垂直显像SMI是1996年在SMI与SPDM的基础上开发出来的，能在奈米等级上最快分析完整的3D细胞结构的光学显微镜，有效的奈米级光学解析度，在解析2D图像能达到5 nm，而在解析3D图像能达到40 nm，所以比起以Abbe定律所算出来的物理极限200 nm还要更佳。 恩斯特·阿贝在1873年提出理论上光学显微镜的解析度限制假说。 垂直显像SMI光学显微镜是由海德堡大学光学应用与资讯处理博士所开发出来，集结了定位光学显微镜(光学间距精密显微镜SPDM, "Spectral Precision Dista