X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀 （ X-ray Fluorescence Spectrometer ， 簡稱 ： XRF光譜儀 ） ， 是一種快速的 、 非破壞式的物質測量方法 。 X射線熒光 （ X-ray fluorescence ， XRF ） 是用高能量X射線或伽瑪射線撞擊材料時激發出的次級X射線 。 這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析 ， 特別是在金屬 ， 玻璃 ， 陶瓷和建材的調查和研究 ， 地球化學 ， 法醫學 ， 考古學和藝術品 ， 例如油畫和壁畫 。