测定方法.测定材料表面的重构不但需要测量表面原子的排列方式，还得将表面的结构与材料内部的结构相互比较。符合要求的实验测量手段大致可分为两类：基于衍射的实验方法，例如低能电子衍射（LEED）或卢瑟福背散射；以及分辨率达到原子尺度的扫描探针技术，例如扫描隧道显微镜（STM）或原子力显微镜（AFM）。
实际例子.
Si(100)和Si(111)表面.由于硅的晶体结构是钻石结构，Si(100)的理想表面结构是1×1的正方形晶格，且每一硅原子都连接着两条。实际观测到的