干涉測量術

干涉測量術  是通過由波的疊加 （ 通常爲電磁波 ） 引起的干涉現象來獲取信息的技術 。 這項技術對於天文學 、 光纖 、 工程計量 、 光學計量 、 海洋學 、 地震學 、 光譜學及其在化學中的應用 、 量子力學 、 核物理學 、 粒子物理學 、 等離子體物理學 、 遙感 、 、 表面輪廓分析 、 微流控 、 應力與應變的測量 、 測速以及驗光等領域的研究都非常重要 。 干涉儀廣泛應用於科學研究和工業生產中對微小位移 、 折射率以及表面平整度的測量 。 在干涉儀中 ， 從單個光源發出的光會分爲兩束 ， 經不同 ， 最終交匯產生干涉 。 所產生的干涉圖紋能夠反映兩束光的光程差 。 在科學分析中 ， 干涉儀用於測量長度以及光學元件的形狀 ， 精度能到納米級 。 它們是現有精度最高的長度測量儀器 。 在傅里葉變換光譜學中 ， 干涉儀用於分析包含與物質相互作用發生吸收或散射信息的光 。 由兩個及以上的望遠鏡組成 ， 它們的信號匯合在一起 ， 結果的分辨率與直徑爲元件間最大間距的望遠鏡的相同 。