森想出马西森定则（）。这定则表明，总电阻率formula_7可以分为两个项目：其中，formula_55是由于晶体缺陷而产生的电阻率，formula_56是由于声子而产生的电阻率。formula_55与金属内部的缺陷密度有关，是电阻率对温度的曲线外推至0K时的电阻率。因此，formula_55与温度无关。formula_56等于formula_60。假若缺陷密度不高，则formula_56通常与缺陷密度无关。formula_56与电子跟声子的碰撞率有关，而碰撞率与声子密度成正比。假设温度高于德拜温度