English: This test is intended to measure narrowband electromagnetic emissions such as might emanate from a microprocessor-based system or other narrowband source.
French: Cet essai est destiné à mesurer les perturbations rayonnées en bande étroite telles qu'il peut en émaner d'un système basé sur un microprocesseur ou d'un autre source de bande étroite.
German: Diese Prüfung dient zur Messung schmalbandiger elektromagnetischer Störungen, die von Systemen auf Basis von Mikroprozessoren oder anderen schmalbandigen Quellen ausgehen könnten.
Spanish: El ensayo tiene por objeto medir la radiación electromagnética de banda estrecha emitida por un sistema de microprocesador u otra fuente de banda estrecha.
Italian: La prova ha lo scopo di misurare le emissioni elettromagnetiche a banda stretta generate da un sistema basato su microprocessore o da un'altra sorgente a banda stretta.
Portuguese: O ensaio é concebido para medir a radiação electromagnética em banda estreita emitida por um sistema com microprocessador ou por outra fonte de banda estreita.
Dutch: De proef is bestemd voor de meting van de smalbandstraling afkomstig van bij voorbeeld systemen met microprocessoren of andere bronnen van smalbandige straling.
Danish: Prøven er beregnet til måling af smalbåndsemission som den, der kan udsendes af mikroprocessorbaserede systemer eller andre smalbåndskilder.
Swedish: Denna mätmetod är avsedd att mäta smalbandsstrålning av sådana slag som kan avges från ett mikroprocessbaserat system eller annan smalbandskälla.
Finnish: Tällä menetelmällä mitataan kapeakaistaista sähkömagneettista säteilyä, joka voi olla lähtöisin mikrosuoritinperustaisesta järjestelmästä tai muusta kapeakaistaisesta lähteestä.
Greek: Η παρούσα δοκιμή αποσκοπεί στη μέτρηση ηλεκτρομαγνητικών εκπομπών στενής ζώνης, όπως εκείνες που είναι δυνατόν να προέρχονται από σύστημα βασιζόμενο σε μικροεπεξεργαστή ή άλλη πηγή ακτινοβολίας στενής ζώνης.
Czech: Tato zkouška je určena pro měření úzkopásmového elektromagnetického vyzařování, které může být generováno systémem na bázi mikroprocesoru nebo jiného úzkopásmového zdroje.
Slovak: Tento test je určený na meranie úzkopásmových emisií, ktoré by mohli vychádzať z mikroprocesorových systémov alebo iných úzkopásmových zdrojov.
Polish: Niniejsze badanie ma na celu pomiar emisji wąskopasmowych, jakie mogą pochodzić od układów opartych na mikroprocesorach lub innego źródła promieniowania wąskopasmowego.
Hungarian: E vizsgálat azon keskeny sávú zavarások mérésére szolgál, amelyek a mikroprocesszoros alapon működő rendszerekből vagy más keskeny sávú forrásokból indulhatnak ki.
Slovenian: Ta preskus je namenjen merjenju ozkopasovnih elektromagnetnih motenj, ki bi jih lahko povzročali sistemi z mikroprocesorjem ali drug vir ozkopasovnih poljskih jakosti.
Bulgarian: Това изпитване е предназначено за измерване на теснолентовите електромагнитни емисии, излъчвани от микропроцесорна система или от друг източник на теснолентово излъчване.
Estonian: Käesoleva katsega mõõdetakse mikroprotsessorsüsteemi või muu kitsasribaallika tekitatud kitsasriba elektromagnetkiirgust.
Latvian: Šis tests paredzēts tādu šaurjoslas elektromagnētisko emisiju mērīšanai, ko varētu radīt sistēma ar mikroprocesoru vai cits šaurjoslas starojuma avots.
Lithuanian: Šis bandymas skirtas siauro dažnių diapazono emisijoms, kurias gali skleisti sistemos su mikroprocesoriais ar kiti siauro dažnių diapazono šaltiniai, matuoti.
Maltese: Din it-test hu ntiż biex jikejjlu l-emissjonijiet elettromanjetiċi ta' firxa ta' frekwenza dejqa li jistgħu joħorġu minn sistema bbażata fuq mikroproċessur jew minn għajn oħra ta' firxa ta' frekwenza dejqa.