光子通过光感测器（例如光电倍增管、光电二极管及感光耦合元件）时，元件上仍然会产生的微小电流。在非光学元件中称为逆向偏压时的，在所有二极体中都存在。暗电流是因为元件中耗尽层中电子及电洞的随机产生所造成。电荷产生的速率和耗尽层特定的晶体缺陷有关。暗电流光谱学可以用来检测是否有缺陷存在，方式是监控暗电流柱状图峰值随时间的变化。暗电流是像感光耦合元件等图像传感器的主要杂讯来源之一。不同的暗电流模型会形成，利用可以估测平均的固定模式并且移除，不过仍然会有暂时性的噪声，因为暗电流本身是散粒噪声。