English: For apparatus of subheading 90314100 or for optical instruments and appliances for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers of subheading 90314990
French: pour appareils de la sous-position 90314100 ou pour instruments et appareils optiques pour la mesure du niveau de contamination par particules de la surface des disques (wafers) à semi-conducteur de la sous-position 90314990
German: für Instrumente, Apparate und Geräte der Unterposition 90314100 oder für optische Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen von Oberflächenpartikelverunreinigungen von Halbleiterscheiben (wafers) der Unterposition 90314990
Spanish: De aparatos de la subpartida 90314100 o para instrumentos y aparatos ópticos para la medición de las impurezas de material particulado en la superficie de los discos (wafers) de material semiconductor de la subpartida 90314990
Italian: per apparecchi della sottovoce 90314100 o per strumenti ed apparecchi ottici per la misurazione della contaminazione superficiale da particelle su dischi (wafers) a semiconduttore della sottovoce 90314990
Portuguese: Para aparelhos da subposição 90314100 ou para instrumentos e aparelhos ópticos para medição da contaminação por partículas na superfície das bolachas (wafers) de semicondutores da subposição 90314990
Dutch: van instrumenten, apparaten en toestellen bedoeld bij onderverdeling 90314100 of van optische instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten van deeltjesverontreiniging aan de oppervlakte van halfgeleiderschijfjes (wafers) bedoeld bij onderverdeling 90314990
Danish: Til apparater henhørende under pos. 90314100 eller til optiske instrumenter og apparater til måling af forurening med overfladepartikler på halvlederskiver henhørende under pos. 90314990
Swedish: Till utrustning enligt nr 90314100 eller till optiska instrument och apparater för mätning av ytföroreningar på halvledarplattor (wafers) enligt nr 90314990
Czech: Přístrojů podpoložky 90314100 nebo optických přístrojů a zařízení na měření povrchové míry znečištění na polovodičových destičkách podpoložky 90314990
Slovak: Na prístroje podpoložky 90314100 alebo na optické nástroje a prístroje na meranie povrchového znečistenia polovodičových doštičiek podpoložky 90314990
Polish: Aparatury objętej podpozycją 90314100 lub do przyrządów i urządzeń optycznych, do pomiaru powierzchniowych zanieczyszczeń cząstkowych płytek półprzewodnikowych objętych podpozycją 90314990
Hungarian: A 90314100 alszám alá tartozó készülékhez vagy a 90314990 alszám alá tartozó, félvezető lemezeken a felületi szemcsés szennyeződést mérő optikai eszközökhöz és műszerekhez
Slovenian: aparatov iz tarifne podštevilke 90314100 ali optičnih instrumentov in aparatov za merjenja delne onesnaženosti površine polprevodniških rezin iz tarifne podštevilke 90314990
Romanian: Pentru aparatele de la subpoziția 90314100 sau pentru instrumentele și aparatele optice pentru măsurarea nivelului de contaminare cu particule de la suprafața discurilor (wafers) cu semiconductori de la subpoziția 90314990
Maltese: Għal apparat ta’ subtitlu 90314100 jew għal strumenti u tagħmir ottiku biex titkejjel il-kontaminazzjoni tal-wiċċ f’partikuli separati fuq wejfers semikondutturi ta’ subtitlu 90314990