针卡上的尖端以及和晶片上的标记、焊盘，利用这个资讯，探针卡能精准对上焊盘。
类型.探针卡大致可分为悬臂型、垂直型以及 MEMS 型，根据不同晶圆适用不同类型。 微机电系统是目前最先进的技术。 最先进的探测卡目前可以测试整个12吋晶片。
效率.探针卡效率受许多因素的影响。影响探针卡效率的最重要因素可能是可以并行测试的DUT数量。今天许多晶圆仍然一次测试一个设备。如果探针卡和测试仪可以并行测试，那么测试时间将大大缩减。请注意，因为现在探针卡有并型多个器件，因