Test : Porte NAND,comparateur,photorésistance et LED

Autoévaluation

Disciplines : Electronics
Mots-clés : porte nand,photorésistance,comparateur,lED,nand,test,quiz,qcm,exercice,évaluation,auto-évaluation,auto-correction
Type de document : ressource interactive
Type de ressource : self assessment,évaluation,exam,exercise
Niveau : Bac+1,Bac+2,Bac+3,higher education
Publics visés : learner,teacher
Auteurs ou éditeurs : Patrice MANGEARD,IUTenligne