原子序數襯度像技術

原子序數襯度像技術 （ Z - contrast ） ， 一種採用高角環形檢測器收集掃描透射電子顯微鏡 ( STEM ) 的衍射模式下的高角度漫散射電子成像的技術 。 使用原子序數襯度像 ( Z - contrast ) 技術的掃描透射電子顯微鏡可以達到原子級別的分辨率 ， 是當今最新的可達到最高分辨率的電子顯微鏡Z - contrast STEM採用的主要技術 。