汉芯晶片案是着名的中国学术欺诈案件，由海外归来学者上海交通大学教授博导、上海交通大学微电子学院院长、上海硅知识产权交易中心行政总裁陈进所领导的上海交通大学汉芯科技有限公司研发，经王阳元（北京大学微电子研究院院长）、严晓浪（浙江大学电气工程学院院长、浙江大学信息工程学院院长、863计划集成电路设计专家组组长）、邹世昌（中国科学院院士）、许居衍（中国工程院院士）等多名知名专家学者参与鉴定，并且给予极高度的评价。汉芯一号于2003年2月通过上海市人民政府发布，随后汉芯二号至五号分别于2004年