物態 （ 固態 、 液態 、 氣態 ） 的樣品激發形成等離子體 ， LIBS技術 （ 原則上 ） 可以分析任何物態的樣品 ， 僅受到激光的功率以及攝譜儀 ＆ 檢測器的靈敏度和波長範圍的限制 。 再者 ， 幾乎所有的元素被激發形成等離子體後都會發出特徵譜線 ， 因此 ， LIBS可以分析大多數的元素 。 如果要分析的材料的成分是已知的 ， LIBS可用於評估每個構成元素的相對丰度 ， 或監測雜質的存在 。 在實踐中 ， 檢測極限是 ： a ） 等離子體的函數 ， b ） 光收集窗口 ， 以及c ） 所觀查的過渡譜線的強度 。 LIBS利用光學發射光譜 ， 並且是該程度非常類似於電弧 / 火花發射光譜 。 LIBS在技術上是非常相似的一些其它基於激光的分析技術 ， 共享許多相同的硬件 。 這些技術是拉曼光譜學的振動光譜技術 ， （ LIF ） 的熒光光譜技術 。 實際上 ， 現在設備已經被製造成在單個儀器中結合這些技術 ， 允許樣品原子的 ， 分子的和結構的特徵研究 ， 以給予物理性質的一個更深入的瞭解 。