体结构绕射，携带着样品表面的晶粒方位的资讯，进入探测器中，借此判断其每一颗晶粒的方向性。在知道每一颗晶粒的方位后，因此可用在判断晶界（Grain boundary）、相鑑别（Phase identification）、晶粒方向（Orientation）、织构（Texture）及应变（Strain）的分析方法。