掃描隧道顯微鏡

掃描隧道顯微鏡 （ Scanning Tunneling Microscope ， 縮寫爲STM ） ， 是一種利用量子隧穿效應探測物質表面結構的儀器 。 它於1981年由格爾德 · 賓寧及海因裏希 · 羅雷爾在IBM位於瑞士蘇黎世的蘇黎世實驗室發明 ， 兩位發明者因此與電子顯微鏡的發明者恩斯特 · 魯斯卡分享了1986年諾貝爾物理學獎 。 掃描隧道顯微鏡技術是掃描探針顯微術的一種 ， 基於對探針和表面之間的隧穿電流大小的探測 ， 可以觀察表面上單原子級別的起伏 。 此外 ， 掃描隧道顯微鏡在低溫下可以利用探針尖端精確操縱單個分子或原子 ， 因此它不僅是重要的微納尺度測量工具 ， 又是頗具潛力的微納加工工具 。