掃描電化學顯微鏡

掃描電化學顯微鏡 （ 縮寫SECM ） 基於電化學原理工作 ， 可測量微區內物質氧化或還原所給出的電化學電流 。 利用驅動非常小的電極 （ 探針 ） 在靠近樣品處進行掃描 ， 樣品可以是導體 、 絕緣體或半導體 ， 從而獲得對應的微區電化學和相關信息 ， 目前可達到的最高分辨率約爲幾十納米 。 category: 顯微鏡 category: 納米技術 Category: 電化學