English: This test is intended to measure the narrowband electromagnetic emissions such as might emanate from microprocessor-based systems or other narrowband source.
French: Cet essai est destiné à mesurer les perturbations électromagnétiques rayonnées en bande étroite telles qu’il peut en émaner de systèmes employant un microprocesseur ou une autre source en bande étroite.
German: Diese Prüfung dient zur Messung schmalbandiger elektromagnetischer Störungen, die von Systemen auf Basis von Mikroprozessoren oder anderen schmalbandigen Quellen ausgehen könnten.
Spanish: El ensayo tiene por objeto medir la radiación electromagnética de banda estrecha emitida por sistemas de microprocesador u otra fuente de banda estrecha.
Italian: La prova ha lo scopo di misurare le emissioni elettromagnetiche a banda stretta generate da un sistema basato su microprocessore o da un’altra sorgente a banda stretta.
Portuguese: Este ensaio é concebido para medir a emissões electromagnéticas em banda estreita emitida por sistemas com microprocessador ou por outra fonte em banda estreita.
Dutch: Het doel van deze test is het meten van de elektromagnetische smalbandemissies van systemen met microprocessoren of andere smalbandemissiebronnen.
Danish: Denne prøvning er beregnet til måling af smalbåndsemission som den, der kan udsendes af mikroprocessorbaserede systemer eller andre smalbåndskilder.
Swedish: Denna provning är avsedd för mätning av den typ av elektromagnetisk smalbandsstrålning som kan alstras av mikroprocessorbaserade system eller av någon annan smalbandskälla.
Finnish: Tällä menetelmällä mitataan kapeakaistaisia sähkömagneettisia säteilypäästöjä, jotka voivat olla lähtöisin mikrosuoritinpohjaisesta järjestelmästä tai muusta kapeakaistaisesta lähteestä.
Greek: Η παρούσα δοκιμή προορίζεται για τη μέτρηση ηλεκτρομαγνητικών εκπομπών στενής ζώνης όπως ενδέχεται να προκύψουν από συστήματα που βασίζονται σε μικροεπεξεργαστή ή άλλη πηγή στενής ζώνης.
Czech: Cílem této zkoušky je změřit úzkopásmové elektromagnetické emise, jaké by mohly pocházet ze systémů založených na mikroprocesorech nebo dalších úzkopásmových zdrojích.
Slovak: Táto skúška je určená na meranie úzkopásmových elektromagnetických emisií, ktoré môžu byť vyžarované zo systémov na báze mikroprocesorov alebo iného úzkopásmového zdroja.
Polish: Badanie ma na celu pomiar elektromagnetycznych emisji wąskopasmowych, które mogą być np. wytwarzane przez układy oparte na mikroprocesorach lub inne źródła wąskopasmowe.
Hungarian: Ez a vizsgálat olyan keskeny sávú sugárzások mérésére szolgál, mint amilyenek a mikroprocesszort tartalmazó rendszerekből vagy más keskeny sávú forrásból származhatnak.
Slovenian: Ta preskus je namenjen merjenju ozkopasovnih elektromagnetnih emisij, ki bi jih lahko povzročali sistemi z mikroprocesorjem ali drug vir ozkopasovnih emisij.
Romanian: Această încercare este destinată măsurării emisiilor în bandă îngustă care ar putea fi produse de sisteme pe bază de microprocesoare sau de altă surse în bandă îngustă.
Bulgarian: Това изпитване е предназначено за измерване на теснолентовите електромагнитни излъчвания, които биха могли да се излъчват от микропроцесорни системи или от друг източник на теснолентово излъчване.
Estonian: Käesoleva katsega mõõdetakse mikroprotsessorsüsteemi või muu kitsasribaallika tekitatud kitsasriba elektromagnetkiirgust.
Latvian: Šis tests paredzēts tādu šaurjoslas elektromagnētisko emisiju mērīšanai, ko varētu radīt sistēma ar mikroprocesoru vai cits šaurjoslas avots.
Lithuanian: Šis bandymas skirtas juostos sistemų su mikroprocesoriais ar kitų siaurosios dažnių juostos šaltinių siaurosios dažnių juostos spinduliuotei matuoti.
Maltese: Dan it-test hu maħsub biex ikejjel l-emissjonijiet elettromanjetiċi narrowband li jistgħu joħorġu minn sistema bbażata fuq mikroproċessur jew minn sors narrowband ieħor.