相碰撞与湮灭，这会引起能量的发射。侦测这些能量的分佈，仔细研究分析实验数据，物理学家可以了解电子与正子碰撞与湮灭的物理行为。
成像.低能电子绕射技术（LEED）照射准直电子束（collimated electron beam）于晶体物质，然后根据观测到的绕射图样，来推断物质结构。这技术所使用的电子能量通常在20–200 eV之间。（RHEED）技术以低角度照射准直电子束于晶体物质，然后蒐集反射图样的数据，从而推断晶体表面的资料。这技术所使用的电子的能量在8–20 keV之间，入射角