Euskara:
# 2.2.1. *Raman espektroskopia*

Azterketa molekularra egiteko, BWTEC INC-ko InnoRam (Newark,USA) erabili da, 785 nm-ko uhin luzerako laser-kitzikapen eta Charge Couple Device (CCD) detektorea (Peltier efektuaren bidezko hozketa) duena. Instrumentua mikroskopio batekin akoplatu da eta 20× (0,4-ko N.A. (Numerical Aperture)-rekin) objetiboa erabili da Raman neurketa mikroskopikoak egiteko. Analisia puntuz puntu aurrera eraman da. Seinalezarata erlazioa ahalik eta handiena izateko, neurketa-denbora eta neurketa errepikatuen kantitateak optimizatu dira, baita laserraren potentzia ere, deskonposizio termikoak eta eraldaketa kimikoak edo mineralogikoak saihesteko. Aipatutako baldintzak neurtu nahi den laginaren eta konposatuaren araberakoak dira. Ekipoaren kalibrazioa egunero egin behar izan da siliziozko txipak duen 520,5 cm–1-eko seinalea erabiliz. Emaitzak BWSpevTM softwarearekin lortu ziren, eta haien analisia egiteko eta interpretatzeko, WiRE 4.2 softwarea (Renishaw's Windows-based Raman Environment) erabili da. Lortutako espektro guztiak datu-basean dauden konposatu puruen espektroekin alderatu dira, RRUFFTMTM *online* datu basearekin eta bibliografiarekin ere bai (konposatu bakoitzean adierazita dator).

Español:
# 2.2.1. *Espectroscopia Raman*

Para realizar el análisis molecular, se ha empleado InnoRam de BWTEC INC (Newark,USA), provisto de una excitación láser de longitud de onda de 785&nbsp;nm y detector Charge Couple Device (CCD) (enfriamiento mediante efecto Peltier). Para realizar las mediciones microscópicas Raman, el instrumento se ha acoplado a un microscopio y se ha utilizado un objetivo 20x (N.A., Numerical Aperture, de 0,4). El análisis se ha llevado a cabo punto por punto. Con objeto de que la relación señal/ruido sea lo más amplia posible, se han optimizado el tiempo de medida y la cantidad de mediciones repetidas, así como la potencia del láser, para así evitar descomposiciones térmicas y transformaciones químicas o mineralógicas. Las mencionadas condiciones dependen de la muestra y del compuesto que se desea medir. La calibración del equipo ha sido preciso realizarla empleando la señal de 520,5 cm–1 de que dispone el chip de silicio. Los resultados fueron obtenidos por medio del software BWSpevTM y, para analizarlos e interpretarlos, se ha empleado el software WiRE 4.2 (Renishaw's Windows-based Raman Environment). Todos los espectros obtenidos se han comparado con los espectros de compuestos puros existentes en la base de datos, así como con la base de datos online RRUFFTMTM y la bibliografía (viene indicada en cada compuesto).

English:
# 2.2.1. *Raman spectroscopy*

Molecular analyses were conducted using an InnoRam manufactured by BWTEC INC (Newark, USA) and featuring a 785-nm wavelength excitation laser and a Charge-Coupled Device (CCD) detector (Peltier-cooled). The instrument was coupled to a microscope and a 20x objective (with an NA, or Numerical Aperture of 0.4) was used to perform microscopic Raman measurements. The analysis was performed point by point. To maximise the signal-to-noise ratio, both measurement time and the number of repeated measurements were optimised, as was the laser power setting in order to avoid thermal decomposition and chemical or mineralogical transformations. These conditions depend on the sample and the compound to be measured. The equipment had to be calibrated daily using the 520.5 cm⁻¹ signal emitted by the silicon chip. The results were obtained using the BWSpevTM software package and analysed and interpreted using WiRE 4.2 (Renishaw’s Windows-based Raman Environment). All spectra obtained were compared with the spectra of pure compounds contained in the database, as well as with the online RRUFFTMTM database and the literature (cited for each compound).