都可以缩短自动测试设备（ATE）的测试时间。
命名.内建自测试的名称及概念源自在积体电路中加入（PRNG）及循环冗余校验（CRC）的作法。若IC中所有记录状态的暂存器都已在一个或是多个扫描链上，则暂存器的机能以及暂存器之间的组合逻辑电路再配合大量足够的随机输入，会产生独特的CRC签名（CRC signature）。因此积体电路需要作的是由伪乱数产生器产生大量及足够的様本数据后，储存预期的CRC，并且进行测试。预期CRC签名和实际CRC签名的比较是透过JTAG IEEE 1149.1