English: At least one slide shall be examined from the fine sieve fraction and from the fine fraction of the sediment under the compound microscope (see sections 6.1 and 6.2).
French: Au moins une lame préparée à partir de la fraction tamisée fine et à partir de la fraction fine du résidu est observée au microscope composé (voir points 6.1 et 6.2).
German: Mindestens 1 Objektträger mit der feinen Siebfraktion und der feinen Fraktion des Sediments wird unter dem zusammengesetzten Mikroskop untersucht (siehe 6.1 und 6.2).
Spanish: Se examinará al microscopio compuesto al menos una extensión de la fracción fina de tamiz y de la fracción fina del sedimento (véanse los puntos 6.1 y 6.2).
Italian: Osservare al microscopio composto almeno un vetrino preparato con la frazione setacciata fine e con la frazione di sedimento fine (cfr. punti 6.1 e 6.2).
Portuguese: Examinar ao microscópio composto pelo menos uma lâmina da fracção peneirada de menor granulometria e da fracção fina do sedimento (ver pontos 6.1 e 6.2).
Dutch: Ten minste één preparaat van de fijne zeeffractie en van de fijne fractie van het sediment wordt onder de samengestelde microscoop onderzocht (punten 6.1 en 6.2).
Danish: Mindst ét objektglas fra den fine sigtefraktion og fra sedimentets fine fraktion undersøges i sammensat mikroskop (se afsnit 6.1 og 6.2).
Swedish: Minst ett objektglas från den fina siktfraktionen och ett från den fina fraktionen av sedimentet ska undersökas i mikroskop (5.6) (se avsnitten 6.1 och 6.2).
Finnish: Vähintään yksi objektilasi hienosta seulafraktiosta ja hienosta sedimenttifraktiosta tutkitaan valomikroskoopilla (ks. kohdat 6.1 ja 6.2).
Greek: Τουλάχιστον μία πλάκα πρέπει να εξετάζεται από το λεπτοκοσκινισμένο μέρος και από το λεπτό τμήμα του ιζήματος με απλό μικροσκόπιο (βλ. παραγράφους 6.1 και 6.2).
Czech: Pod kombinovaným mikroskopem se zkoumá alespoň jedno podložní sklíčko s jemnou prosévanou frakcí a jemnou frakcí sedimentu (viz body 6.1 a 6.2).
Slovak: Preskúma sa najmenej jedno podložné sklíčko pripravené z jemnej sitovej frakcie a z jemnej frakcie sedimentu pod zloženým mikroskopom (pozri časti 6.1 a 6.2).
Polish: Zbadać pod mikroskopem optycznym co najmniej 1 preparat z frakcji sitowej drobnej i z frakcji osadu (6.1 i 6.2).
Hungarian: Legalább egy tárgylemezt meg kell vizsgálni összetett mikroszkóp alatt a finom szitafrakcióból és a finom üledékfrakcióból (lásd 6.1. és 6.2.).
Slovenian: Pod sestavljenim mikroskopom se pregleda najmanj en mikroskopski preparat iz drobno presejane frakcije in drobne frakcije usedline (glej točki 6.1 in 6.2).
Romanian: Se examinează la microscopul compus (6.1 și 6.2) cel puțin o lamelă din fracția fină cernută și din fracția fină de sediment.
Bulgarian: Под съставен микроскоп се изследва минимум едно предметно стъкло с пресята фина фракция и с фина фракция на утайката (вж. раздели 6.1 и 6.2)
Estonian: Vähemalt ühte peensõelumisel saadud fraktsiooniga ja sademe peenfraktsiooniga objektiklaasi uuritakse kombineeritud mikroskoobi abil (vt punktid 6.1 ja 6.2).
Latvian: Vismaz vienu priekšmetstikliņu pārbauda no smalki sijātas frakcijas un no nogulšņu smalkās frakcijas zem saliktā mikroskopa (skatīt 6.1. un 6.2. punktu).
Lithuanian: Bent po vieną objektinį stiklelį su sieto ir su nuosėdų smulkiosiomis frakcijomis tiriama po sudėtiniu mikroskopu (žr. 6.1 ir 6.2 skirsnius).
Maltese: Mill-anqas lastra waħda għandha tkun eżaminata mill-frazzjoni tal-passatur fin u mill-frazzjoni fina tas-sediment taħt mikroskopju kompost (ara s-sezzjonijiet 6.1 u 6.2).