電容災難

電容爆漿 （ 不良電解コンデンサ問題 ） 是指一些電子產品因電容器使用壽命提早結束而造成的損毀現象 ， 多發生在主機板 、 顯示卡 、 日光燈穩定器及個人電腦的電源供應器上 。 而電容災難 （ Capacitor plague ） 指1999年至2007年間非固態鋁電解電容器故障率超出預期 。 20世紀90年代 ， 以紅寶石 （ Rubycon ） 爲首的日本廠商開始研發一種新型 、 低內阻的水基電解電容 。 這種電容以70 % 的水填充 ， 其具有價格低廉 、 性能優良等特點 ， 尤其具備低ESR與高耐壓的特色 。 然而 ， 水基電解液具有腐蝕性 ， 導致電容無法長期穩定工作 ， 這是水基電容研發早期的重大技術障礙 。 經過多年的技術攻關 ， 日本學者鵜沢滋 （ Shigeru Uzawa ） 領導的研究團隊終於在90年代末成功研發出一種混合型抑制劑 ， 解決了鋁電容氫化的難題 。 隨後於1998年 ， 紅寶石公司推出了ZL和ZA兩個系列的新產品 ， 其含水量爲40 % ， 工作溫度範圍可達 −40 - 105 °C ， 這是水基電解電容首次得到生產運用 。 隨後的電解液中 ， 水的比重提升到70 % 。 其他製造商 ， 如NCC 、 Nichicon與Elna也很快推出了自家的同類產品 。 在此期間 ， 一名在紅寶石工作的研究員帶着ZA和ZL系列的電解液機密配方離開 ， 轉爲一家中國公司工作 。 他成功的複製了這一配方 ， 很快 ， 中國公司管理層又有幾人攜帶配方再次叛逃 ， 將其出售給了許多位於臺灣的電解電容廠商 ， 而售價比日本公司低得多 。 然而 ， 這幾名管理人員手中的配方並不完整 ， 缺失了對電容長期穩定工作至關重要的化學成分 ， 導致電解液灌入鋁電容後不再穩定 ， 會與鋁發生化學反應 ， 產生氫氣 。 這些電解電容隨後以 「 低阻抗 」 、 「 低ESR 」 、 「 高紋波電流 」 、 「 耐壓100V 」 大規模進入消費電子市場 。 此問題發現於1999年 ， 但在2000年中此種電容器仍常用於製造 ， 但直到2007年 ， 當多數製造商已得知此消息 （ 通常在使用產品一年多後會出現問題 ） 進而修正缺失時 ， 仍有瑕疵電容投入使用 。 由於瑕疵電容內錯誤的電解液成分會產生氫氣 ， 進而導致電容器膨脹變形 ， 最終會使電解液泄漏 。 還有少數案例是瑕疵電容而導致爆炸 。