的之一是在简化产品复杂度，因此降低成本，并且减少对外部测试设备的依赖程度。内建自测试可以在以下二方面减少成本：两者都可以缩短自动测试设备（ATE）的测试时间。
命名.内建自测试的名称及概念源自在积体电路中加入（PRNG）及循环冗余校验（CRC）的作法。若IC中所有记录状态的暂存器都已在一个或是多个扫描链上，则暂存器的机能以及暂存器之间的组合逻辑电路再配合大量足够的随机输入，会产生独特的CRC签名（CRC signature）。因此积体电路需要作的是由伪乱数产生器产生大量及足够的様