กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดในอุโมงค์

ไฟล์:Atomic resolution Au100.JPG‎|thumb|Image of reconstruction on a clean Gold(100) surface
ไฟล์:Chiraltube.png|thumb|An STM image of single-walled carbon nanotube
กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดทะลุผ่าน (scanning tunneling microscope; STM) คือเครื่องมือสำหรับการจับภาพพื้นผิวในระดับของอะตอม คิดค้นขึ้นโดย Gerd Binnig และ Heinrich Rohrer (จากไอบีเอ็ม ซูริก) ในปี ค.ศ. 1981 และทำให้ทั้งสองได้รับรางวัลโนเบลสาขาฟิสิกส์ในปี ค.ศ. 1986 สำหรับ STM เครื่องหนึ่ง ค่าความละเอียดที่ดีควรอยู่ที่ 0.1 นาโนเมตรในแนวขวาง และ 0.01 นาโนเมตรในแนวลึก ด้วยค่าความละเอียดขนาดนี้ อะตอมแต่ละหน่วยในสสารจะมีการหมุนเวียนและจับภาพไว้ได้ เราสามารถใช้ STM ได้ไม่เพียงในที่สุญญากาศยิ่งยวด แต่ยังใช้ได้ในอากาศ ในน้ำ และของเหลวอื่นๆ หรือในก๊าซ และที่ระดับอุณหภูมิแตกต่างกันได้ตั้งแต่เกือบศูนย์เคลวินไปจนถึงหลายร้อยองศาเซลเซียส
เครื่อง STM มีพื้นฐานบนหลักการของการทะลุผ่านทางควอนตัม (quantum tunnelling) เมื่อนำปลายตัวนำไปใกล้กับพื้นผิวที่ต้องการตรวจสอบ จะเกิดไบแอส (โวลท์ที่ต่างกัน) ระหว่างพื้นผิวทั้งสองและทำให้อิเล็กตรอนสามารถลอดผ่านสุญญากาศระหว่างทั้งสองได้ "กระแสทะลุผ่าน" ที่เกิดขึ้นคือฟังก์ชันระหว่างตำแหน่งของปลายตัวนำ โวลท์ที่ใช้ และความหนาแน่นภายในของสถานะ (local density of states; LDOS) ของสารตัวอย่างนั้น การเก็บข้อมูลทำโดยการจับค่ากระแสขณะที่ปลายตัวนำเคลื่อนที่กราดไปทั่วพื้นผิว และมักแสดงผลในรูปของภาพ การใช้งาน STM เป็นเทคนิคอันท้าทาย เพราะต้องใช้พื้นผิวที่สะอาดและเสถียรอย่างยิ่ง ปลายตัวนำที่แหลม การควบคุมการสั่นอย่างเยี่ยมยอด และอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์อันสลับซับซ้อน

**อ้างอิง**

**หนังสืออ่านเพิ่มเติม**
 Tersoff, J.: Hamann, D. R.: Theory of the scanning tunneling microscope,  Physical Review B 31, 1985, p. 805 - 813.- Bardeen, J.: Tunnelling from a many-particle point of view,  Physical Review Letters 6 (2), 1961, p. 57-59.- Chen, C. J.: Origin of Atomic Resolution on Metal Surfaces in Scanning Tunneling Microscopy,  Physical Review Letters 65 (4), 1990, p. 448-451- G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel,  Phys. Rev. Lett. 50, 120 - 123 (1983)- G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel,  Phys. Rev. Lett. 49, 57 - 61 (1982)- G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel,  Appl. Phys. Lett., Vol. 40, Issue 2, pp. 178-180 (1982)- R. V. Lapshin, Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology,  Nanotechnology, volume 15, issue 9, pages 1135-1151, 2004- D. Fujita and K. Sagisaka, Topical review: Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy  Sci. Technol. Adv. Mater. 9, 013003(9pp) (2008) (free download).- isbn=0521428475- Theory of STM and Related Scanning Probe Methods. Springer Series in Surface Sciences, Band 3. Springer, Berlin 1998

**แหล่งข้อมูลอื่น**
  A microscope is filming a microscope date=2009-06-04  (Mpeg, AVI movies)-  Zooming into the NanoWorld (Animation with measured STM images)-  NobelPrize.org website about STM, including an interactive STM simulator.-  SPM - Scanning Probe Microscopy Website date=2008-04-10 -  STM Image Gallery at IBM Almaden Research Center date=2008-04-13 -  STM Gallery at Vienna University of technology-  Build a simple STM with a cost of materials less than $100.00 excluding oscilloscope-  Nanotimes Simulation engine of scanning tunneling microscope date=2020-06-06 -  Structure and Dynamics of Organic Nanostructures discovered by STM-  Metal organic coordination networks of oligopyridines and Cu on graphite investigated by STM-  Surface Alloys discovered by STM date=2008-09-08 -  Animated illustration of tunneling and STM-  60 second movie clip with an introduction to Scanning Tunneling Microscopy(STM)
หมวดหมู่:กล้องจุลทรรศน์