Métrologie à petites échelles

Microscopie à champ procheGénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS

Disciplines : Microscopie,Mesure physique
Mots-clés : effet d'échelle,étalon,grandeur physique,mesure,métrologie,microscopie à sonde locale,microscopie en champ proche,microscopie optique,nanométrologie
Type de document : image en mouvement
Type de ressource : lecture
Niveau : master
Auteurs ou éditeurs : Bernard CRETIN,CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique