中电子逃逸深度的限制紫外光电子光谱对表面非常敏感，为信息深度的范围为2 – 3个单层。同时测量原理限制了光电发射光谱学被用于UHV情形。得到的光谱通过提供态密度、占据态及功函数等信息反应了样品电子结构。
基于热发射的测量.推迟二极管方法是最简单和最古老的的测量功函数的方法之一。它是源自发射器电子的热发射。收集到样品的电子电流密度formula_12取决于样品的功函数formula_13且可通过 Richardson–Dushman方程formula_14计算，其中formula_1