倒易律是大多数光敏材料研究（sensitometry）的前提条件，比如测量某一感光乳剂的H-D曲线。底片或感光元件的总曝光量是以勒克斯·秒为单位而衡量的，其定义为焦平面照度与曝光时间的乘积。
历史.倒易律这一概念源自Robert Bunsen和Henry Roscoe在1862年所做的工作，并曾被称作Bunsen－Roscoe倒易律。Captain William de Wiveleslie Abney在1893年报道了对倒易律的偏离，卡尔·史瓦西在1899年对这一现象进行深入