软体的可测试性低，可能会造成测试工作的增加。在一些极端的情形下，缺乏可测试性可能会使部份甚至全部的测试或对的评估无法进行。为了要找到可测试性以及利用测试找到系统中潜在错误（假设有错误时）的难度的关系，有一种评估可测试性的相对指标，是每一次需要多少的测试用例才能形成完整的测试套件（在测试了所有测试用例后，所得到的结果可以确定此系统符合某规格，或不符合某规格，不会有模煳地带）。若数量不大，表示程式的可测试性高。依照此方式，已有提出可测性等级（testability hierarchy）。Section: