內建自測試

內建自我測試 （ built - in self - test, BIST ） 也稱爲內建測試 （ built - in test 、 BIT ） ， 是一種讓設備可以自我檢測的機制 ， 也是可測試性設計的一種實現技術 。 工程師會爲了符合以下需求 ， 在設計時加入內建自測試 ： 高可靠度 較低的維修次數 也可能是因爲以下的限制而加入內建自測試 ： 不易聯絡技術人員維修 在製造生產時的測試成本考量 。 內建自測試的目的之一是在簡化產品複雜度 ， 因此降低成本 ， 並且減少對外部測試設備的依賴程度 。 內建自測試可以在以下二方面減少成本 ： 減少測試周期的時間 減少在測試時需要驅動或是檢測的信號數量 ， 因此減少測試 / 測試探針設計的複雜度 。 兩者都可以縮短自動測試設備 （ ATE ） 的測試時間 。