X光散射技術

X光散射技術或X射線衍射技術  是一系列常用的非破壞性分析技術 ， 可用於揭示物質的晶體結構 、 化學組成以及物理性質 。 這些技術都是以觀測X射線穿過樣品後的散射強度爲基礎 ， 並根據散射角度 、 極化度和入射X光波長對實驗結果進行分析 。 X光散射技術可在許多不同的條件下進行分析 ， 例如不同的溫度或壓力 。