[en] This project represents the continuation of the previous study about the analysis graphene optical and electronic properties over a wide frequency range: terahertz, near-infrared, visible band and near-ultraviolet. In this study we analyze new graphene variations compared to the samples studied in the previous project in order to examine the different physical magnitudes that are produced in a material when a single layer of graphene is transferred on its surface and thus provide a more detailed characterization of this material. Essentialy, in the current project has data processing methods has been improved, optimizing the analytical algorithms to be able to obtain, more efitiently, a large group of optoelectronic properties of any material, in a computational time dramatically lower, with a duration of approximately 3 seconds, when earlier it would took from 10 to 30 h. We present what is graphene and its various exceptional properties that presents this material, showing its structure and known properties. This project studied in detail this material using several measurement methods that allow us to perform a spectral characterization of at THz, near infrared, visible and near ultraviolet and subsequently, we perform a frequency analysis of some of the main electrical and optical properties of samples that contains graphene. We present a study and comparison of the obtained variations due to external factors such as the dopant type on graphene –p-doped and undoped–, a study about the different types of substrate onto which has been transferred and the number of layers of this material and the different methods of obtaining graphene. Graphene properties studies at THz frequencies has been performed with the THz-TDS method, that allows to analyze the optical and electrical properties of different samples of graphene, on various substrates, quickly and non-destructive, because it does not implement electric contacts that may cause defects in the structure of graphene. Given that the experimental device associated with this method was occasionally non-aligned, we had to perform an entire process of adjustment and calibration of the optical system and, as a result, we have obtained further improvements in data collection with an increase in the measured resolution with a useful signal amplification of 2.24 dB, and as a direct consequence, the frequency range of data valid was increased from 2 to 3 THz. Furthermore, we analyze the effect produced by transferring a graphene layer on a material surface carrying out an analysis of the overall optoelectronic properties of all the samples to determine the quality and the performance that would fit in today's market, compared to the most currently used materials in the production of optoelectronic devices.

[es] Este proyecto representa la continuación del estudio realizado anteriormente sobre el análisis de las propiedades ópticas y electrónicas que presenta el grafeno a frecuencias comprendidas en las bandas de los terahercios, el infrarrojo cercano, la banda visible y el ultravioleta cercano. En este estudio se analizan nuevas variaciones del grafeno respecto a las muestras estudiadas en el proyecto anterior con el objetivo de examinar las diferentes magnitudes físicas que se producen en un material cuando se deposita una monocapa de grafeno sobre su superficie y así proporcionar una caracterización más detallada de este material. Esencialmente, en el proyecto actual se ha mejorado los métodos de procesado de datos, optimizando los algoritmos analíticos para ser capaces de obtener, de forma mucho más eficiente, un gran conjunto de propiedades optoelectrónicas de un material cualquiera, en un tiempo computacional drásticamente inferior, con una duración de aproximadamente 3 segundos, cuando anteriormente podía llegar a tardar entre 10 y 30 h. Se presenta qué es el grafeno y las diversas propiedades excepcionales que presenta este material, presentando su estructura y sus propiedades ya conocidas. Este proyecto estudia con detalle este material utilizando varios métodos de medida que permiten realizar una caracterización espectral a frecuencias de los terahercios, infrarrojo cercano, visible y ultravioleta cercano y posteriormente se realiza un estudio frecuencial de algunas de las principales propiedades ópticas y eléctricas de las muestras que presentan grafeno. Se elabora un estudio y comparación de las variaciones que se obtienen debido a factores externos, como el tipo de dopante utilizado sobre el grafeno –dopado tipo-p y sin dopar–, los diferentes tipos de sustrato sobre el cual se ha transferido, el número de capas que presenta este material y los diferentes métodos de obtención del grafeno. El estudio de las propiedades del grafeno a las frecuencias de THz se ha realizado con el método THz-TDS, el cual permite analizar las propiedades ópticas y eléctricas de las diferentes muestras de grafeno, sobre diferentes sustratos, de una forma muy inmediata y no destructiva, dado que no implementa contactos eléctricos que puedan ocasionar defectos en la estructura del grafeno. Dado que el dispositivo experimental asociado con este método quedó ocasionalmente no-alineado, se ha tenido que realizar todo un proceso de ajuste y calibrado del sistema óptico con el que se han obtenido nuevas mejoras en la obtención de datos, consiguiendo un incremento en la resolución con una amplificación del señal útil medido de 2.24 dB, y como consecuencia directa, se ha llegado a incrementar el rango frecuencial donde los datos son válidos, incrementando la cota superior de 2 THz a 3 THz. Además, se estudia el efecto que se produce al transferir una capa de grafeno sobre la superficie de un material realizando un análisis de las propiedades optoelectrónicas del conjunto de las muestras para determinar la calidad y las prestaciones que tendrían el mercado actual, comparándolo con los materiales más utilizados actualmente en la elaboración de dispositivos optoelectrónicos.