FrancophonIA/DGT-Translation_Memory huggingface dataset:
English: Being capable of producing a pattern with a feature size of less than 1 μm; or
French: capables de produire des figures d'une dimension inférieure à 1 μm; ou
German: Fähigkeit, Strukturen mit Abmessungen kleiner als 1 μm zu erzeugen, oder
Spanish: Capacidad de producir modelos de dimensión inferior a 1 micra; o
Italian: in grado di produrre un tracciato con dimensione del tratto inferiore a 1 μm o
Portuguese: Capacidade para produzir um padrão com uma dimensão de traço inferior a 1 μm; ou
Dutch: geschikt voor het maken van patroonelementen kleiner dan 1 micrometer; of
Danish: I stand til at frembringe et mønster med enkeltheder, der er mindre end 1 μm, eller
Swedish: den kan producera mönster med en karaktäristisk ledningsbredd som är mindre än 1 μm, eller
Finnish: Kykenevät tuottamaan kuvioita, joiden viivaleveys on vähemmän kuin 1 μm; tai
Greek: Είναι ικανός να παράγει σχήμα με χαρακτηριστικό μέγεθος κάτω από 1 μm, ή
Czech: jsou schopná vytvořit obrazec o velikosti prvku menší než 1 μm; nebo
Slovak: schopnosť vytvoriť obrazec s veľkosťou znaku menej ako 1 μm; alebo
Polish: Zdolność wytwarzania obrazów o wielkości charakterystycznej poniżej 1 μm; lub
Hungarian: Képes olyan mintát előállítani, amelynek fő mérete 1 μm-nél kisebb; vagy
Slovenian: zmožnost izdelave vzorca s potezami, manjšimi od 1 μm; ali
Estonian: on võimelised tekitama mustreid, milles vähima lahutatava elemendi mõõt on väiksem kui 1 μm; või
Latvian: spēj formēt trafaretattēlu ar "minimālo atšķiramās detaļas izmēru" 1 μm vai mazāku; vai
Lithuanian: Galinti sukurti paveikslus, kurių topologinių elementų matmenys mažesni kaip 1 μm; arba
English: An overlay accuracy of better than ± 0,20 μm (3 sigma);
French: précision de chevauchement meilleure que ± 0,20 μm (3 sigma);
German: Justiergenauigkeit (overlay accuracy) besser als ± 0,20 μm (3 Sigma);
Spanish: Exactitud de recubrimiento mejor que ± 0,20 micras (3 sigma);
Italian: precisione di sovrapposizione migliore di ± 0,20 μm (3 sigma);
Portuguese: Precisão no revestimento melhor que ± 0,20 μm (3 sigma);
Dutch: overlay-nauwkeurigheid beter dan 0,20 micrometer (3 sigma);
Danish: Overlægningsnøjagtighed bedre end ± 0,20 μm (3 sigma).
Swedish: har en passningsnoggrannhet som är bättre än ± 0,20 μm (3 sigma).
Finnish: Kohdistustarkkuus on parempi kuin ± 0,20 μm (3 sigmaa).
Greek: Ακρίβεια επικάλυψης καλύτερη από ± 0,20 μm (3 sigma).
Czech: přesnost překrytí je lepší než ± 0,20 μm (3 sigma);
Slovak: presnosť prekryvu lepšia ako ± 0,20 μm (3 sigma);
Polish: Dokładność nakładania warstw lepszą niż ± 0,20 μm (3 sigma).
Hungarian: Az elhelyezési pontosság jobb, mint ± 0,20 μm (3 szigma);
Slovenian: površinsko natančnost boljšo od ± 0,20 μm (3 sigme);
Estonian: paigutustäpsus parem kui ± 0,20 μm (3 sigmat);
Latvian: pārklājuma precizitāte augstāka par ± 0,20 μm (3 σ);
Lithuanian: Bendrasis tikslumas geresnis kaip ± 0,20 μm (3 sigma).
English: Masks and reticles designed for integrated circuits specified in 3A001;
French: masques ou réticules conçus pour circuits intégrés visés au paragraphe 3A001;
German: Masken oder Reticles, entwickelt für von Nummer 3A001 erfasste integrierte Schaltungen;
Spanish: Máscaras y retículas diseñadas para circuitos integrados incluidos en el artículo 3A001;
Italian: maschere e reticoli progettati per i circuiti integrati specificati in 3A001;
Portuguese: Máscaras e retículas concebidas para circuitos integrados referidos em 3A001;
Dutch: maskers of fijne optische netwerken («reticles») voor geïntegreerde schakelingen, vermeld in 3A001;
Danish: Masker og okularmikrometre beregnet for integrerede kredsløb, der er pålagt eksportkontrol if. 3A001.
Swedish: Masker eller mastermasker som är avsedda för tillverkning av integrerade kretsar enligt avsnitt 3A001.
Finnish: Maskit tai retikkelit, jotka on suunniteltu 3A001 kohdassa määriteltyjä integroituja piirejä varten;
Greek: Μάσκες ή reticles που έχουν σχεδιαστεί για ολοκληρωμένα κυκλώματα που καθορίζονται στο σημείο 3Α001.
Czech: masky a optické mřížky konstruované pro integrované obvody uvedené v položce 3A001;
Slovak: Masky a kontrolné šablóny znakov navrhnuté pre integrované obvody uvedené v 3A001;
Polish: Maski i siatki optyczne zaprojektowane do układów scalonych wyszczególnionych w pozycji 3A001;
Hungarian: A 3A001 pontban meghatározott, integrált áramkörökhöz tervezett maszkok és hajszálvonalas lemezek;
Slovenian: maske in mrežice, izdelane za integrirana vezja iz točke 3A001;
Estonian: maskid ja niitvörgustikud, mis on ette nähtud punktis 3A001 nimetatud integraallülitustele;
Latvian: Maskas un rastri, kas konstruēti 3A001 pozīcijā minētajām integrālajām shēmām;
Lithuanian: Kaukės ir tarpiniai fotošablonai, skirti integriniams grandynams, nurodytiems 3A001;
English: Multi-layer masks with a phase shift layer.
French: masques multicouches comportant une couche à décalage de phase.
German: Multilayer-Masken mit einer phasenverschiebenden Schicht.
Spanish: Máscaras multicapas con una capa de cambio de fase.
Italian: maschere multistrato con uno strato a spostamento di fase.
Portuguese: Máscaras multicamadas com uma camada de deslocamento de fase.
Dutch: maskers bestaande uit verscheidene lagen met een faseverschuivingslaag.
Danish: Flerlagsmasker med et faseforskydningslag.
Swedish: Flerlagermasker som är försedda med ett fasskiftlager.
Finnish: Monikerrosmaskit, joissa on vaihesiirtokerros.
Greek: Μάσκες με πολλαπλά στρώματα που περιλαμβάνουν στρώμα ολίσθησης φάσης.
Czech: vícevrstvé masky s vrstvou fázového posunu.
Slovak: Viacvrstvové masky s vrstvou fázového posuvu.
Polish: Maski wielowarstwowe z warstwą z przesunięciem fazowym.
Hungarian: Többrétegű maszkok fáziseltolásos rétegekkel.
Slovenian: večplastne maske s faznimi premičnimi plastmi.
Estonian: mitmekihilised maskid faasinihke kihiga.
Latvian: Daudzslāņu maskas ar fāžu nobīdes slāni. Piezīme.
Lithuanian: Daugiasluoksnės kaukės su fazės poslinkio sluoksniu.
English: For testing S-parameters of transistor devices at frequencies exceeding 31,8 GHz;
French: pour le test des paramètres S de transistors à une fréquence supérieure à 31,8 GHz;
German: zum Prüfen der S-Parameter von Transistoren bei Frequenzen größer als 31,8 GHz;
Spanish: Para ensayo de parámetros S de dispositivos de transistores a frecuencias superiores a 31,8 GHz;
Italian: per il collaudo dei parametri S dei dispositivi a transistor a frequenze superiori a 31,8 GHz;
Portuguese: Para ensaio dos parâmetros S de dispositivos com transístores a frequências superiores a 31,8 GHz;
Dutch: voor het testen van S-parameters van transistorelementen bij frequenties hoger dan 31,8 GHz;
Danish: Til afprøvning af transistorindretningers S-parametre ved frekvenser over 31,8 GHz.
Swedish: Utrustning för provning av transistorers S-parametrar vid frekvenser som överstiger 31,8 GHz.
Finnish: Laitteet transistorien S-parametrien testaukseen yli 31,8 GHz:n alueella;
Greek: Για να δοκιμάζονται οι παράμετροι S συσκευών τρανζίστορ σε συχνότητες πάνω από 31,8 GHz
Czech: pro zkoušení S-parametrů tranzistorových součástek při frekvencích větších než 31,8 GHz;
Slovak: na skúšanie parametrov S-parametrov tranzistorových zariadení pri frekvenciách nad 31,8 GHz;
Polish: Do testowania S - parametrów urządzeń tranzystorowych przy częstotliwościach powyżej 31,8 GHz;
Hungarian: Tranzisztor eszközök S-paraméterének tesztelésére szolgáló eszközök 31,8 GHz-et meghaladó frekvencián;
Slovenian: za testiranje parametrov S tranzistorskih naprav pri frekvencah nad 31,8 GHz;
Estonian: transistoride S parameetrite testimiseks sagedustel üle 31,8 GHz;
Latvian: Tranzistorierīču S-parametru pārbaudei pie frekvencēm, kas pārsniedz 31,8 GHz;
Lithuanian: Skirta tranzistorinių įtaisų S parametrams tikrinti dažniuose, viršijančiuose 31,8 GHz;
English: For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a 'pattern rate' of more than 667 MHz;
French: pour le test de circuits intégrés capables d'exécuter des essais de base (table de vérité) à une "cadence de signal" supérieure à 667 MHz;
German: zum Prüfen von integrierten Schaltungen mit Wahrheitstabellen (truth tables) bei einer 'Testmusterrate' größer als 667 MHz;
Spanish: Para ensayo de circuitos integrados con capacidad para realizar ensayos de funcionamiento (tabla de verdad) a una "tasa de configuración" superior a 667 MHz;
Italian: per il collaudo di circuiti integrati in grado di eseguire collaudi funzionali (tavola della verità) ad una "cadenza di segnale" superiore a 667 MHz;
Portuguese: Para ensaio de circuitos integrados capazes de realizar um ensaio funcional (tabela de verdade) com uma "frequência padrão" superior a 667 MHz;
Dutch: voor het testen van geïntegreerde schakelingen en geschikt voor het functioneel testen («truth table testing») met een 'patroonsnelheid' hoger dan 667 MHz;
Danish: Til afprøvning af integrerede kredsløb og i stand til at udføre funktionel (sandhedstabel) afprøvning ved en "mønsterhastighed" på mere end 667 MHz.
Swedish: Utrustning för provning av integrerade kretsar som kan utföra ett sanningstabellprov så att mönstret provas med en repetitionshastighet på mer än 667 MHz.
Finnish: Integroitujen piirien ja niistä muodostuvien kokoonpanojen testauslaitteet, jotka kykenevät suorittamaan toiminnallista (totuustaulu-) testausta yli 667 MHz:n 'bittikuvionopeudella';
Greek: Για να δοκιμάζονται ολοκληρωμένα κυκλώματα ικανά να εκτελούν λειτουργικές δοκιμές (πίνακας αλήθειας) με "ρυθμό σχημάτων" πάνω από 667 MHz.
Czech: pro zkoušení integrovaných obvodů, schopná provádět funkční zkoušení (podle pravdivostní tabulky) při "rychlosti vzorku" vyšší než 667 MHz;
Slovak: na skúšanie integrovaných obvodov schopných vykonávať funkčné skúšanie (pravdivostná tabuľka) pri"veľkosti obrazca" viac ako 667 MHz;
Polish: Do testowania układów scalonych zdolne do przeprowadzenia testowania funkcjonalnego (tabela loprawdy) z "szybkością wzorca" powyżej 667 MHz.
Hungarian: Funkcionális (igazságtábla) tesztelés végrehajtására képes integrált áramköröknek a 667 MHz-nél nagyobb "mintasebesség" mellett történő tesztelésére szolgáló eszközök;
Slovenian: za testiranje integriranih vezij z zmožnostjo izvajanja funkcionalnih preizkusov pri 'hitrosti vzorčenja' več kakor 667 MHz;
Estonian: integraallülituste testimiseks, mis on võimelised sooritama funktsionaalset testimist tõeväärtustabelitega, näidisteesitamisekiirusega üle 667 MHz;
Latvian: lai pārbaudītu integrālās shēmas, kas spēj veikt funkcionālas pārbaudes (formēt nominālas atbilstības tabulas) "digitālā frekvencē", kura pārsniedz 667 MHz; Piezīme.
Lithuanian: Skirta tikrinti integrinius grandynus, galinčius atlikti funkcinį (teisingumo lentelės) tikrinimą, esant 'paveikslo formavimo spartai', didesnei kaip 667 MHz;
English: Note: 3B002.b. does not control test equipment specially designed for testing:
French: Note: L'alinéa 3B002.b. ne vise pas les équipements de test spécialement conçus pour le test:
German: Anmerkung: Unternummer 3B002b erfasst nicht Prüfgeräte, besonders konstruiert für die Prüfung von:
Spanish: Nota: El subartículo 3B002.b. no somete a control los equipos de ensayo diseñados especialmente para el ensayo de:
Italian: Nota: il 3B002.b non sottopone ad autorizzazione le apparecchiature di collaudo appositamente progettate per il collaudo di:
Portuguese: Nota: 3B002.b. não abrange equipamentos de ensaio especialmente concebidos para o ensaio de:
Dutch: Noot: In 3B002.b wordt niet bedoeld testapparatuur die speciaal is ontworpen voor het testen van:
Danish: Note: 3B002.b lægger ikke eksportkontrol på prøveudstyr, der er specielt beregnet til prøvning af:
Swedish: Anm.: Avsnitt 3B002.b omfattar inte provutrustning som är speciellt konstruerad för att prova följande:
Finnish: Huom.: 3B002.b kohta ei aseta valvonnanalaiseksi laitteita, jotka on erityisesti suunniteltu testaamaan:
Greek: Σημείωση: Στο σημείο 3Β002.β. δεν ελέγχεται ο εξοπλισμός δοκιμών που έχει ειδικά σχεδιασθεί για να δοκιμάζονται:
Czech: Poznámka: Položka 3B002 nezahrnuje zkušební zařízení speciálně konstruovaná pro zkoušení:
Slovak: Poznámka: Podľa 3B002.b. sa neriadia skúšobné zariadenie zvlášť navrhnuté na skúšanie:
Polish: Uwaga: Pozycja 3B002.b. nie obejmuje kontrolą sprzętu testującego specjalnie zaprojektowanego do:
Hungarian: Megjegyzés: A 3B002.b. nem vonja ellenőrzés alá a kifejezetten a következők tesztelésére tervezett tesztberendezéseket:
Slovenian: Opomba: Točka 3B002.b ne ureja opreme, izdelane posebej za testiranje:
Estonian: Märkus: Punkt 3B002.b. ei hõlma testimisseadmeid, mis on spetsiaalselt ette nähtud järgmiseks testimiseks:
Latvian: Saskaņā ar 3B002.b. pozīciju kontroli neattiecina uz pārbaudes iekārtām, kas īpaši izstrādātas:
Lithuanian: Pastaba: 3B002.b. netaikomas tikrinimo įrangai, specialiai sukurtai tikrinti:
English: "Electronic assemblies" or a class of "electronic assemblies" for home or entertainment applications;
French: d'"ensembles" ou de catégories d'"ensembles" pour applications domestiques ou grand public;
German: "elektronischen Baugruppen" oder einer Klasse von "elektronischen Baugruppen" für die Haushalts- oder Unterhaltungs-Elektronik,
Spanish: "Conjuntos electrónicos" o diversas clases de "conjuntos electrónicos" para aplicaciones domésticas o de esparcimiento;
Italian: "assiemi elettronici" o una famiglia di "assiemi elettronici" per applicazioni domestiche o per lo svago;
Portuguese: "Conjuntos electrónicos" ou categorias de "conjuntos electrónicos" para aplicações domésticas ou de lazer;
Dutch: 'samenstellingen' of categorieën 'samenstellingen' voor toepassingen in huis of voor amusement;
Danish: "Samlinger" eller en klasse "samlinger" til anvendelse i privathjem eller til underholdning
Swedish: "Elektroniska apparater" eller en klass av "elektroniska apparater" som skall användas för hem eller underhållningselektronik.
Finnish: Koti- tai viihdekäyttöön tarkoitettujen laitteiden "elektronisia kokoonpanoja" tai "kokoonpano"luokkia;
Greek: "Ηλεκτρονικά συγκροτήματα" ή μία τάξη "ηλεκτρονικών συγκροτημάτων" για ιδιωτικές ή ψυχαγωγικές εφαρμογές,
Czech: "elektronických sestav" nebo řad "elektronických sestav" pro použití v domácnosti nebo v zařízeních pro účely zábavy;
Slovak: "elektronických systémov" alebo triedy "elektronických systémov" pre použitie v domácnosti a pre zábavný priemysel;
Polish: "Zespołów elektronicznych" lub klasy "zespołów elektronicznych" do zastosowań domowych albo rozrywkowych;
Hungarian: "Elektronikus részegységek", vagy "elektronikus részegységek" egy osztálya háztartási, vagy szórakoztatási alkalmazásokhoz;
Slovenian: "elektronskih sklopov" in razreda "elektronskih sklopov" za domačo rabo in prosti čas;
Estonian: Elektroonikasõlmed või elektroonikasõlmede klass;
Latvian: sadzīvei vai izklaidei paredzētu "elektronisko mezglu" vai "elektronisko mezglu" klases pārbaudēm,
Lithuanian: Buitinės ar pramoginės paskirties "elektroninius mazgus" arba "elektroninių mazgų" klasę;
English: Uncontrolled electronic components, "electronic assemblies" or integrated circuits;
French: de composants électroniques, d'"ensembles" ou de circuits intégrés non visés;
German: nicht erfassten elektronischen Bauteilen, "elektronischen Baugruppen" oder integrierten Schaltungen,
Spanish: Componentes electrónicos, "conjuntos electrónicos" o circuitos integrados no sometidos a control;
Italian: componenti elettronici, "assiemi elettronici" o circuiti integrati non sottoposti ad autorizzazione;
Portuguese: Componentes electrónicos, "conjuntos electrónicos" ou circuitos integrados não sujeitos a controlo;
Dutch: elektronische onderdelen, 'samenstellingen' of geïntegreerde schakelingen die niet vergunningplichtig zijn
Danish: Elektroniske komponenter, "samlinger" eller integrerede kredsløb, der ikke er pålagt eksportkontrol
Swedish: Okontrollerade elektroniska komponenter, "elektroniska apparater" eller integrerade kretsar.
Finnish: Valvonnan ulkopuolisia "elektronisia komponentteja", "elektronisia kokoonpanoja" tai integroituja piirejä;
Greek: Μη ελεγμένα ηλεκτρονικά δομικά στοιχεία, "ηλεκτρονικά συγκροτήματα" ή ολοκληρωμένα κυκλώματα,
Czech: elektronických součástek, "elektronických sestav" nebo integrovaných obvodů, které nejsou kontrolovány;
Polish: Nieobjętych kontrolą elementów elektronicznych, "zespołów elektronicznych" lub układów scalonych;
Hungarian: Nem ellenőrzött elektronikus alkatrészek, "elektronikus részegységek" vagy integrált áramkörök;
Slovenian: nekrmiljenih elektronskih komponent, "elektronskih sklopov" ali integriranih vezij;
Estonian: Kontrollimatud elektroonilised komponendid, elektroonikasõlmed või integraallülitused;
Latvian: kontrolei nepakļautu elektronisko komponentu, "elektronisko mezglu" vai integrālo shēmu pārbaudēm,
Lithuanian: Nekontroliuojamus elektroninius komponentus, "elektroninius mazgus" arba integrinius grandynus;
English: Memories.
French: de mémoires.
German: Speicherschaltungen.
Spanish: Memorias.
Italian: memorie.
Portuguese: Memórias.
Dutch: geheugens.
Danish: Hukommelser.
Swedish: Minnen.
Finnish: Muistit
Greek: Μνήμες.
Czech: pamětí.
Polish: Pamięci.
Hungarian: Memóriák.
Slovenian: spominov.
Estonian: Mälud.
Latvian: atmiņas pārbaudēm.
Lithuanian: Atmintines.
English: For the purpose of this entry,' pattern rate' is defined as the maximum frequency of digital operation of a tester.
French: Aux fins du présent alinéa, on entend par "cadence de signal" la fréquence maximale de fonctionnement numérique d'un équipement de test.
German: Im Sinne von Unternummer 3B002b wird 'Testmusterrate' (pattern rate) definiert als die maximal mögliche Frequenz in der digitalen Betriebsart eines Testers.
Spanish: Para los propósitos de este subartículo, 'tasa de configuración' se define como la frecuencia máxima de la operación digital de un aparato de medida.
Italian: ai fini del presente punto, per "cadenza di segnale" si intende la frequenza massima di funzionamento digitale di un dispositivo di prova.
Portuguese: Para efeitos deste ponto, "frequência padrão" define-se como sendo a frequência máxima de funcionamento digital de um sistema de ensaio.
Dutch: Voor de toepassing van dit punt wordt verstaan onder 'patroonsnelheid' de maximale frequentie van digitale werking van testapparatuur.
Danish: I dette punkt defineres "mønsterhastighed" som en afprøvningsanordnings maksimale frekvens i forbindelse med en digital operation.
Swedish: I detta avsnitt definieras "mönstrets repetitionshastighet" som den maximala frekvensen för provutrustningens digitala operationer.
Finnish: Tässä kohdassa 'bittikuvionopeudella' tarkoitetaan testauslaitteen digitaalisen toiminnan suurinta taajuutta.
Greek: Για τους σκοπούς αυτού του σημείου, ο "ρυθμός σχημάτων" ορίζεται ως η ανώτατη συχνότητα ψηφιακής λειτουργίας του δοκιμαστήρα.
Czech: Pro účely této položky je "rychlost vzorku" definována jako maximální frekvence číslicové operace zkoušecího zařízení.
Slovak: Pre účely tohto bodu je "veľkosť obrazca" definovaná ako maximálna frekvencia digitálnej operácie skúšobného zariadenia.
Polish: Dla celów tej pozycji "szybkość wzorca", określana jest jako maksymalna częstotliwość operacji cyfrowych testera.
Hungarian: E pont alkalmazásában a "mintasebesség" a vizsgáló berendezés digitális működésének maximális frekvenciáját jelenti.
Slovenian: Za namen te točke je 'hitrost vzorčenja' opredeljena kot maksimalna frekvenca digitalnih operacij testne naprave.
Estonian: Käesolevas punktis tähendab näidiste esitamise kiirus testimisseadme digitaaloperatsioonide maksimaalset sagedust.
Latvian: Šajā vietā ar "digitālu frekvenci" apzīmē testera digitālu operāciju maksimālo frekvenci.
Lithuanian: Šiame punkte naudojamas terminas 'paveikslo formavimo sparta' yra apibrėžiamas kaip didžiausias tikrinimo įtaiso skaitmeninių operacijų atlikimo dažnis.
English: It is therefore equivalent to the highest data rate that a tester can provide in non-multiplexed mode.
French: Elle est donc équivalente au taux de données le plus élevé que ledit équipement peut fournir dans un mode non multiplexé.
Spanish: Es por lo tanto equivalente a la mayor tasa de datos que un aparato de medida puede proveer en un modo no multiplexado.
Italian: È quindi equivalente alla massima cadenza di dati che un dispositivo di prova può raggiungere in modo non multiplexato.
Portuguese: Equivale, portanto, à frequência máxima de sinais que o sistema de ensaio pode fornecer em modo não multiplexado.
Dutch: De 'patroonsnelheid' stemt derhalve overeen met de hoogste overbrengsnelheid van de testapparatuur in non-multiplexed mode.
Danish: Mønsterhastigheden svarer derfor til den højeste datarate, som en afprøvningsanordning kan yde i ikke-multiplex-modus.
Swedish: Den är därför lika med den högsta datahastighet som en provutrustning kan ge vid icke-multiplexering.
Finnish: Näin ollen se vastaa suurinta tietonopeutta, jonka testauslaite voi saavuttaa muussa kuin multipleksoidussa toimintatilassa.
Greek: Ισοδυναμεί επομένως με το μέγιστο ρυθμό δεδομένων που μπορεί να παρέχει ο δοκιμαστήρας όταν λειτουργεί χωρίς πολυπλεξία.
Czech: Je proto ekvivalentem nejvyšší možné rychlosti dat, kterou toto zařízení může poskytnout v nemultiplexním režimu.
Slovak: Preto sa rovná najvyššej rýchlosti prenosu dát, ktorú je skúšobné zariadenie schopné dosiahnuť v nemultiplexnom režime.
Polish: Jest ona, dlatego równoważna największej szybkości przesyłania danych, z jaką tester może działać w trybie niemultipleksowym.
Hungarian: Így ez megfelel a berendezés által nem-multiplexált üzemmódban biztosított legnagyobb adatsebességnek.
Slovenian: Zato je to ekvivalent največji podatkovni hitrosti prenosa, ki jo lahko zagotavlja testna naprava v nemultipleksnem načinu.
Estonian: See vastab kõrgeimale edastuskiirusele, mida testimisseade tagab mittemultiplekssel režiimil.
Latvian: Tāpēc tā ir vienāda ar augstāko datu ātrumu, kuru testeris spēj nodrošināt, nestrādājot multipleksā režīmā.
Lithuanian: Vadinasi, ji yra ekvivalenti didžiausiai duomenų spartai, kuria gali veikti tikrinimo įtaisas, esant nesutankintai veikai.
English: It is also referred to as test speed, maximum digital frequency or maximum digital speed.
French: On parle aussi de vitesse d'essai, de fréquence numérique maximale ou de vitesse numérique maximale.
Spanish: Se refiere también a la velocidad del ensayo, la frecuencia digital máxima o a la velocidad digital máxima.
Italian: Viene anche denominata velocità di prova, massima frequenza digitale o massima velocità digitale.
Portuguese: É também conhecida por velocidade de ensaio, frequência digital máxima ou velocidade digital máxima.
Dutch: De 'patroonsnelheid' wordt ook testsnelheid, maximale digitale frequentie of maximale digitale snelheid genoemd.
Danish: Den benævnes også prøvningshastighed, maksimal digital frekvens eller maksimal digital hastighed.
Swedish: Den betecknas även provningshastighet, maximal digital frekvens eller maximal digital hastighet.
Finnish: Se tunnetaan myös nimillä testinopeus, suurin digitaalinen taajuus ja suurin digitaalinen nopeus.
Greek: Αναφέρεται και ως ταχύτητα δοκιμής, με ανώτατη ψηφιακή συχνότητα ή μέγιστη ψηφιακή ταχύτητα.
Czech: Označuje se též jako rychlost zkoušení, maximální číslicová frekvence nebo maximální číslicová rychlost.
Slovak: Označuje sa aj ako skúšobná rýchlosť, maximálna digitálna frekvencia alebo maximálna digitálna rýchlosť.
Polish: Wspomina się o niej także, jako o prędkości testowania, maksymalnej częstotliwości cyfrowej lub maksymalnej prędkości cyfrowej.
Hungarian: Erre a paraméterre vizsgálati sebességként, maximális digitális frekvenciaként, illetve maximális digitális sebességként is szoktak hivatkozni.
Slovenian: Nanaša se tudi na hitrost testnega postopka, največjo digitalno frekvenco in največjo digitalno hitrost.
Estonian: Seda kutsutakse ka testkiiruseks, maksimaalseks digitaalseks sageduseks või maksimaalseks digitaalseks kiiruseks.
Latvian: To sauc arī par testēšanas ātrumu, maksimālo digitālo frekvenci vai digitālo ātrumu.
Lithuanian: Ji taip pat vadinama tikrinimo sparta, didžiausiuoju skaitmeniniu dažniu arba didžiausiąja skaitmenine sparta.