可测试性设计（'或'，DFT）是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法，以便生产完成后进行测试，确保检测过后的电子元件没有功能或制造上的缺陷。电路测试有时并不容易，电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过在半导体制程中添加可测试性设计结构，如扫描链等，并利用自动测试设备执行测试程式，可以在生产完成后立即进行品质检测。有些特定的装置会在其最终产品的组件上加上测试功能，在消费者的使用环境下执行时一併测试。测试程式除了会指出错误资讯外，还会一併将测试的纪录档保留下来，可供设计