为计算用的其他常数都相对地准确。
X射线晶体密度法（XRCD）.运用X射线晶体学，是一种能得出阿佛加德罗常数的现代方法。现今的商业设备可以生产出单晶硅，产物有着极高的纯度，及极少晶格缺陷。这种方法把阿佛加德罗常数定为一个比值，摩尔体积formula_29与原子体积formula_30间的比值：硅的晶胞有着由8个原子组成立方式充填排列，因此晶胞单元的体积，可由测量一个晶胞参数得出，而这个参数formula_35就是立方的边长。实际上，所测量的距离叫formula_36(Si)