C-V特性曲線

C - V特性曲線 （ 電容電壓特性曲線 ） 是用來測量半導體材料和器件的一種方法 。 當所加電壓改變時 ， 電容被測出 。 方法是使用金屬 - 半導體結 （ 肖特基勢壘 ） 或者PN結或者場效應管來得到耗盡層 （ 其中載流子被全部抽走 ， 但仍然有離子化的施主或晶體缺陷 ） 。 當電壓改變時 ， 耗盡層深淺也發生變化 。