内建自我测试（built-in self-test, BIST）也称为内建测试（built-in test、BIT），是一种让设备可以自我检测的机制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程师会为了符合以下需求，在设计时加入内建自测试：也可能是因为以下的限制而加入内建自测试：内建自测试的目的之一是在简化产品复杂度，因此降低成本，并且减少对外部测试设备的依赖程度。内建自测试可以在以下二方面减少成本：两者都可以缩短自动测试设备（ATE）的测试时间。
命名.内建自测试的名称及概念源