材料分析法の一覧

材料分析法の一覧:
*μSR - ミュオンスピン回転（muon spin rotation）
*χ - 磁化率を参照

**A**
Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
*AAS - 原子吸光分光（Atomic absorption spectroscopy）
*AED - オージェ電子回折（Auger electron diffraction）
*AES - オージェ電子分光（Auger electron spectroscopy）
*AFM - 原子間力顕微鏡（Atomic force microscope|Atomic force microscopy）
*AFS - 原子蛍光分光（Atomic fluorescence spectroscopy）
*APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Atom probe field ion microscopy）
*APS - 出現電位分光（Appearance potential spectroscopy）
*ARPES - 角度分解光電子分光（Angle resolved photoemission spectroscopy）
*ARUPS - 角度分解紫外光電子分光（Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy）
*ATR -Attenuated total reflectance（Attenuated total reflectance）

**B**
BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
*BiFC - Bimolecular fluorescence complementation（Bimolecular fluorescence complementation）
*BKD - 後方散乱菊池回折（Backscatter Kikuchi diffraction）、EBSDを参照
*BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動（Bioluminescence resonance energy transfer）
*BSED - 後方散乱電子回折（Back scattered electron diffraction）、EBSDを参照

**C**
CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光（Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy）
*CARS - Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy（Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy）
*CBED - 収束電子回折（Convergent beam electron diffraction）
*CCM - Charge collection microscopy（Charge collection microscopy）
*CDI - Coherent diffraction imaging（Coherent diffraction imaging）
*CE - キャピラリー電気泳動（Capillary electrophoresis）
*CET - クライオ電子線トモグラフィー（Cryo-electron tomography）
*CL - カソードルミネッセンス（Cathodoluminescence）
*CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡（Confocal laser scanning microscopy）
*COSY - COSY（Correlation spectroscopy）
*Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡（Cryo-electron microscopy）
*Cryo-SEM - Cryo-scanning electron microscopy（Cryo-scanning electron microscopy）
*CV - サイクリックボルタンメトリー（Cyclic voltammetry）

**D**
DE(T)A - Dielectric thermal analysis
*dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果（De Haas–van Alphen effect）
*DIC - 微分干渉顕微鏡（Differential interference contrast microscopy）
*Dielectric spectroscopy - Dielectric spectroscopy
*DLS - Dynamic light scattering（Dynamic light scattering）
*DLTS - 深い準位過渡分光（Deep-level transient spectroscopy）
*DMA - Dynamic mechanical analysis（Dynamic mechanical analysis）
*DPI - Dual-polarization interferometry（Dual polarisation interferometry）
*DRS - 拡散反射分光（Diffuse reflection spectroscopy）
*DSC - 示差走査熱量測定（Differential scanning calorimetry）
*DTA - 示差熱分析（Differential thermal analysis）
*DVS - Dynamic vapour sorption（Dynamic vapour sorption）

**E**
EBIC - Electron beam-induced current（Electron beam induced current） 、IBIC（ion beam induced charge）も参照
*EBS - 弾性（非ラザフォード）後方散乱分光（Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry）、RBSを参照。
*EBSD - 電子後方散乱回折（Electron backscatter diffraction）
*ECOSY - ECOSY（Exclusive correlation spectroscopy）
*ECT - 電気容量トモグラフィ（Electrical capacitance tomography）
*EDAX - エネルギー分散型X線分析（Energy-dispersive analysis of x-rays）
*EDMR - Electrically detected magnetic resonance（Electrically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
*EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光（Energy dispersive X-ray spectroscopy）
*EELS - 電子エネルギー損失分光（Electron energy loss spectroscopy）
*EFTEM - Energy filtered transmission electron microscopy（Energy filtered transmission electron microscopy）
*EID - 電子誘起脱離（Electron induced desorption）
*EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ（Electrical impedance tomography）、Electrical resistivity tomography（Electrical resistivity tomography）
*EL - エレクトロルミネセンス（Electroluminescence）
*Electron crystallography - Electron crystallography
*ELS - Electrophoretic light scattering（Electrophoretic light scattering）
*ENDOR - Electron nuclear double resonance（Electron nuclear double resonance）
*EPMA - 電子線マイクロアナライザ（Electron probe microanalysis）
*EPR - 電子常磁性共鳴（Electron paramagnetic resonance）
*ERD、ERDA - Elastic recoil detection（Elastic recoil detection）または弾性反跳検出分析（Elastic recoil detection）
*ESCA - 化学分析のための電子分光（Electron spectroscopy for chemical analysis）*XPSを参照
*ESD - 電子刺激脱離（Electron stimulated desorption）
*ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡（Environmental scanning electron microscopy）
*ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法（Electrospray ionization mass spectrometry）、エレクトロスプレー質量分析法（Electrospray mass spectrometry）
*ESR - 電子スピン共鳴
*ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡（Electrochemical scanning tunneling microscopy）
*EXAFS - 広域X線吸収微細構造（Extended X-ray absorption fine structure）
*EXSY - EXSY（Exchange spectroscopy）

**F**
FCS - 蛍光相関分光法（Fluorescence correlation spectroscopy）
*FCCS - Fluorescence cross-correlation spectroscopy（Fluorescence cross-correlation spectroscopy）
*FEM - Field emission microscopy（Field emission microscopy）
*FIB - 集束イオンビーム（Focused ion beam）
*FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Field ion microscopy-atom probe）
*Flow birefringence - Flow birefringence
*Fluorescence anisotropy - Fluorescence anisotropy
*FLIM - Fluorescence-lifetime imaging microscopy（Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy）
*Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡
*FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopy
*FRET - 蛍光共鳴エネルギー移動（Fluorescence resonance energy transfer）
*FRS - 前方反跳分光（Forward Recoil Spectrometry）、ERDと同義
*FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（Fourier transform ion cyclotron resonance）、フーリエ変換質量分析（Fourier transform mass spectrometry）
*FTIR - フーリエ変換赤外分光（Fourier transform infrared spectroscopy）

**G**
GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法（Gas chromatography-mass spectrometry）
*GD-MS - グロー放電質量分析法（Glow discharge mass spectrometry）
*GD-OES - グロー放電発光分光（Glow discharge optical spectroscopy）
*GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱（Grazing incidence small angle X-ray scattering）
*GIXD - すれすれ入射X線回折（Grazing incidence X-ray diffraction）
*GIXR - すれすれ入射X線反射率測定（Grazing incidence X-ray reflectivity）
*GLC - 気液クロマトグラフィー（Gas-liquid chromatography）

**H**
HAADF - 高角環状暗視野像（high angle annular dark-field imaging）
*HAS - Helium atom scattering（Helium atom scattering）
*HPLC - 高速液体クロマトグラフィー（High performance liquid chromatography）
*HREELS - High resolution electron energy loss spectroscopy（High resolution electron energy loss spectroscopy）
*HREM  - 高分解能電子顕微鏡（High-resolution electron microscopy）
*HRTEM  - High-resolution transmission electron microscopy（High-resolution transmission electron microscopy）
*HI-ERDA  - 重イオン弾性反跳検出分析（Heavy-ion elastic recoil detection analysis）
*HE-PIXE  - 高エネルギー陽子励起X線放出（High-energy proton induced X-ray emission）

**I**
IAES - イオン励起オージェ電子分光（Ion induced Auger electron spectroscopy）
*IBA - Ion beam analysis（Ion beam analysis）
*IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡（Ion beam induced charge microscopy）
*ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析（Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy）
*ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry）
*Immunofluorescence - Immunofluorescence
*ICR - Ion cyclotron resonance（Ion cyclotron resonance）
*IETS - Inelastic electron tunneling spectroscopy（Inelastic electron tunneling spectroscopy）
*IGA - Intelligent gravimetric analysis
*IGF - 不活性ガス融解（Inert gas fusion）
*IIX - イオン励起X線分析（Ion induced X-ray analysis）:粒子線励起X線分析を参照
*INS - 非弾性中性子散乱（Inelastic neutron scattering）、イオン中和分光（Ion neutralization spectroscopy）
*IRNDT - Infrared non-destructive testing of materials（Infrared non-destructive testing of materials）
*IRS - 赤外分光法（Infrared spectroscopy）
*ISS - イオン散乱分光（Ion scattering spectroscopy）
*ITC - 等温滴定カロリメトリー（Isothermal titration calorimetry）
*IVEM - 中間電圧電子顕微鏡（Intermediate voltage electron microscopy）

**L**
LALLS - Low-angle laser light scattering（Low-angle laser light scattering）
*LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析（Liquid chromatography-mass spectrometry）
*LEED - 低速電子線回折（Low-energy electron diffraction）
*LEEM - Low-energy electron microscopy（Low-energy electron microscopy）
*LEIS - Low-energy ion scattering（Low-energy ion scattering）
*LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光（Laser induced breakdown spectroscopy）
*LOES - Laser optical emission spectroscopy
*LS - 光散乱（Light (Raman) scattering）

**M**
MALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（Matrix-assisted laser desorption/ionization）
*MBE - 分子線エピタキシー法（Molecular beam epitaxy）
*MEIS - 中エネルギーイオン散乱（Medium energy ion scattering）
*MFM - 磁気力顕微鏡（Magnetic force microscopy）
*MIT - 磁気誘導断層撮影（Magnetic induction tomography）
*MPM - 多光子蛍光顕微鏡（Multiphoton fluorescence microscopy）
*MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡（Magnetic resonance force microscopy）
*MRI - 核磁気共鳴画像法（Magnetic resonance imaging）
*MS - 質量分析法（Mass spectrometry）
*MS/MS - Tandem mass spectrometry（Tandem mass spectrometry）
*MSGE - Mechanically Stimulated Gas Emission
*Mossbauer spectroscopy - メスバウアー分光（Mossbauer spectroscopy）
*MTA - Microthermal analysis（Microthermal analysis）

**N**
NAA - 中性子放射化分析（Neutron activation analysis）
*Nanovid microscopy - Nanovid microscopy
*ND - 中性子回折（Neutron diffraction）
*NDP - Neutron depth profiling（Neutron depth profiling）
*NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造（Near edge X-ray absorption fine structure）
*NIS - 中性子非弾性散乱（Nuclear inelastic scattering）
*NMR - 核磁気共鳴分光法（Nuclear magnetic resonance spectroscopy）
*NOESY - 核オーバーハウザー効果分光（Nuclear Overhauser effect spectroscopy）
*NRA - 核反応法（Nuclear reaction analysis）
*NSOM - 走査型近接場光顕微鏡（Near-field scanning optical microscopy）

**O**
OBIC - Optical beam-induced current（Optical beam induced current）
*ODNMR - 光検出磁気共鳴（Optically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
*OES - 発光分光（Optical emission spectroscopy）
*Osmometry - Osmometry

**P**
PAS - Positron annihilation spectroscopy（Positron annihilation spectroscopy）
*Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光（Photoacoustic spectroscopy）
*PAT or PACT - 光音響トモグラフィー（Photoacoustic tomography）または光音響コンピュータトモグラフィー（photoacoustic computed tomography）
*PAX - Photoemission of adsorbed xenon
*PC or PCS - 光電流分光（Photocurrent spectroscopy）
*Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡（Phase contrast microscopy）
*PhD - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
*PD - 光脱離（Photodesorption）
*PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
*PDS - 光熱偏向分光法（Photothermal deflection spectroscopy）
*PED - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
*PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光（parallel electron energy loss spectroscopy）
*PEEM - 光電子顕微鏡（Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
*PES - 光電子分光（Photoelectron spectroscopy）
*PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法（photon-induced near-field electron microscopy）
*PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出（Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy）、 核反応法を参照
*PIXE - 粒子線励起X線分析（Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy）
*PL - フォトルミネッセンス（Photoluminescence）
*Porosimetry - ポロシメトリー（Porosimetry）
*Powder diffraction - Powder diffraction（Powder diffraction）
*PTMS - Photothermal microspectroscopy（Photothermal microspectroscopy）
*PTS - 光熱変換分光法（Photothermal spectroscopy）

**Q**
QENS - Quasielastic neutron scattering（Quasielastic neutron scattering）

**R**
Raman - ラマン分光法（Raman spectroscopy）
*RAXRS - Resonant anomalous X-ray scattering（Resonant anomalous X-ray scattering）
*RBS - ラザフォード後方散乱分光（Rutherford backscattering spectrometry）
*REM - 反射電子顕微鏡（Reflection electron microscopy）
*RDS - Reflectance difference spectroscopy（Reflectance Difference Spectroscopy）
*RHEED - 反射高速電子線回折（Reflection high energy electron diffraction）
*RIMS - Resonance ionization mass spectrometry（Resonance ionization mass spectrometry）
*RIXS - Resonant inelastic X-ray scattering（Resonant inelastic X-ray scattering）
*RR spectroscopy - Resonance Raman spectroscopy（Resonance Raman spectroscopy）

**S**
SAD - 制限視野回折（Selected area diffraction）
*SAED - 制限視野電子回折（Selected area electron diffraction）
*SAM - 走査型オージェ顕微鏡（Scanning Auger microscopy）
*SANS - Small-angle neutron scattering（Small angle neutron scattering）
*SAXS  - X線小角散乱（Small angle X-ray scattering）
*SCANIIR - 粒子衝撃光放射（Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation）
*SCEM - Scanning confocal electron microscopy（Scanning confocal electron microscopy）
*SE - 分光エリプソメトリー（Spectroscopic ellipsometry）
*SEC - サイズ排除クロマトグラフィー（Size exclusion chromatography）
*SEIRA - 表面増強赤外吸収分光（Surface enhanced infrared absorption spectroscopy）
*SEM - 走査型電子顕微鏡（Scanning electron microscopy）
*SERS - 表面増強ラマン散乱（Surface enhanced Raman spectroscopy）
*SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱（Surface enhanced resonance Raman spectroscopy）
*SEXAFS - Surface-extended X-ray absorption fine structure（Surface extended X-ray absorption fine structure）
*SICM - Scanning ion-conductance microscopy（Scanning ion-conductance microscopy）
*SIL - ソリッドイマージョンレンズ（Solid immersion lens）
*SIM - ソリッドイマージョンミラー（Solid immersion mirror）
*SIMS - 二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry）
*SNMS - スパッタ中性粒子質量分析（Sputtered neutral species mass spectrometry）
*SNOM - 走査型近接場光顕微鏡（Scanning near-field optical microscopy）
*SPECT - 単一光子放射断層撮影（Single photon emission computed tomography）
*SPM - 走査型プローブ顕微鏡（Scanning probe microscopy）
*SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法（Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry）
*SSNMR - 固体核磁気共鳴（Solid-state nuclear magnetic resonance）
*Stark spectroscopy - シュタルク分光
*STED - 誘導放出抑制顕微鏡（Stimulated Emission Depletion microscopy）
*STEM - 走査型透過電子顕微鏡（Scanning transmission electron microscopy）
*STM - 走査型トンネル顕微鏡（Scanning tunneling microscopy）
*STS - 走査型トンネル分光法（Scanning tunneling spectroscopy）
*SXRD - Surface X-ray Diffraction (SXRD)（Surface X-ray Diffraction）

**T**
TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー（Thermoacoustic tomography）または熱音響コンピュータトモグラフィー（thermoacoustic computed tomography）、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
*TEM - 透過型電子顕微鏡（transmission electron microscopy）
*TGA - 熱重量分析（Thermogravimetric analysis）
*TIKA - Transmitting ion kinetic analysis
*TIMS - Thermal ionization mass spectrometry（Thermal ionization mass spectrometry）
*TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡（Total internal reflection fluorescence microscopy）
*TLS - 熱レンズ分光（Photothermal lens spectroscopy）、光熱分光の一種
*TMA - Thermomechanical analysis（Thermomechanical analysis）
*TOF-MS - 飛行時間型質量分析計（Time-of-flight mass spectrometry）
*Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡（Two-photon excitation microscopy）
*TXRF - 全反射蛍光X線（Total reflection X-ray fluorescence）

**U**
Ultrasound attenuation spectroscopy - Ultrasound attenuation spectroscopy
*Ultrasonic testing - 超音波探傷検査（Ultrasonic testing）
*UPS - 紫外光電子分光法（UV-photoelectron spectroscopy）
*USANS - 超小角中性子散乱（Ultra small-angle neutron scattering）
*USAXS - 超小角X線散乱（Ultra small-angle X-ray scattering
*UV-Vis - 紫外可視分光法（Ultraviolet-visible spectroscopy)

**V**
VEDIC - Video-enhanced differential interference contrast microscopy
*Voltammetry - ボルタンメトリー

**W**
WAXS  - Wide-angle X-ray scattering（Wide angle X-ray scattering）
*WDXまたはWDS - 波長分散型X線分光（Wavelength dispersive X-ray spectroscopy）

**X**
XAES - X線励起オージェ電子分光（X-ray induced Auger electron spectroscopy）
*XANES - X-ray absorption near edge structure（X-ray Absorption Near Edge Structure）
*XAS - X線吸収分光法（X-ray absorption spectroscopy）
*X-CTR - X-ray crystal truncation rod散乱（X-ray crystal truncation rod scattering）
*X-ray crystallography - X線結晶構造解析（X-ray crystallography）
*XDS - X線散漫散乱（X-ray diffuse scattering）
*XPEEM - X線光電子顕微鏡（X-ray photoelectron emission microscopy）
*XPS - X線光電子分光（X-ray photoelectron spectroscopy）
*XRD - X線回折（X-ray diffraction）
*XRES - X線共鳴交換散乱（X-ray resonant exchange scattering）
*XRF - 蛍光X線分析（X-ray fluorescence analysis）
*XRR - X-ray reflectivity（X-ray reflectivity）
*XRS - X-ray Raman scattering（X-ray Raman scattering）
*XSW - X-ray standing waves法（X-ray standing wave technique）

**参考文献**
cite book | author=Callister, WD | title=Materials Science and Engineering - An Introduction | publisher=John Wiley and Sons | location=London | year=2000 | isbn=0-471-32013-7
*cite book | editor=Yao, N | title=Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications | publisher=Cambridge University Press | location=Cambridge, UK | year=2007 | isbn=978-0-521-83199-4