使电路失效的平均时间T的公式为：这里：A为与横截面积有关的常数；J为电流密度；N为无量纲因子，一般取2； E为电迁移的激活能；k为波尔兹曼常数；T为温度。
影响.电流密度是一个由设计而定的参数，影晌电迁移的重要物理因素主要有温度、导线的宽度和导线的长度。当电迁移效应出现时，由于离子流的不对称性，可造成二种电线路的失败：
发展.由于科学技术的快速发展，积体电路的密度不断提高，现已发展到应用纳米技术阶段，从2004年到2020年积体电路的三个主要参数就