ATPG

自動測試圖樣產生 （ Automatic test pattern generation, ATPG ） 系統是一種工具 ， 產生資料給製造出來後的數字電路作測試使用 。 超大型積體電路的測試平臺 ， 要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作 ， 因爲它的複雜度很高 。 針對組合邏輯電路 （ Combinatorial logic ） 和時序邏輯電路 （ Sequential logic ） 的電路測試 ， 必須要使用不同的 ATPG 方法 。