取り除いた正味で0.2gを要する。sn分析試料溶液の調整については、5に示した一般的な方語*トーっっ法である。ろ液は.Y内標準溶液Y10mg)添加し,純水で100mlーーEiに希釈。不溶残済はホウ酸リチウムで融解後,希塩酸溶液に溶解してろ液と同様に100mlに希釈する。測定は、6.X線回断粉末法にCa,Fe.Si,Mn,P.Ti,Al,Mg,Zn.CU,V.Sr.Zr,SnBaについては、インので取2折と只滴解残肖才学苑高周波誘導プラズマ発光分光分析(ICP)法。Na,K,Pbについ要となる。ては原子吸光法。CI|については、水抽出-イオンクロマトグラ5.分析試料溶液の調整フィ法による。なお、強熱灰化減量(lg.Ioss)については、1C,1時間灰化時の重量減量を測定する。表1.漆喰の分析例(plas-02は高松塚古墳の発見当初頃の剥落片で採取場所は確定できない)LwrlwlmwlwlwlmlwIwlwlwlwlmeg|mlse|emleemlsmlemlsmlemlemlemrew|eelsw|te||mllsmwlowlemwlemre|ee|smlmlmlemlemwlmelseleemlemmee|eeleml|wlemlemlemlemlwlsmlseEE還是E上上EE上CO上Clm|welswlmlelwlwlel|mlelm|milselsmlelmlmlmlmlmmlmle|glsm|selmlmlwlmlwl|mm|mwmmlelelwelelelemlmlieleewlwelmr|slemlelowlsee|selswlemlelslmsl||emelemlemilee|smmw|emlsml|wwl還還CI上ECO上EC上IPIEICIEKTEIIwm||||smlswlwm||mlmalmwlee|Wm|||||dl||||wel|Lww|||||el||||mm|なお、化学分析にあたっては、あらかじめX線回折粉末法により構成鉱物種の同定を実施しておく。X線回折粉末法は試料を消耗することはないので、測定終了後に化学分析が実施できる。試料を採取して汚染物等を取り除いた後、200mesh以下に粉砕し調整する。必要な粉末試料は、0.02gr前後でシリコン製無反射試料板にマウントして測定する。粉末4

質問: 表1の漆喰の分析例において、Plas-01に含まれるCa0の割合はどのくらいですか？
解答は数量のみで答えてください。
解答: 46.1