垂直顯像SMI

垂直顯像SMI是1996年在SMI與SPDM的基礎上開發出來的 ， 能在奈米等級上最快分析完整的3D細胞結構的光學顯微鏡 ， 有效的奈米級光學解析度 ， 在解析2D圖像能達到5 nm ， 而在解析3D圖像能達到40 nm ， 所以比起以Abbe定律所算出來的物理極限200 nm還要更佳 。 恩斯特 · 阿貝在1873年提出理論上光學顯微鏡的解析度限制假說 。 垂直顯像SMI光學顯微鏡是由海德堡大學光學應用與資訊處理博士所開發出來 ， 集結了定位光學顯微鏡 ( 光學間距精密顯微鏡SPDM, Spectral Precision Distance Microscopy ) 結構照明設備 ( 空間調整照明設備SMI, Spatially Modulated Illumination ) 的科技 。 自從2008年3月起 ， 許多標準的螢光染劑像是綠色熒光蛋白 ( GFP ) 與Alexa螢光染劑可以應用在SPDMphymod ( 可物理修飾螢光團physically modifiable fluorophores ) 定位光學顯微鏡上 ， 這種顯微鏡只有單一雷射波長才有適合的光強度能用在奈米圖解上 。