和量子点）的研究。虽然基于电子显微镜的阴极射线发光探测仪提供了较高的放大倍数，但基于光学显微镜的阴极射线发光探测仪的优势在于可以看到样品原本的颜色。最新开发的系统结合了两者的优势
其他应用.虽然直接带隙半导体（例如砷化镓或氮化镓）的阴极射线发光现象最明显（最适合用上述实验手段对其进行测量），但是间接带隙半导体（例如硅）中也有微弱的阴极射线发光现象。利用位错硅的发光和本征硅相异的特征，可以检测出集成电路中的缺陷。最近，基于电子显微镜的阴极射线发光测量也被用于研究金属纳米颗粒的