English: Apparatus for performing measurements of the physical properties of semiconductor materials or of LCD substrates or associated insulating and conducting layers during the semiconductor wafer production process or the LCD production process
French: Appareils pour l'analyse des propriétés physiques des matériaux semi-conducteurs ou des substrats pour affichage à cristaux liquides ou des couches isolantes et conductrices associées lors de la fabrication de disques (wafers) à semi-conducteur ou d'affichages à cristaux liquides
German: Apparate und Geräte zum Messen physikalischer Eigenschaften von Halbleitermaterial oder Trägermaterialien für Flüssigkristallanzeigen oder damit verbundenen isolierenden oder leitfähigen Schichten während der Herstellung von Halbleiterscheiben (wafers) oder Flüssigkristallanzeigen
Spanish: Aparatos para el análisis de las propiedades físicas de los materiales semiconductores o de sustratos de visualizadores de cristal líquido o de las capas aislantes y conductoras unidas a estos durante el proceso de producción de discos (wafers) de material semiconductor o de visualizadores de cristal líquido
Italian: Apparecchi per la misurazione delle proprietà fisiche di materiali per semiconduttori o di substrati LCD o di strati isolanti e conduttori associati, durante il processo di produzione di dischi (wafers) a semiconduttore o di LCD
Portuguese: Aparelhos para realização de medições das propriedades físicas de materiais semicondutores ou de substratos de dispositivos de cristais líquidos ou das camadas condutoras e isoladoras associadas, durante o processo de produção de bolachas (wafers) de semicondutores ou de dispositivos de cristais líquidos
Dutch: apparaten voor het, tijdens de vervaardiging van schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal of van elementen met vloeibare kristallen (lcd), meten van de fysische eigenschappen van de halfgeleidermaterialen of van de lcd-elementen of de daarmee verbonden isolerende of geleidende lagen
Danish: Apparater til måling af de fysiske egenskaber af halvledermaterialer eller substrater til flydende krystaller (LCD) eller dertil knyttede isolerende eller ledende lag under fremstilling af halvlederskiver eller af LCD
Swedish: Apparater för mätning av de fysiska egenskaperna hos halvledarmaterial eller substrat för flytande kristaller (LCD) eller tillhörande isolerande skikt och ledskikt under framställningen av halvledarplattor (wafers) eller av flytande kristaller (LCD)
Czech: Přístroje na měření fyzikálních vlastností polovodičových materiálů nebo podložek LCD nebo připojených izolačních a vodivých vrstev během výrobního procesu polovodičových destiček nebo během výrobního procesu LCD
Slovak: Prístroje na meranie fyzikálnych vlastností polovodičových materiálov alebo LCD substrátov, alebo pripojených izolačných a vodivých vrstiev počas výrobného procesu polovodičovej doštičky alebo LCD výrobkov
Hungarian: A félvezető anyagok vagy folyadékkristályos kijelző (LCD) hordozó vagy a társított szigetelő és vezető rétegek fizikai tulajdonságainak mértékeit a félvezető és a folyadékkristályos kijelzők (LCD) gyártása során mérő készülék
Slovenian: aparati za prikaz meritev fizikalnih lastnosti polprevodniških materialov ali podlag tekočih kristalov ali vsebovanih zapornih in prevodnih slojev med proizvodnjo polprevodniških rezin ali prikazovalnikov na tekoče kristale
Romanian: Aparate pentru analizarea proprietăților fizice ale materialelor semiconductoare, ale substratelor pentru afisaje cu cristale lichide sau ale straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor (wafers) semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale lichide
Maltese: Apparat biex isir il-kejl tal-proprjetajiet fiżiċi ta’ materjali semikondutturi jew ta’ sottostrati LCD jew saffi assoċjati għall-iżolament u konduttività waqt il-proċess ta’ produzzjoni ta’ wejfers semikondutturi jew il-proċess ta’ produzzjoni ta’ LCDs